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本發明公開了一種電阻測試結構及電阻測試方法。所述電阻測試結構包括：多個第一測試模塊；每一所述第一測試模塊包括：形成于同一半導體器件有源區之上的兩個間隔設置的第一接觸結構和第二接觸結構；相鄰兩所述第一測試模塊中一第一測試模塊的第一接觸結構與另...
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