本發(fā)明專利技術(shù)涉及一種測試系統(tǒng)以及測試方法。該測試方法包括有：待測電子設(shè)備控制測試環(huán)境穩(wěn)定在第一測試環(huán)境；啟動該待測電子設(shè)備的性能測試并獲得第一測試數(shù)據(jù)；判斷該待測電子設(shè)備是否需要改變測試環(huán)境，當(dāng)該待測電子設(shè)備需要改變測試環(huán)境時(shí)，執(zhí)行下一步驟，當(dāng)該待測電子設(shè)備不需要改變測試環(huán)境時(shí)，繼續(xù)執(zhí)行提供穩(wěn)定測試環(huán)境的步驟；該待測電子設(shè)備控制該測試環(huán)境穩(wěn)定設(shè)備穩(wěn)定在第二測試環(huán)境；啟動該待測電子設(shè)備的性能測試并獲得第二測試數(shù)據(jù)。
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及一種測試系統(tǒng)以及測試方法，尤其涉及一種在穩(wěn)定的測試環(huán)境對電子設(shè)備的性能進(jìn)行測試的系統(tǒng)以及測試方法。
技術(shù)介紹
一般的電子設(shè)備在制作完成之后均需要對其性能進(jìn)行測試，為了保證測試的準(zhǔn)確性，通常會使得電子設(shè)備在測試過程中所處的環(huán)境穩(wěn)定，并且電子設(shè)備還需要在不同的穩(wěn)定的測試環(huán)境中進(jìn)行測試。然而，當(dāng)需要改變測試環(huán)境時(shí)，均需要人為地對測試環(huán)境進(jìn)行調(diào)節(jié)以及改變，而無法自動地依據(jù)待測試的電子設(shè)備的需求自動地更改其測試環(huán)境
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
有鑒于此，為解決現(xiàn)有技術(shù)中待測試的電子設(shè)備所處的測試環(huán)境無法自動地隨著待測的電子設(shè)備需求進(jìn)行改變，提供一種可以依據(jù)待測的電子設(shè)備的需求對其所處的測試環(huán)境自動進(jìn)行改變的測試系統(tǒng)以及測試方法。一種測試系統(tǒng)，該測試系統(tǒng)包括一待測電子設(shè)備與一測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備，該測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備用于為該待測電子設(shè)備提供一穩(wěn)定的測試環(huán)境。該待測電子設(shè)備包括一第一處理單元與一第一通信單元，該第一處理單元通過該第一通信單元發(fā)送一控制信息至該測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備，以控制該測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備為該待測電子設(shè)備提供不同的穩(wěn)定的測試環(huán)境。一種測試方法，包括以下步驟 提供穩(wěn)定測試環(huán)境步驟待測電子設(shè)備控制測試環(huán)境穩(wěn)定在第一測試環(huán)境； 測試步驟啟動該待測電子設(shè)備的性能測試并獲得第一測試數(shù)據(jù)； 判斷步驟判斷該待測電子設(shè)備是否需要改變測試環(huán)境，當(dāng)該待測電子設(shè)備需要改變測試環(huán)境時(shí)，執(zhí)行下一步驟，當(dāng)該待測電子設(shè)備不需要改變測試環(huán)境時(shí)，繼續(xù)執(zhí)行提供穩(wěn)定測試環(huán)境的步驟； 改變測試環(huán)境步驟該待測電子設(shè)備控制該測試環(huán)境穩(wěn)定設(shè)備穩(wěn)定在第二測試環(huán)境； 測試步驟啟動該待測電子設(shè)備的性能測試并獲得第二測試數(shù)據(jù)。相較于現(xiàn)有技術(shù)，該待測的電子設(shè)備依據(jù)其需求而對應(yīng)地將其所需的測試環(huán)境的信息發(fā)送至一測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備，從而控制該測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備調(diào)節(jié)該待測的電子設(shè)備所處的測試環(huán)境。因此，在整個(gè)測試過程中，該待測電子設(shè)備可以自動地調(diào)節(jié)其所處的測試環(huán)境，而無需外界其他輔助，例如人為調(diào)節(jié)等。附圖說明圖I為本專利技術(shù)一實(shí)施方式中測試方法的流程圖。圖2為本專利技術(shù)一實(shí)施方式中采用該測試方法的測試系統(tǒng)的測試示意圖。圖3為本專利技術(shù)一實(shí)施方式中待測電子設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。圖4為本專利技術(shù)一實(shí)施方式中測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備的結(jié)構(gòu)示意圖。主要元件符號說明 測試系統(tǒng)10 待測電子設(shè)備100 測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備200 第一通信單元110 第一處理單元130 第一測試單元150 第二測試單元151 計(jì)時(shí)單元170 第二通信單元210 第二處理單元230 模數(shù)/數(shù)模轉(zhuǎn)換單元220 測試環(huán)境檢測單元240執(zhí)行單元250 編碼/解碼單元260步驟S10 S50如下具體實(shí)施方式將結(jié)合上述附圖進(jìn)一步說明本專利技術(shù)。具體實(shí)施例方式以下結(jié)合附圖對本專利技術(shù)的較佳的實(shí)施方式進(jìn)行詳細(xì)描述。請參閱圖1，其為本專利技術(shù)一實(shí)施方式中測試方法的流程圖。