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本發(fā)明涉及一種測試系統(tǒng)以及測試方法。該測試方法包括有：待測電子設(shè)備控制測試環(huán)境穩(wěn)定在第一測試環(huán)境；啟動(dòng)該待測電子設(shè)備的性能測試并獲得第一測試數(shù)據(jù)；判斷該待測電子設(shè)備是否需要改變測試環(huán)境，當(dāng)該待測電子設(shè)備需要改變測試環(huán)境時(shí)，執(zhí)行下一步驟，當(dāng)該...該專利屬于富泰華工業(yè)（深圳）有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過富泰華工業(yè)（深圳）有限公司;鴻海精密工業(yè)股份有限公司授權(quán)不得商用。