探針測試治具制造技術

本實用新型專利技術涉及一種探針測試治具，用于測試包括多個屏體端子的屏體，包括絕緣基座及固定于絕緣基座上的若干探針和若干引線，絕緣基座具有兩個相背的第一表面及第二表面，若干探針自所述第一表面背離該表面延伸形成，若干引線自所述第二表面背離該表面延伸形成，若干探針與第二表面的若干引線一一對應電性連接，相鄰兩根探針之間的間距小于相鄰兩個屏體端子的間距，該探針測試治具上若干探針所占用的面積大于所述屏體上多個屏體端子所占用的面積。本實用新型專利技術探針測試治具，能夠滿足不同規(guī)格屏體點屏測試需求，當某一根或部分探針損壞時，不影響整套治具的正常使用，可節(jié)省維修或重做的時間和費用，縮短新產(chǎn)品開發(fā)周期，提高新產(chǎn)品開發(fā)的效率。（*該技術在2023年保護過期，可自由使用*）

【技術實現(xiàn)步驟摘要】
【專利摘要】本技術涉及一種探針測試治具，用于測試包括多個屏體端子的屏體，包括絕緣基座及固定于絕緣基座上的若干探針和若干引線，絕緣基座具有兩個相背的第一表面及第二表面，若干探針自所述第一表面背離該表面延伸形成，若干引線自所述第二表面背離該表面延伸形成，若干探針與第二表面的若干引線一一對應電性連接，相鄰兩根探針之間的間距小于相鄰兩個屏體端子的間距，該探針測試治具上若干探針所占用的面積大于所述屏體上多個屏體端子所占用的面積。本技術探針測試治具，能夠滿足不同規(guī)格屏體點屏測試需求，當某一根或部分探針損壞時，不影響整套治具的正常使用，可節(jié)省維修或重做的時間和費用，縮短新產(chǎn)品開發(fā)周期，提高新產(chǎn)品開發(fā)的效率。【專利說明】探針測試治具
本技術涉及顯示面板的測試治具領域技術，尤其涉及一種適用于不同規(guī)格屏體點屏測試的探針測試治具。
技術介紹
目前顯示行業(yè)在開發(fā)新產(chǎn)品時，須先做出屏體樣品，然后對屏體樣品進行點屏測試，以收集屏體的相關參數(shù)再做進一步的工藝調整，為使屏體的各項指標達到新產(chǎn)品的設計要求。而為了實現(xiàn)點屏測試這一動作，針對不同規(guī)格屏體，目前所采用的方案有兩種，一是先依屏體規(guī)格設計定制相應的FPC (柔性電路板)，然后通過綁定實現(xiàn)與屏體的有效可靠連接，最后將FPC連接至相對應測試治具以實現(xiàn)點屏測試；二是針對某一規(guī)格屏體，專門設計制作相應的測試治具(一般為探針夾具加信號輸入設備)，然后利用該治具來實現(xiàn)點屏測試(測試時須要保證相應探針和相應屏體端子的一一對應)。然而，現(xiàn)有的測試治具不具有通用性，即對于不同的屏體規(guī)格，必須設計制作相應規(guī)格的測試治具和FPC。另外，現(xiàn)有的探針測試治具一旦其中的某一根探針損壞，整套治具就必須進行維修或者廢棄重做，可靠性和壽命都不高。重要的是，測試治具和測試用FPC的設計和制造過程，不僅繁瑣耗時，投入很大，而且這一環(huán)節(jié)嚴重影響新產(chǎn)品開發(fā)周期，對于新產(chǎn)品開發(fā)效率造成不良影響。所以有必要設計一種新型的可以滿足不同規(guī)格屏體的點屏測試要求的通用的探針測試治具，以解決上述技術問題。
技術實現(xiàn)思路
本技術的目的在于提供一種探針測試治具，可以滿足不同規(guī)格屏體的點屏測試要求。為實現(xiàn)前述目的，本技術采用如下技術方案:一種探針測試治具，用于測試包括多個屏體端子的屏體，所述探針測試治具包括絕緣基座及固定于所述絕緣基座上的若干探針和若干引線，所述絕緣基座具有兩個相背的第一表面及第二表面，所述若干探針自所述第一表面背離該表面延伸形成，所述若干引線自所述第二表面背離該表面延伸形成，所述若干探針與第二表面的若干引線一一對應電性連接，相鄰兩根探針之間的間距小于相鄰兩個屏體端子的間距，該探針測試治具上若干探針所占用的面積大于所述屏體上多個屏體端子所占用的面積。作為本技術進一步改進的技術方案，探針及引線分別呈矩陣式排布。作為本技術進一步改進的技術方案，每一根探針的直徑小于每一個屏體端子的寬度。作為本技術進一步改進的技術方案，探針的直徑為20μπι。作為本技術進一步改進的技術方案，探針的間隙為30 μ m。作為本技術進一步改進的技術方案，若干探針所占用區(qū)域的形狀呈矩形狀。作為本技術進一步改進的技術方案，若干探針所占用區(qū)域的總長度大于屏體端子長度，所述若干探針所占用區(qū)域的寬度大于所述屏體端子的總寬度。作為本技術進一步改進的技術方案，若干引線通過鐳射方式貫穿所述絕緣基座以電性連接所述探針。