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根據(jù)一些實施例,本發(fā)明提供了一種形成場效應(yīng)晶體管(FET)的方法。該方法包括對半導(dǎo)體襯底實施蝕刻工藝,從而在半導(dǎo)體襯底的源極和漏極(S/D)區(qū)域中形成凹槽;在凹槽中形成第一半導(dǎo)體的鈍化材料層;以及外延生長第二半導(dǎo)體材料,從而在凹槽中形成S/...該專利屬于臺灣積體電路制造股份有限公司所有,僅供學(xué)習(xí)研究參考,未經(jīng)過臺灣積體電路制造股份有限公司授權(quán)不得商用。