溫馨提示：您尚未登錄，請點 登陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。
本發明公開了一種用于集成電路板測試點布局方法，該方法包含如下步驟：根據集成電路板的面積大小、同一功能的測試點數量，選定測試點模塊位置；根據選定所述測試點模塊位置的面積大小、同一功能的測試點數量，在所述集成電路板上布局所述測試點模塊；根據所述...該專利屬于上海斐訊數據通信技術有限公司所有，僅供學習研究參考，未經過上海斐訊數據通信技術有限公司授權不得商用。
溫馨提示：您尚未登錄，請點 登陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。
本發明公開了一種用于集成電路板測試點布局方法，該方法包含如下步驟：根據集成電路板的面積大小、同一功能的測試點數量，選定測試點模塊位置；根據選定所述測試點模塊位置的面積大小、同一功能的測試點數量，在所述集成電路板上布局所述測試點模塊；根據所述...