基于探針的磁傳感器測試方法及其系統技術方案

本發明專利技術涉及一種基于探針的磁傳感器測試方法及其系統，其中基于探針的磁傳感器測試方法，包括以下步驟：根據待測磁傳感器的電路制作包括探針的探針卡，將待測磁傳感器放置在測試臺上；在X軸上設置至少一個磁線圈，通過控制所述磁線圈的電流大小和方向，來控制所述測試臺X軸上的磁場方向及磁場強度；根據待測磁傳感器的輸出，計算出待測磁傳感器X軸的偏置輸出和/或靈敏度；通過電機控制所述探針與測試臺上待測磁傳感器的接觸，直至測試臺上待測磁傳感器全部測試完畢。本發明專利技術涉及的基于探針的磁傳感器測試方法及其系統，大大提高測試密度及測試效率，使得磁傳感器的測試更具靈活性，且有效降低測試成本，有利于磁傳感器的大規模生產和應用。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及ー種磁傳感器的測試方法及其系統，尤其涉及ー種基于探針的磁傳感器測試方法及其系統。
技術介紹
隨著消費類電子功能的日益擴展，傳感器的應用逐步普及，并且磁傳感器已經成為ー些手持類電子產品的標配。由于磁傳感器的特殊性，一般的生產商都采用特制的測試系統進行生產、測試。這樣不僅大大提高了磁傳感器的成本，而且不利于磁傳感器的推廣與運用。目前，為了測試磁傳感器，需要制作一個安裝磁傳感器的測試夾具(socket)。通 常的做法是，把三十ニ個測試夾具做成一塊測試板，將該測試板固定在一個轉動的平臺上，通過伺服電機控制平臺轉動，從而控制測試板轉動到與地球磁場合適的位置，進而實現對磁傳感器的信號量的測試。這種測試方法需要控制平臺來回轉動若干個位置以便找到與地球磁場合適的位置，測試時間比較長，而且測試精度、測試穩定性均受到測試夾具的精度和整個動態系統的影響；另外，毎次測試都需要一個個把磁傳感器從測試夾具里放入、取出，測試效率低，再加上機器自動裝卸的不便，導致需要更多的人工操作，由此人工錯誤相應更多，嚴重制約測試的品質。因此，確有必要提供一種新的磁傳感器測試方法及其系統來克服現有技術中的種種缺陷。
技術實現思路
本專利技術所要解決的技術問題是，克服現有磁傳感器測試方法及其系統效率低、穩定性差、成本高的缺陷。本專利技術提供一種基于探針的磁傳感器測試方法及其系統，其利用探針實現磁傳感器的測試，改變了傳統測試需要測試夾具的限制，大大提高測試效率，并有效降低測試成本，有利于磁傳感器的大規模生產和應用。為了解決上述技術問題，本專利技術所提出的技術方案是一種基于探針的磁傳感器測試方法，其包括以下步驟根據待測磁傳感器的電路制作包括探針的探針卡，將待測磁傳感器放置在測試臺上；在X軸上設置至少ー個磁線圈，通過控制所述磁線圈的電流大小和方向，來控制所述測試臺X軸上的磁場方向及磁場強度；根據待測磁傳感器的輸出，計算出待測磁傳感器X軸的偏置輸出和/或靈敏度；通過電機控制所述探針與測試臺上待測磁傳感器的接觸，直至測試臺上待測磁傳感器全部測試完畢。進ー步的，在不同實施方式中，本專利技術涉及的基于探針的磁傳感器測試方法，還可以應用于測試多軸磁傳感器，例如，兩軸磁傳感器、三軸磁傳感器。進ー步的，在一個測試兩軸磁傳感器的實施方式中，本專利技術涉及的基于探針的磁傳感器測試方法，其包括以下步驟根據待測磁傳感器的電路制作包括探針的探針卡，將待測磁傳感器放置在測試臺上；在X、Y軸上分別設置至少ー個磁線圈，通過控制X、Y軸磁線圈的電流大小和方向，來控制所述測試臺X、Y軸上的磁場方向及磁場強度；根據待測磁傳感器的輸出，計算出待測磁傳感器X、Y軸的偏置輸出和/或靈敏度；通過電機控制所述探針與測試臺上待測磁傳感器的接觸，直至測試臺上待測磁傳感器全部測試完畢。進ー步的，在一個測試三軸磁傳感器的實施方式中，本專利技術涉及的基于探針的磁 傳感器測試方法，其包括以下步驟根據待測磁傳感器的電路制作包括探針的探針卡，將待測磁傳感器放置在測試臺上；在X、Y、Z軸上分別設置至少ー個磁線圈，通過控制X、Y、Z軸磁線圈的電流大小和方向，來控制所述測試臺X、Y、Z軸上的磁場方向及磁場強度；根據待測磁傳感器的輸出，計算出待測磁傳感器X、Y、Z軸的偏置輸出和/或靈敏度；通過電機控制所述探針與測試臺上待測磁傳感器的接觸，直至測試臺上待測磁傳感器全部測試完畢。