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本實用新型涉及一種測試裝置，尤其涉及一種芯片測試裝置；包括框架、上按壓蓋板、轉(zhuǎn)動壓塊、測試中心座和浮動平臺，上按壓蓋板在框架上沿垂直于框架方向相對運動，上按壓蓋板與框架之間設(shè)置有第一彈性件；轉(zhuǎn)動壓塊為兩個、且兩端均轉(zhuǎn)動連接在框架上，轉(zhuǎn)動壓塊...該專利屬于蘇州韜盛電子科技有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過蘇州韜盛電子科技有限公司授權(quán)不得商用。