【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)屬于低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)，具體涉及一種低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)方法、系統(tǒng)、設(shè)備及介質(zhì)。
技術(shù)介紹
1、玻璃生產(chǎn)過(guò)程中，缺陷檢測(cè)是確保產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。然而，目前現(xiàn)有的玻璃缺陷檢測(cè)方法在處理低對(duì)比度缺陷時(shí)存在局限性，往往只能檢測(cè)到缺陷的一部分，難以全面地對(duì)玻璃缺陷進(jìn)行檢測(cè)。由于缺陷的對(duì)比度較低，按照現(xiàn)有的缺陷檢測(cè)方法可能只能檢測(cè)到缺陷的一部分。為了檢測(cè)缺陷的其余部分，現(xiàn)有技術(shù)中常用的做法是整體提高靈敏度，但會(huì)導(dǎo)致以下問(wèn)題：
2、1）整體提高靈敏度可能會(huì)導(dǎo)致原本不明顯的噪聲變得更加明顯，影響了圖像質(zhì)量。
3、2）過(guò)高的靈敏度可能會(huì)導(dǎo)致原本不存在的缺陷被誤檢出來(lái)，增加了后續(xù)分析的難度和成本。
4、綜上，目前現(xiàn)有的低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)方法存在對(duì)低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)準(zhǔn)確性不高的問(wèn)題。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
1、本專利技術(shù)的目的在于提供一種低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)方法、系統(tǒng)、設(shè)備及介質(zhì)，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)準(zhǔn)確性不高的問(wèn)題。
2、為了實(shí)現(xiàn)上述目的，本專利技術(shù)采用如下技術(shù)方案：
3、第一方面，本專利技術(shù)提供一種低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)方法，包括以下步驟：
4、獲取低對(duì)比度玻璃表面的圖像；
5、對(duì)得到的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域進(jìn)行初步定位，得到初步定位后的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域；
6、對(duì)得到的初步定位后的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域進(jìn)行圖像二次處理，得到最終的低對(duì)比度玻
7、本專利技術(shù)進(jìn)一步的改進(jìn)在于，所述獲取低對(duì)比度玻璃表面的圖像的步驟中，具體采用圖像采集系統(tǒng)的圖像傳感器獲取低對(duì)比度玻璃表面的圖像。
8、本專利技術(shù)進(jìn)一步的改進(jìn)在于，所述對(duì)得到的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域進(jìn)行初步定位，得到初步定位后的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域的步驟中，具體利用像素灰度特征對(duì)得到的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域進(jìn)行初步定位，得到初步定位后的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域。
9、本專利技術(shù)進(jìn)一步的改進(jìn)在于，所述對(duì)得到的初步定位后的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域進(jìn)行圖像二次處理，得到最終的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域的步驟中，具體利用虛擬通道對(duì)得到的初步定位后的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域進(jìn)行圖像二次處理，得到最終的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域。
10、本專利技術(shù)進(jìn)一步的改進(jìn)在于，所述圖像二次處理包括清除噪聲、缺陷信號(hào)線性放大、降低圖像分辨率和缺陷輪廓間隙填充。
11、本專利技術(shù)進(jìn)一步的改進(jìn)在于，當(dāng)?shù)玫降淖罱K的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域靠近邊緣時(shí)，修改配置文件，得到處理后的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域。
12、第二方面，本專利技術(shù)提供一種低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，包括數(shù)據(jù)獲取模塊、缺陷區(qū)域初步定位模塊和最終缺陷區(qū)域獲取模塊；
13、所述數(shù)據(jù)獲取模塊用于獲取低對(duì)比度玻璃表面的圖像；
14、所述缺陷區(qū)域初步定位模塊用于對(duì)得到的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域進(jìn)行初步定位，得到初步定位后的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域；
15、所述最終缺陷區(qū)域獲取模塊用于對(duì)得到的初步定位后的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域進(jìn)行圖像二次處理，得到最終的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域。
16、本專利技術(shù)進(jìn)一步的改進(jìn)在于，缺陷區(qū)域初步定位模塊利用像素灰度特征對(duì)得到的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域進(jìn)行初步定位，得到初步定位后的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域。
17、第三方面，本專利技術(shù)提供一種電子設(shè)備，包括存儲(chǔ)器和處理器，所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)上述介紹的低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)方法的步驟。
18、第四方面，本專利技術(shù)提供一種存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)上述介紹的低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)方法的步驟。
19、與現(xiàn)有技術(shù)相比，本專利技術(shù)具有如下有益效果：