其中，在不同實施方式中，通過控制X、Y或Z軸磁線圈的電流大小和方向來控制所述測試臺X、Y或Z軸上的磁場方向及磁場強度的步驟，具體為改變通過X軸(或Y軸，或Z軸)磁線圈的電流大小，在待測磁傳感器周圍產生沿X軸(或Y軸，或Z軸)正方向的預定磁場強度的磁場，此時待測磁傳感器的輸出為Xl (或Y1，或 Zl)；改變通過X軸(或Y軸，或Z軸)磁線圈的電流方向，在待測磁傳感器周圍產生沿X軸(或Y軸，或Z軸)反方向的磁場；改變通過X軸(或Y軸，或Z軸)磁線圈的電流大小，在待測磁傳感器周圍產生沿X軸(或Y軸，或Z軸)反方向的預定磁場強度的磁場，此時待測磁傳感器的輸出為X2(或Y2，或 Z2)。進ー步的，本專利技術涉及的測試方法中，所涉及使用的計算磁傳感器各軸偏置輸出的公式為X偏置輸出=(Xl+X2)/2 ;Y偏置輸出=(Yl+Y2)/2 ;以及Z偏置輸出=(Zl+Z2)/2。進ー步的，本專利技術涉及的測試方法中，所涉及使用的計算磁傳感器各軸靈敏度的公式為X靈敏度=(Xl-X2)/2/該位置X補償系數；Y靈敏度=(Yl-Y2)/2/該位置Y補償系數；以及Z靈敏度=(Zl-Z2)/2/該位置Z補償系數。進ー步的，在不同實施方式中，其中待測磁傳感器陣列排布在所述測試臺上，毎次在測試臺上陣列排布的所有待測磁傳感器測試完畢之后，生成陣列圖。進ー步的，本專利技術的又ー個方面還提供了ー種基于探針的磁傳感器測試系統，其可操作實施本專利技術涉及的基于探針的磁傳感器測試方法。其所使用的技術方案為ー種基于探針的磁傳感器測試系統包括測試臺，待測磁傳感器放置在所述測試臺上，所述測試臺可通過電機控制移動；包括探針的探針卡，所述探針卡根據待測磁傳感器的電路制作而成，通過電機控制探針卡移動進而控制探針與測試臺上的待測磁傳感器接觸；位于X軸上的至少ー個磁線圈,通過控制所述磁線圈的電流大小和方向，來控制所述測試臺X軸上的磁場方向及磁場強度；和數據處理裝置，根據待測磁傳感器的輸出，計算出待測磁傳感器X軸的偏置輸出和/或靈敏度。 進ー步的，在不同實施方式中，其還包括位于Y軸上的至少ー個磁線圈，通過控制所述磁線圈的電流大小和方向，來控制所述測試臺Y軸上的磁場方向及磁場強度。進ー步的，在不同實施方式中，其還包括位于Z軸上的至少ー個磁線圈，通過控制所述磁線圈的電流大小和方向，來控制所述測試臺Z軸上的磁場方向及磁場強度。與現有技術相比，本專利技術的有益效果是本專利技術涉及的基于探針的磁傳感器測試方法及其系統，其利用探針實現對單軸或多軸磁傳感器的測試，改變了傳統測試需要測試夾具的限制，使得磁傳感器的測試更具靈活性，大大提高測試密度及測試效率，使得磁傳感器的測試更具靈活性，且有效降低測試成本，有利于磁傳感器的大規模生產和應用。附圖說明圖I為本專利技術涉及的基于探針的磁傳感器測試方法及其系統中涉及的探針卡和探針的不意圖；和圖2為本專利技術涉及的基于探針的磁傳感器測試方法及其系統的實施方式的示意圖。具體實施例方式下面結合附圖詳細說明本專利技術的具體實施方式。在一個本專利技術涉及的基于探針的磁傳感器測試方法的實施方式中，待測磁傳感器為三軸磁傳感器。請參閱圖1，，首先，根據待測三軸磁傳感器I的電路，制作包括探針2的探針卡21，探針卡21安裝于探針臺(未顯示)，其中，探針2、探針卡21和探針臺，皆可以是業界已知的探針、探針卡和探針臺。再將待測三軸磁傳感器I按照預定的陣列排布在測試臺11上，如圖I所示，本實施方式中的待測三軸磁傳感器陣列10。然后，模擬地球磁場在X、Y、Z軸上分別制作三組磁線圈31，32，33，如圖2所示，在本實施方式中，每組磁線圈分別有兩個磁線圈，也即X、Y、Z軸每個軸有兩個磁線圏。通過控制X、Y、Z軸磁線圈31，32，33的電流大小和方向，來控制測試臺11在X、Y、Z軸上的磁場方向及磁場強度，具體包括以下步驟改變通過X、Y、Z軸磁線圈的電流大小，在待測本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種基于探針的磁傳感器測試方法，其特征在于：其包括以下步驟：根據待測磁傳感器的電路制作包括探針的探針卡，將待測磁傳感器放置在測試臺上；在X軸上設置至少一個磁線圈，通過控制所述磁線圈的電流大小和方向，來控制所述測試臺X軸上的磁場方向及磁場強度；根據待測磁傳感器的輸出，計算出待測磁傳感器X軸的偏置輸出和/或靈敏度；通過電機控制所述探針與測試臺上待測磁傳感器的接觸，直至測試臺上待測磁傳感器全部測試完畢。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：劉海東，顧浩琦，丁雪龍，
申請(專利權)人：美新半導體無錫有限公司，
類型：發明
國別省市：