本發明專利技術揭露一種藉由在高速下測試與分類電光裝置(52)的電性與光學特性兩者的改良方法與裝置。電光裝置(52)，尤其是發光二極管，其藉由單一化裝置(14)被單一化并且被傳送到線性軌道(12)，它們在此處測試(20)電性與光學特性。該些裝置隨后依據測試特性被分類(26)到很多不同的箱子(24)內。
【技術實現步驟摘要】
【國外來華專利技術】
本專利技術關注用于測試與分類小型電子裝置的系統與方法。尤其是，它關注用于測試發光二極管(LED)的電性與光學特性的系統與方法。更特別地，它關注用于以高速來測試LED電性與光學特性并且根據那些特性將它們分類到許多范疇內的一種系統與方法。
技術介紹
在自動測試系統的制造期間內，可將許多電子裝置的電性與光學特性測試。典型的自動測試系統使用精密的電性或光學測試設備，來發現與一裝置的電性或光學特性有關的數值，并且依據該測量值來接受、拒絕或將它分類到一輸出范疇。就小型裝置而言，自動測試系統通常被設計來處理塊狀負載，在此，該制造制程會產生大量的裝置，其具有實質相等的機械特征，譬如尺寸與形狀，但電性與光學特征卻不同。將具有一般在一范圍內的電性 與光學特性的大量裝置建立并且依據測試將該些裝置分類到具有類似特征的商業上有用的群組，其為可共同實行的。這些裝置通常被供應到測試設備，如充填裝置的容器?；旧?，該測試裝置必須從塊狀負載的裝置提取出單一裝置，將該裝置定位，并且將它固定，如此該測試設備則可進行希望的測試。測試通常需要探測該裝置，其中電引線會被引領接觸裝置，以允許信號與功率被施加到該裝置，并且監測到該些輸入的反應。其他測試包含應特殊輸入來測試來自譬如LED的光學裝置的光線輸出。自動測試系統的任務是為決定裝置的電性或光學特征，并且依據那些特征將該些裝置分類成組。測試與分類LED特別具挑戰性，其因為制造容差上的廣泛變化以及人眼對光線輸出小變化的靈敏度會結合，以要求LED被測試并被分類為很多輸出群組。當被動電子裝置基本上要求五或十個輸出范疇的同時，LED基本上則要求超過32個輸出范疇，多達512個范疇之多。與測試以及分類LED有關的其他挑戰，包括LED必須使它們的光線輸出被測試的事實。因為LED在該封裝的一側上具有接點，且在另一側具有發光表面，所以該測試設備必須從一側探測，并從另一側收集光線輸出。另一個挑戰則是，光線輸出測試設備在物理上經常很大且必須在測試時相鄰LED，其是會使測試設備的物理布局受限。此外，假如欲進行平行測試的話，在此，復數個測試臺會被排列以同時測試復數個裝置，而復數個大型光學測試臺的空間則必須被排列。轉動饋線(feeder)被認為是一種裝載與定位小部件的有效方法。2001年4月24日所提出、專利技術人為Masayuki Miyamoto的美國專利申請案第6，220，481號芯片組件用的分離饋線(feeder)，其使用一種轉動帶槽圓盤以將部件定位與裝載入維持部件定位的槽穴內。2006 年 10 月 11 日所提出、專利技術人為 Tomoyuki Kojima、Hiroaki Abe、ShigeruMatsukawa、Takahiko Iwazaki 與 Takayuki Yamauchi 的美國專利申請案第 7，119, 299 號工作檢測系統，其說明一種具有垂直轉動圓盤以將藉由重力傳送到圓盤表面的部件定位與固持的系統。1998 年 12 月 I 日所提出、專利技術人為 Douglas J. Garcia、Steven D. Swendrowski>Mitsuaki Tani、Hsang Wang、Martin J. Twite III、Malcolm Hawkes> Evart DavidShealey、Martin S. VoshelI、Jeffrey L. Fish 與 Vernon P. Cooke 的美國專利申請案第5，842，579號電路組件處理器，被受讓給本專利技術受讓者，其揭露具有能夠一次測試復數個部件的復數個軌道的轉動圓盤測試機構。