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    DDR2讀寫操作數字延遲鏈工藝-溫度-電壓控制器電路制造技術

    技術編號:8981142 閱讀:206 留言:0更新日期:2013-07-31 23:13
    本發明專利技術公開了一種DDR2讀寫操作數字延遲鏈工藝-溫度-電壓控制器電路,通過檢測DDR2控制器和DDR2存儲器之間的命令,輸出同步數字延遲鏈使能信號至DDR2讀寫操作數字延遲鏈控制器。當DDR2控制器命令檢測器檢測到刷新命令時,工藝-溫度-電壓自動調整控制器在DDR2讀寫操作數字延遲鏈鎖定的前提下,輸出更新DDR2讀寫操作數字延遲鏈使能信號至DDR2讀寫操作數字延遲鏈控制器。本發明專利技術在DDR2控制器刷新命令操作階段,DQS和DQ信號處于無效狀態下,可以安全可靠、高精度地對DDR2讀寫操作數字延遲鏈進行動態更新。

    【技術實現步驟摘要】

    本專利技術涉及DDR2 (Double Data Rate,雙倍速率同步動態隨機存儲器)讀寫操作數字延遲鏈控制器電路應用場合,如DDR,DDR2,DDR3等,屬于高速DDR2讀寫操作數字延遲鏈控制器電路的

