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本實用新型公開一種測試機臺，用以對一芯片進行測試，該測試機臺包括：一基座、一支撐架、一可動平臺、一屏蔽裝置及一臺座單元。支撐架設置于基座上。可動平臺通過支撐架位移。一屏蔽裝置包括：一第一殼體以及一第二殼體。第一殼體設置于基座上，且第二殼體設...
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