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本申請公開一種過溫檢測電路、線性穩壓器、芯片以及電子設備，涉及集成電路技術領域，該電路包括第一輸入模塊，用于獲取第一偏置信號，產生正壓信號；第二輸入模塊，用于獲取第二偏置信號，產生負壓信號，負壓信號隨溫度變大而減??；比較模塊，分別與第一輸入...該專利屬于上海艾為電子技術股份有限公司所有，僅供學習研究參考，未經過上海艾為電子技術股份有限公司授權不得商用。
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本申請公開一種過溫檢測電路、線性穩壓器、芯片以及電子設備，涉及集成電路技術領域，該電路包括第一輸入模塊，用于獲取第一偏置信號，產生正壓信號；第二輸入模塊，用于獲取第二偏置信號，產生負壓信號，負壓信號隨溫度變大而減??；比較模塊，分別與第一輸入...