    技術介紹
    隨著片上系統SOC芯片性能的不斷提高,數據吞吐量也越來越大,使得DDR2(Double Data Rate,雙倍速率同步動態隨機存儲器)控制器應用越來越廣泛。芯片在工藝-溫度-電壓變化時,現有DDR2讀寫操作數字延遲鏈控制器技術采用動態更新讀寫操作數字延遲鏈,并沒有考慮到DDR2控制器和DDR2存儲器之間的DQ和DQS處于何種狀態。現有的數字延遲鏈在工藝-溫度-電壓變化時更新數字延遲鏈存在的弊端: 1.DDR2控制器在寫操作過程中,數據DQ信號是在寫操作時鐘域內完成,該時鐘是系統DDR2時鐘經過寫操作時鐘數字延遲鏈延遲3/4個得到的時鐘,如果按照現有的DDR2寫操作時鐘數字延遲鏈控制器動態調整寫操作時鐘,特別是在寫操作時鐘正負沿附近時調整寫操作數字延遲鏈,寫操作時鐘可能會出現毛刺,周期可能會減小,數據DQ信號有效時間減小,嚴重時數據DQ可能不滿足DDR2規范要求的時間窗口 ; 2.DDR2控制器在寫操作過程中,DDR2存儲器接收DQ數據是在寫操作DQS時鐘域內完成,該時鐘與DDR2系統時鐘ddr2_clk具有相同的相位,如果按照現有的DDR2寫操作DQS數字延遲鏈控制器動態調整寫操作DQS信號,特別是在寫操作DQS正負沿附近時,寫操作DQS可能會出現毛刺,周期可能會減小,DQS信號有效時間減小,嚴重時DQS可能不滿足DDR2規范要求的時間窗口; 3.DDR2控制器在讀操作過程中,DDR2控制器接收數據是在讀操作DQS時鐘域內完成,該時鐘是DDR2存儲器發出的DQS信號經過讀操作DQS數字延遲鏈延遲1/4個相位得到的時鐘,如果按照現有的DDR2讀操作DQS數字延遲鏈控制器動態調整讀操作DQS信號,特別是在讀操作DQS正負沿附近時,讀操作DQS可能會出現毛刺,周期可能會減小,DQS信號有效時間減小,導致延遲后的讀操作DQS采樣DQ出現問題,嚴重時讀操作DQS可能不滿足DDR2規范要求的時間窗口。
    技術實現思路
    技術問題:本專利技術目的是解決上述背景中提到的技術問題,提供了一種DDR2讀寫操作數字延遲鏈工藝-溫度-電壓控制器電路。該電路通過檢測DDR2控制電路與DDR2存儲器之間的傳輸命令,在刷新(refresh)或者自動刷新(self refresh)命令期間動態更新數字延遲鏈電路,提高DDR2讀寫數據的穩定性。技術方案:本專利技術的目的在于,針對SoC芯片在工藝-溫度-電壓變化時,現有DDR2讀寫操作數字延遲鏈控制器更新讀寫操作數字延遲鏈導致電路可能異常工作的情況,提供了一種DDR2讀寫操作數字延遲鏈工藝-溫度-電壓控制器電路。根據DDR2協議規范,DDR2存儲器的刷新需要一定的時間,在DDR2存儲器刷新過程中,DDR2的DQS和DQ信號處于無效狀態,在此狀態下對DDR2讀寫操作數字延遲鏈進行更新,保證在更新過程中不會對DDR2讀寫信號造成錯誤的影響,所提出的解決方案能夠提高DDR2的穩定性,保證在工藝-溫度-電壓變化的情況下,DDR2控制器和DDR2存儲器之間能夠正常工作。本專利技術包括DDR2控制器命令檢測器、DDR2工藝-溫度-電壓調整控制器、DDR2寫操作時鐘數字延遲鏈控制器、DDR2寫操作DQS數字延遲鏈控制器和DDR2讀操作DQS數字延遲鏈控制器。該電路中,在DDR2控制器正常工作的情況下,DDR2控制器命令檢測器檢測DDR2控制器和DDR2存儲器之間的命令信號,當檢測到的命令為刷新(refresh)或者自動刷新(self refresh)時,輸出refresh_state至DDR2工藝-溫度-電壓調整控制器;工藝-溫度-電壓發生變化時,DDR2工藝-溫度-電壓調整控制器在refeSh_State有效的條件下,發出更新使能oresync_dll信號至DDR2寫操作時鐘數字延遲鏈控制器、DDR2寫操作DQS數字延遲鏈控制器和DDR2讀操作DQS數字延遲鏈控制器,更新讀寫操作數字延遲鏈。所述的DDR2控制器命令檢測器,其特征在于,輸入信號為DDR2控制命令cs_n,ras_n, cas_n, we_n, cke, DDR2 系統時鐘 ddr_clk 和 DDR2 系統復位信號 resetn,輸出信號為DDR2刷新狀態refresh_state信號。DDR2控制器命令檢測器在DDR2系統復位信號resetn低電平時完成異步復位,refresh_state在復位狀態時為O。當cs_n, ras_n, cas_η為0,冊_11和cke為I時,DDR2控制器命令檢測器檢測到刷新(refresh)或者自動刷新(self refresh)命令,該信號為ddr_mem_refresh_tmp ;在DDR2控制器時鐘域內,將ddr_mem_refresh_tmp用寄存器打一拍,得到ddr_mem_refresh_tmp延遲一個DDR2控制器系統時鐘后的ddr_mem_refresh_delaylcycle信號;在DDR2控制器時鐘域內,通過寄存器將ddr_mem_refresh_tmp 和 ddr_mem_refresh_delayIcycle 做或運算的結果 refresh_state信號輸出至工藝-溫度-電壓自動調整控制器。所述的DDR2工藝-溫度-電壓調整控制器,其特征在于,輸入信號為DDR2系統時鐘ddr_clk,DDR2系統復位信號resetn,系統更新DDR2數字延遲鏈resync信號,系統更新數字延遲鏈使能信號auto_reSynC_e`n,DDR2數字延遲鏈鎖定lock信號,輸出更新DDR2讀寫操作數字延遲鏈oresync_dll至DDR2寫操作時鐘數字延遲鏈控制器、DDR2寫操作DQS數字延遲鏈控制器和DDR2讀操作DQS數字延遲鏈控制器。DDR2工藝-溫度-電壓調整控制器在DDR2系統復位信號resetn低電平時完成異步復位,oresync_dll在復位狀態時為O。在DDR2數字延遲鏈鎖定lock信號有效的條件下,resync為I或者auto_resync_en和refresh_state信號同時為I時,oresync_dll_tmp為I,在DDR2控制器時鐘域內,將oresync_dll_tmp用寄存器打一拍得到的oresync_dll信號輸出至DDR2讀寫操作數字延遲鏈控制器。所述的寫操作時鐘數字延遲鏈控制器,其特征在于,輸入信號為DDR2系統時鐘ddr_clk, DDR2系統復位信號resetn,DDR2系統寫操作時鐘配置寄存器write_clk_add_delay, write_clk_config_minus 和 write_clk_config_add,時鐘鎖定數字延遲鏈的鎖定lock信號和鎖定一個ddr_clk周期對應的延遲鏈延遲單元數量clock_locked_delaycell_num信號,輸出DDR2系統時鐘延遲3/4個相位所需的延遲單元數量對應的獨熱碼one_hot_write_clk_delaycell_num 和 write_clk_del本文檔來自技高網
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    【技術保護點】
    一種DDR2讀寫操作數字延遲鏈工藝?溫度?電壓控制器電路,其特征在于:它包括DDR2控制器命令檢測器、DDR2工藝?溫度?電壓調整控制器、DDR2寫操作時鐘數字延遲鏈控制器、DDR2寫操作DQS數字延遲鏈控制器和DDR2讀操作DQS數字延遲鏈控制器;該電路中,在DDR2控制器正常工作的情況下,DDR2控制器命令檢測器檢測DDR2控制器和DDR2存儲器之間的命令信號,當檢測到的命令為刷新(refresh)或者自動刷新(self?refesh)時,輸出refresh_state至DDR2工藝?溫度?電壓調整控制器;工藝?溫度?電壓發生變化時,DDR2工藝?溫度?電壓調整控制器在refesh_state有效的條件下,發出同步使能信號至DDR2寫操作DQS數字延遲鏈控制器和DDR2讀操作DQS數字延遲鏈控制器,更新讀寫操作數字延遲鏈。