1988年5月31日所提出、專利技術人為Jakob Herrman的美國專利申請案第4，747，479號用于小組件部件的測試與/或加工的裝置，其是揭露在測試時固持部件的線性帶。這些揭露并沒有考慮到測試LED位于設備上的特定需求，其包括無障礙固定物的需要、很多輸出接腳與固持大型與塊狀光學測試設備的需求。特別是，令人希望的是依據電性與/或光學特性，將譬如單一化LED的電光裝置分類成數組。被設計來進行此些分類的一種系統，是為日本東京E-Globaledge公司所制造的LED芯片亮度/波長分類器模塊ALPHA3200/3200F。此系統同時測量LED芯片的亮度與波長輸出，并且將它們分類為最大32個的軌道。它在O. 8秒內進行光學測試，同時沒有進行任何電性測試。假定進行往返測試臺的LED定位的上頭因子為50%的話，這將產生每小時大約3000單元(UPH)的系統產量。令人希望的是能夠以相同系統來測試LED電性與光學特性兩者，以節省測試設備的開銷與地板空間。同樣令人希望的是能夠以非常更高速率來測試與分類LED，以便將測試與分類已知生產數量LED所需要的系統數目最小化。此外，令人希望的是能夠將被測試的LED分類為超過32種不同的范疇。 隨后需要的是一種LED測試與分類系統，其是可測試LED的電性與光學特性兩者、以高速來測試與分類它們、并且在測試以后將它們分類為超過32種不同的范疇。
技術實現思路
本專利技術態樣提供一種使用自動測試系統依據電性與光學特性來分類電光裝置的改良方法。該改良情形包括以轉動單一化裝置來單一化該電光裝置；將該單一化電光裝置傳送到線性軌道上；當該線性軌道將該電光組件定位為鄰近該第一測試臺時，測量在第一測試臺上該電光裝置的電性特性；將該電性特性測量情形儲存在該控制器上；當該線性軌道將該電光裝置定位為鄰近該第二測試臺時，測量在第二測試臺上的該電光裝置的光學特性；將該光學特性測量情形儲存在該控制器上。該改良情形進一步包括將電光裝置分類，其藉由當該線性軌道以高速率來定位時，在鄰近該線性軌道的復數個分類臺的任一個上，將它們自線性軌道移除。分類臺由控制器所控制，以根據所儲存的電性與光學特性測量情形來分類該些裝置，其中該分類臺能夠將該些裝置分類到超過32個的箱子內。為了達到根據本專利技術目的所設計的以上與其他目標，誠如在此所實施與廣泛說明地，本專利技術揭露一種方法與設備。附圖說明圖I為自動測試系統；圖2為雙重轉動饋進器；圖3為傳送臺；圖4為任意傳送臺；圖5為"V"形軌道選項；圖6為電性測試臺；圖7為光學測試臺；圖8為噴射臺；圖9為系統循環時序；圖10為測試循環時序。具體實施例方式本專利技術為用于測試與分類譬如發光二極管(LED)的小型電子裝置的改善系統與方法。本專利技術揭露一種使用自動化測試系統來測試與分類具有第一與第二特性的電子裝置的改良方法。該系統包括一或更多個轉動單一化機構、線性軌道、第一與第二測試臺與至少一個分類箱，全部均與控制器聯系。該系統以一個或更多個轉動單一化機構將電子裝置單一化。該系統隨后將該單一化電子裝置從一或更多個轉動單一化機構傳送到線性軌道上。該線性軌道定位，以使電子裝置相鄰第一測試臺，在此，該裝置的第一特性會被測試，且該測試結果會被儲存在控制器上。該線性軌道隨后會定位，以使電子裝置相鄰第二測試臺，在此，該電子裝置的第二特性會被測試，且該測試結果會被儲存在控制器上。該系統隨后會將該線性軌道定位，以使電子裝置相鄰至少一個分類箱，在此，該控制器會引導分類箱，以應所儲存的第一與第二測試結果而從該軌道取得該電子裝置，從而將該電子裝置分類。圖I顯示本專利技術的實施例，其包含自動測試系統本文檔來自技高網...
【技術保護點】
【技術特征摘要】
【國外來華專利技術】...
【專利技術屬性】
技術研發人員：道格拉斯·賈西亞，維農·庫克，史班瑟·巴瑞特，
申請(專利權)人：伊雷克托科學工業股份有限公司，
類型：發明
國別省市：
還沒有人留言評論。發表了對其他瀏覽者有用的留言會獲得科技券。