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本發(fā)明涉及集成電路技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種基于CML邏輯的相位檢測器，包括相互連接的采樣模塊和比較模塊，所述采樣模塊包括由CML鎖存器組成的多條采樣支路，用于對輸入的數(shù)據(jù)信號(hào)進(jìn)行采樣，所述比較模塊用于比較所述多條采樣支路的采樣數(shù)據(jù)，得到相位比較...該專利屬于北京大學(xué)所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過北京大學(xué)授權(quán)不得商用。