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本發(fā)明提供了一種低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)方法、系統(tǒng)、設(shè)備及介質(zhì)，屬于低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明方法包括獲取低對(duì)比度玻璃表面的圖像；對(duì)得到的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域進(jìn)行初步定位，得到初步定位后的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域；...該專利屬于彩虹顯示器件股份有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過彩虹顯示器件股份有限公司授權(quán)不得商用。