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本發明揭露一種藉由在高速下測試與分類電光裝置(52)的電性與光學特性兩者的改良方法與裝置。電光裝置(52),尤其是發光二極管,其藉由單一化裝置(14)被單一化并且被傳送到線性軌道(12),它們在此處測試(20)電性與光學特性。該些裝置隨后依...該專利屬于伊雷克托科學工業股份有限公司所有,僅供學習研究參考,未經過伊雷克托科學工業股份有限公司授權不得商用。
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本發明揭露一種藉由在高速下測試與分類電光裝置(52)的電性與光學特性兩者的改良方法與裝置。電光裝置(52),尤其是發光二極管,其藉由單一化裝置(14)被單一化并且被傳送到線性軌道(12),它們在此處測試(20)電性與光學特性。該些裝置隨后依...