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本發(fā)明提供一種天線檢測設(shè)備，用于對RFID天線進(jìn)行檢測，包括：開卷裝置、收卷裝置和依次布置在兩者之間的靜夾持組件、真空吸附組件、外觀檢測裝置、電阻檢測裝置和動夾持組件，開卷裝置開卷的天線基板通過動夾持組件輸送到檢測處，動夾持組件松開，靜夾持...該專利屬于華中科技大學(xué)所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過華中科技大學(xué)授權(quán)不得商用。