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本發(fā)明涉及低硬度物體厚度測量工具，它包括測量平臺、基座和厚度測量儀；所述測量平臺上表面固設(shè)有基座，測量平臺上表面還設(shè)有基準探頭，所述基座上表面垂設(shè)有滑軌，所述厚度測量儀滑配合設(shè)置于滑軌上；本發(fā)明在對低硬度物體測量時，根據(jù)待測物體的硬度設(shè)定夾...該專利屬于深圳匯潔集團股份有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過深圳匯潔集團股份有限公司授權(quán)不得商用。