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在用于牽伸機構(gòu)上輥(125?128)的壓力調(diào)節(jié)方法中，探測影響牽伸機構(gòu)上輥(125?128)的負(fù)載的運行參數(shù)。在分過程中，借助于已探測的運行參數(shù)來探測和顯示牽伸機構(gòu)上輥(125?128)的壓力。所述方法允許用戶改變牽伸機構(gòu)上輥(125?12...該專利屬于特呂茨施勒有限及兩合公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過特呂茨施勒有限及兩合公司授權(quán)不得商用。