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本實(shí)用新型涉及一種探針測試治具，用于測試包括多個(gè)屏體端子的屏體，包括絕緣基座及固定于絕緣基座上的若干探針和若干引線，絕緣基座具有兩個(gè)相背的第一表面及第二表面，若干探針自所述第一表面背離該表面延伸形成，若干引線自所述第二表面背離該表面延伸形成...該專利屬于昆山國顯光電有限公司所有，僅供學(xué)習(xí)研究參考，未經(jīng)過昆山國顯光電有限公司授權(quán)不得商用。