溫馨提示：您尚未登錄，請點 登陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。
本發明涉及一種基于探針的磁傳感器測試方法及其系統，其中基于探針的磁傳感器測試方法，包括以下步驟：根據待測磁傳感器的電路制作包括探針的探針卡，將待測磁傳感器放置在測試臺上；在X軸上設置至少一個磁線圈，通過控制所述磁線圈的電流大小和方向，來控制...該專利屬于美新半導體（無錫）有限公司所有，僅供學習研究參考，未經過美新半導體（無錫）有限公司授權不得商用。
溫馨提示：您尚未登錄，請點 登陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。
本發明涉及一種基于探針的磁傳感器測試方法及其系統，其中基于探針的磁傳感器測試方法，包括以下步驟：根據待測磁傳感器的電路制作包括探針的探針卡，將待測磁傳感器放置在測試臺上；在X軸上設置至少一個磁線圈，通過控制所述磁線圈的電流大小和方向，來控制...