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本發明提供了一種集成電路測試方法，包括設計指標參數確定、電路圖輸入、前仿真、版圖設計、版圖驗證&寄生參數提取、后仿真、流片，其特征在于，前仿真和后仿真使用晶體管級SPICE網表，該晶體管級SPICE網表能轉換為自動測試平臺所需文件。本發明的...
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