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本發明涉及計量測試量值傳遞技術領域，尤其是涉及一種在金屬鉭片上制備納米厚度標準氧化鉭薄膜的方法。一種制備標準氧化鉭薄膜的方法，它包括如下步驟：a、對金屬鉭片進行表面處理，b、將金屬鉭片作為陽極、貴金屬絲作為陰極，在陽極、陰極上施加1～60V...
該專利屬于上海市計量測試技術研究院所有，僅供學習研究參考，未經過上海市計量測試技術研究院授權不得商用。

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