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公開了一種包括形成多條管線的多個管線互連集成電路管芯的晶片。每條管線中的多個管芯連接以接收來自管線中的相鄰管芯的掃描輸出檢測數據。位于多個管線互連IC管芯外的晶片級檢測通路機構（TAM）收發機電路系統共用地連接至各條管線以并行地提供輸入檢測...
該專利屬于超威半導體公司所有，僅供學習研究參考，未經過超威半導體公司授權不得商用。

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