本技術與現(xiàn)有技術相比具有如下有益效果:本技術提供了一種探針測試治具，能夠滿足不同規(guī)格屏體點屏測試需求，當某一根或部分探針損壞時，不影響整套治具的正常使用，可節(jié)省維修或重做的時間和費用，縮短新產(chǎn)品開發(fā)周期，提高新產(chǎn)品開發(fā)的效率，即這種探針測試治具相比普通治具具有更高的可靠性和壽命。【專利附圖】【附圖說明】圖1是本技術屏體端子結構示意圖；圖2是本技術具體實施例中探針測試治具與屏體端子的配合示意圖；圖3是本技術具體實施例中探針測試治具的探針及探針引線的立體示意圖；圖4是本技術具體實施例中探針測試治具的探針及探針引線的截面示意圖；圖5是本技術具體實施例中探針測試治具的探針與屏體端子接觸狀態(tài)的平面示意圖；圖6是本技術另一實施例中探針測試治具的探針的排列示意圖。【具體實施方式】本實施例中，如圖1所示，屏體100的關鍵部件屏體端子11是由導電材料制作而成，因而具有導電性。屏體端子區(qū)域包括屏體端子U、屏體端子間隙112。在測試過程中屏體端子11起到輸入或輸出信號的作用。屏體端子間隙112的設計是為了防止相鄰屏體端子11短路。同一屏體同一端子區(qū)域各端子長度13，端子寬度111，端子間隙112是相同的。但是同一屏體不同屏體端子區(qū)域總寬度12、屏體端子長度13，端子寬度111及端子間隙112一般是不同的。參見圖2所示,本實施例中,測試治具200包括絕緣基座21、及固定于所述絕緣基座21上的若干探針22和若干引線23，所述絕緣基座21具有兩個相背的第一表面及第二表面，所述若干探針22自所述第一表面背離該表面延伸形成，所述若干引線23自所述第二表面背離該表面延伸形成。若干探針22與第二表面的若干引線23 —一對應電性連接，相鄰兩根探針22之間的間距小于相鄰兩個屏體端子11的間距，該探針測試治具上若干探針22所占用的面積大于所述屏體上多個屏體端子11所占用的面積。探針22及引線23分別呈矩陣式排布。每一根探針的直徑221小于每一個屏體端子的寬度111。探針直徑221為20 μ m，探針間隙222為30 μ m。若干探針22所占用區(qū)域的形狀呈矩形狀。若干探針22所占用區(qū)域的總長度25大于屏體端子長度12，所述若干探針22所占用區(qū)域的寬度24大于所述屏體端子的總寬度13。若干引線23通過鐳射方式貫穿所述絕緣基座21以電性連接所述探針22。本實施中由于若干探針22的探針直徑221和探針間隙222做的很小，已達到微米級，精度需求很高，而普通的焊接方式是無法達到這樣的精度的，所以引線23是通過鐳射方式穿入絕緣基座21與對應探針22固定連接的,該方式能達到微米(μπι)級的精度。在開始探測前，若干探針22通過夾具(行業(yè)內普遍采用的下壓式夾具)連接到屏體端子11上。本實施中，如圖2所示，四個探針223、探針224、探針225、探針226處于同一個屏體端子11上，假設探針223表示探針是第一排第7列的探針并將其編碼為(1，7)，則探針224表示探針是第一排第8列的探針，編碼為(1，8)，探針225表示探針是第一排第9列的探針，編碼為(I，9)，探針226表示探針是第一排第10列的探針，編碼為(1，10)，依次類推，(m，η)則表示第m排第η列那顆探針。利用這樣的編碼可以實現(xiàn)探針與引線的一一對應。需要說明的是，若干探針22的排列方式可以有很多種方式，不限于圖3給出的方式，相應的探針編碼可自由選定，甚至如圖6所示的若干探針22的另一種可行的排列，只需要保證測試時能滿足每一個屏體端子11上至少有一根探針準確定位的測試要求即可。同一個屏體端子11上有可能有很多根探針，如圖5所示的有20根探針在同一屏體端子11上。開始檢測前，也要確保探針引線23、每一根探針與信號控制系統(tǒng)有效可靠的連接，如圖4所示。探針引線2本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術保護點】
一種探針測試治具，用于測試包括多個屏體端子的屏體，其特征在于，所述探針測試治具包括絕緣基座及固定于所述絕緣基座上的若干探針和若干引線，所述絕緣基座具有兩個相背的第一表面及第二表面，所述若干探針自所述第一表面背離該表面延伸形成，所述若干引線自所述第二表面背離該表面延伸形成，所述若干探針與第二表面的若干引線一一對應電性連接，相鄰兩根探針之間的間距小于相鄰兩個屏體端子的間距，該探針測試治具上若干探針所占用的面積大于所述屏體上多個屏體端子所占用的面積。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發(fā)人員：徐奎，魏朝剛，張月華，
申請(專利權)人：昆山國顯光電有限公司，
類型：新型
國別省市：江蘇;32