需要首先說明的是，在電子設(shè)備在測試過程中為獲得準(zhǔn)確的測試數(shù)據(jù)，例如電子設(shè)備內(nèi)部元件或者表面元件在工作過程中的溫度變化、內(nèi)部元件的運(yùn)行情況等，其通常需要一個(gè)穩(wěn)定的測試環(huán)境，例如溫度、濕度、壓力以及環(huán)境中固體顆粒的密度等參數(shù)均需要保持穩(wěn)定。另外，電子設(shè)備的測試通常還需要在不同的測試環(huán)境下進(jìn)行，進(jìn)而使得測試數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確。在本實(shí)施方式中，定義被測試的電子設(shè)備為待測電子設(shè)備，該待測電子設(shè)備可以是手機(jī)、音頻/視頻播放設(shè)備、電腦等，本實(shí)施方式該待測電子設(shè)備以手機(jī)為例進(jìn)行說明，維持該待測電子設(shè)備所處的測試環(huán)境的設(shè)備為測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備。該測試方法以測試環(huán)境的溫度為例進(jìn)行說明，對應(yīng)地，該測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備可以采用一恒溫箱來實(shí)現(xiàn)。當(dāng)待測電子設(shè)備接收到外部的啟動測試信號后，該測試方法依序包括有 步驟S10，控制該測試環(huán)境穩(wěn)定設(shè)備提供穩(wěn)定的第一測試環(huán)境，該步驟是由待測電子設(shè)備來實(shí)現(xiàn)的。待測電子設(shè)備輸出一控制信息至該測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備，以控制該測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備為該待測電子設(shè)備提供的測試環(huán)境穩(wěn)定在第一測試環(huán)境。例如，使得待測電子設(shè)備所處的第一測試環(huán)境為25°C。具體地，待測電子設(shè)備首先獲知其測試所需要的測試環(huán)境溫度為25°C，待測電子設(shè)備則輸出一控制信息至該測試環(huán)境穩(wěn)定設(shè)備。該控制信息包括有該測試環(huán)境溫度為25°C的信息。該測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備接收到該控制信息后，依據(jù)該控制信息調(diào)節(jié)該待測電子設(shè)備所處的測試環(huán)境的環(huán)境溫度，并且使得該環(huán)境溫度為25°C。該待測電子設(shè)備與該測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備可以通過藍(lán)牙、紅外、USB、Wi-Fi、局域網(wǎng)或者廣域網(wǎng)傳輸媒介進(jìn)行數(shù)據(jù)交換。優(yōu)選地，該步驟還包括一解碼的步驟。將待測電子設(shè)備輸出的控制信息進(jìn)行解碼，以從該控制信息獲取該第一測試環(huán)境的信息。優(yōu)選地，該步驟還包括一測試環(huán)境調(diào)節(jié)的步驟。當(dāng)控制該測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備使待測電子設(shè)備所處的環(huán)境溫度為第一測試環(huán)境，為使得第一測試環(huán)境穩(wěn)定，還需要對該第一測試環(huán)境進(jìn)行調(diào)節(jié)。首先，采集測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備內(nèi)的測試環(huán)境信息，例如測試環(huán)境的溫度，并且將該測試環(huán)境的溫度進(jìn)行轉(zhuǎn)換，并且將經(jīng)過轉(zhuǎn)換后的數(shù)據(jù)與第一測試環(huán)境進(jìn)行比較運(yùn)算， 并且依據(jù)比較結(jié)果進(jìn)一步調(diào)節(jié)測試環(huán)境，如調(diào)節(jié)溫度。例如，此時(shí)測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備內(nèi)的溫度為24. 5°C，而此時(shí)第一測試環(huán)境為25°C，則將測試環(huán)境的信息24. 5°C與第一測試環(huán)境25°C進(jìn)行比較運(yùn)算24. 5-25=-0. 5，從而依據(jù)比較結(jié)果-O. 5將第一測試環(huán)境的溫度上調(diào)O. 5度。步驟S20，啟動測試該待測電子設(shè)備的性能并獲得第一測試數(shù)據(jù)，該步驟是由該待測電子設(shè)備來實(shí)現(xiàn)的。測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備穩(wěn)定使得該測試環(huán)境穩(wěn)定在第一測試環(huán)境后，該測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備輸出一環(huán)境穩(wěn)定信號至該待測電子設(shè)備。該待測電子設(shè)備接收該環(huán)境穩(wěn)定信號，啟動測試該待測電子設(shè)備的性能，并且獲得第一測試數(shù)據(jù)。進(jìn)一步，該待測電子設(shè)備將該第一測試數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲、處理以及顯示。優(yōu)選地，對該待測電子設(shè)備內(nèi)部元件在工作工程中的性能進(jìn)行測試。在本實(shí)施方式中，對該待測電子設(shè)備內(nèi)部元件在工作過程的溫度進(jìn)行測試，并且獲得測試數(shù)據(jù)，即以該內(nèi)部元件在工作過程中的溫度作為代表該待測電子設(shè)備的性能。另外，利用外部設(shè)備在該待測電子設(shè)備的控制下對該待測電子設(shè)備外部表面的性能進(jìn)行測試。在本實(shí)施方式中，對該待測電子設(shè)備外部表面在工作過程中的溫度進(jìn)行測試，從而更加準(zhǔn)確地獲得待測電子設(shè)備的性能。