20、本專利技術(shù)屬于改進(jìn)型專利技術(shù)，與現(xiàn)有的低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)方法相比，本專利技術(shù)提出的低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)方法對(duì)得到的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域進(jìn)行初步定位，得到初步定位后的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域，對(duì)得到的初步定位后的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域進(jìn)行圖像二次處理，得到最終的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域。可見(jiàn)本專利技術(shù)提出的低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)方法在初步定位的缺陷區(qū)域的背景與原始采取的玻璃表面的圖像背景相近時(shí)對(duì)得到的初步定位后的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域進(jìn)行圖像二次處理，使得到的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域更加清楚，提高了低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)的精度，進(jìn)而有效地解決了現(xiàn)有技術(shù)中對(duì)低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)準(zhǔn)確性不高的問(wèn)題。
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1.一種低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，包括以下步驟：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述獲取低對(duì)比度玻璃表面的圖像的步驟中，具體采用圖像采集系統(tǒng)的圖像傳感器獲取低對(duì)比度玻璃表面的圖像。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述對(duì)得到的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域進(jìn)行初步定位，得到初步定位后的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域的步驟中，具體利用像素灰度特征對(duì)得到的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域進(jìn)行初步定位，得到初步定位后的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述對(duì)得到的初步定位后的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域進(jìn)行圖像二次處理，得到最終的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域的步驟中，具體利用虛擬通道對(duì)得到的初步定位后的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域進(jìn)行圖像二次處理，得到最終的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述圖像二次處理包括清除噪聲、
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，當(dāng)?shù)玫降淖罱K的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域靠近邊緣時(shí)，修改配置文件，得到處理后的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域。
7.一種低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，包括數(shù)據(jù)獲取模塊、缺陷區(qū)域初步定位模塊和最終缺陷區(qū)域獲取模塊；
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)系統(tǒng)，其特征在于，缺陷區(qū)域初步定位模塊利用像素灰度特征對(duì)得到的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域進(jìn)行初步定位，得到初步定位后的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域。
9.一種電子設(shè)備，包括存儲(chǔ)器和處理器，所述存儲(chǔ)器存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述處理器執(zhí)行所述計(jì)算機(jī)程序時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)方法的步驟。
10.一種存儲(chǔ)介質(zhì)，其上存儲(chǔ)有計(jì)算機(jī)程序，其特征在于，所述計(jì)算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時(shí)實(shí)現(xiàn)權(quán)利要求1至6中任一項(xiàng)所述的低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)方法的步驟。
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，包括以下步驟：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述獲取低對(duì)比度玻璃表面的圖像的步驟中，具體采用圖像采集系統(tǒng)的圖像傳感器獲取低對(duì)比度玻璃表面的圖像。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述對(duì)得到的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域進(jìn)行初步定位，得到初步定位后的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域的步驟中，具體利用像素灰度特征對(duì)得到的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域進(jìn)行初步定位，得到初步定位后的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)方法，其特征在于，所述對(duì)得到的初步定位后的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域進(jìn)行圖像二次處理，得到最終的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域的步驟中，具體利用虛擬通道對(duì)得到的初步定位后的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域進(jìn)行圖像二次處理，得到最終的低對(duì)比度玻璃表面的圖像的缺陷區(qū)域。
5.根據(jù)權(quán)利要求1或4所述的低對(duì)比度玻璃缺陷檢測(cè)方法，其特征在于...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：焦宗平，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：彩虹顯示器件股份有限公司，
類型：發(fā)明
國(guó)別省市：
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