進(jìn)一步，將獲得的待測電子設(shè)備內(nèi)部元件以及外部表面的溫度測試數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲、處理以及顯示。優(yōu)選地，該步驟還包括一編碼的步驟。將該測試環(huán)境穩(wěn)定設(shè)備輸出的環(huán)境穩(wěn)定信號進(jìn)行編碼，并且將編碼后的信息輸出至該待測電子設(shè)備。S30，判斷是否需要改變測試環(huán)境，該步驟是由待測電子設(shè)備來實(shí)現(xiàn)的。具體地，待測電子設(shè)備判斷其是否需要改變測試環(huán)境，若該待測電子設(shè)備需要改變測試環(huán)境，則繼續(xù)執(zhí)行步驟S40 ;若該待測電子設(shè)備不需要改變測試環(huán)境，則繼續(xù)執(zhí)行步驟 SlO。例如，對待測電子設(shè)備在第一測試環(huán)境中的測試時(shí)間進(jìn)行計(jì)時(shí)，當(dāng)計(jì)時(shí)時(shí)間達(dá)到一預(yù)定時(shí)間時(shí)，則認(rèn)為待測電子設(shè)備已經(jīng)完成在第一測試環(huán)境中的測試，需要改變測試環(huán)境，當(dāng)然，若計(jì)時(shí)時(shí)間還未達(dá)到預(yù)定時(shí)間，則認(rèn)為待測電子設(shè)備需要在第一測試環(huán)境中繼續(xù)測試。該預(yù)定時(shí)間可以依據(jù)實(shí)際情況而定，例如I小時(shí)或者2小時(shí)，并不以此為限。S40，控制該測試環(huán)境穩(wěn)定設(shè)本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種測試系統(tǒng)，該測試系統(tǒng)包括一待測電子設(shè)備與一測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備，該測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備用于為該待測電子設(shè)備提供一穩(wěn)定的測試環(huán)境，其特征在于，該待測電子設(shè)備包括一第一處理單元與一第一通信單元，該第一處理單元通過該第一通信單元發(fā)送一控制信息至該測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備，以控制該測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備為該待測電子設(shè)備提供不同的穩(wěn)定的測試環(huán)境。
【技術(shù)特征摘要】
1.一種測試系統(tǒng)，該測試系統(tǒng)包括一待測電子設(shè)備與一測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備，該測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備用于為該待測電子設(shè)備提供一穩(wěn)定的測試環(huán)境，其特征在于，該待測電子設(shè)備包括一第一處理單元與一第一通信單元，該第一處理單元通過該第一通信單元發(fā)送一控制信息至該測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備，以控制該測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備為該待測電子設(shè)備提供不同的穩(wěn)定的測試環(huán)境。2.根據(jù)權(quán)利要求I所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，該待測電子設(shè)備還包括一測試單元，該測試單元用于測試該待測電子設(shè)備的性能，當(dāng)該待測電子設(shè)備控制該環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備穩(wěn)定測試環(huán)境后啟動該測試單元開始測試。3.根據(jù)權(quán)利要2所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，該測試單元包括一第一測試單元，該第一測試單元用于測試該待測電子設(shè)備內(nèi)部的性能，并且該第一測試單元用于測試該待測電子設(shè)備內(nèi)部元件在工作過程中的溫度數(shù)據(jù)。4.根據(jù)權(quán)利要求2所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，該測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備包括一第二處理單元、一第二通信單元以及一執(zhí)行單元，該第二通信單元用于接收該控制信息，并且將該控制信息輸出至該第二處理單元，該第二處理單元依據(jù)該控制信息獲取待測電子設(shè)備所需的測試環(huán)境并且控制該執(zhí)行單元啟動，為該待測電子設(shè)備提供所需的不同的測試環(huán)境，并且該測當(dāng)該測試環(huán)境穩(wěn)定后該第二處理單元輸出一環(huán)境穩(wěn)定信號至該待測電子設(shè)備。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的測試系統(tǒng)，其特征在于，該測試環(huán)境穩(wěn)定調(diào)節(jié)設(shè)備為一恒溫箱，該恒溫箱在該待測電子設(shè)備的控制下為該待測電子設(shè)備提供不同溫度的測試環(huán)境。6.一種測試方法，其特征在于，包括以下步驟 提供穩(wěn)定測試環(huán)境步...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：羅文東，王文武，莊宗仁，翁世芳，劉彬，
申請(專利權(quán))人：富泰華工業(yè)深圳有限公司，鴻海精密工業(yè)股份有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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