    【技術特征摘要】
    1.一種DDR2讀寫操作數字延遲鏈工藝-溫度-電壓控制器電路,其特征在于:它包括DDR2控制器命令檢測器、DDR2工藝-溫度-電壓調整控制器、DDR2寫操作時鐘數字延遲鏈控制器、DDR2寫操作DQS數字延遲鏈控制器和DDR2讀操作DQS數字延遲鏈控制器;該電路中,在DDR2控制器正常工作的情況下,DDR2控制器命令檢測器檢測DDR2控制器和DDR2存儲器之間的命令信號,當檢測到的命令為刷新(refresh)或者自動刷新(self refesh)時,輸出refresh_state至DDR2工藝-溫度-電壓調整控制器;工藝-溫度-電壓發生變化時,DDR2工藝-溫度-電壓調整控制器在refeSh_State有效的條件下,發出同步使能信號至DDR2寫操作DQS數字延遲鏈控制器和DDR2讀操作DQS數字延遲鏈控制器,更新讀寫操作數字延遲鏈。2.根據權利要求1所述的控制器電路,其特征在于:所述DDR2控制器命令檢測器,輸入信號為 DDR2 控制命令 cs_n, ras_n, cas_n, we_n, cke, DDR2 系統時鐘 ddr_clk 和 DDR2系統復位信號resetn,輸出信號為DDR2刷新狀態refresh_state信號;DDR2控制器命令檢測器在DDR2系統復位信號resetn低電平時完成異步復位,refresh_state在復位狀態時為O。3.根據權利要求2所述的控制器電路,其特征在于:當cs_n,ras_n,cas_n為0,we_n和cke為I時,DDR2控制器命令檢測器檢測到刷新(refresh)或者自動刷新(self refesh)命令,該信號為ddr_mem_refresh_tmp ;在DDR2控制器時鐘域內,將ddr_mem_refresh_tmp用寄存器打一拍,得到ddr_mem_refresh_tmp延遲一個DDR2控制器系統時鐘后的ddr_mem_refresh_delaylcycle信號;在DDR2控制器時鐘域內,通過DDR2寄存器將ddr_mem_refresh_tmp 和 ddr_mem_refresh_delaylcycle 做或運算的結果 refresh_state 信號輸出至DDR2工藝-溫度-電壓調整控制器。4.根據權利要求1所述的控制器電路,其特征在于:所述DDR2工藝-溫度-電壓調整控制器,輸入信號為DDR2系統時鐘ddr_clk,DDR2系統復位信號resetn,系統更新DDR2數字延遲鏈resync信號,系統更新數字延遲鏈使能信號auto_resync_en, DDR2數字延遲鏈鎖定lock信號,輸出更新DDR2讀寫操作數字延遲鏈oreSync_dll至DDR2讀寫操作數字延遲鏈控制器;DDR2工藝-溫度-電壓調整控制器在DDR2系統復位信號resetn低電平時完成異步復位,oresync_dll在復位狀態時為O。5.根據權利要求4所述的控制器電路,其特征在于:在DDR2數字延遲鏈鎖定lock信號有效的條件下,resync為I或者auto_resync_en和refresh_state信號同時為I時,輸出更新DDR2讀寫操作數字延遲鏈oresync_dll中間變量oresync_dll_tmp為I,在DDR2控制器時鐘域內,將oresync_dll_tmp用寄存器打一拍得到的oresync_dll信號輸出至DDR2讀寫操作數字延遲鏈控制器。6.根據權利要求1所述的控制器電路,其特征在于:所述DDR2寫操作時鐘數字延遲鏈控制器,輸入信號為DDR2系統時鐘ddr_clk,DDR2系統復位信號resetn,DDR2系統寫操作時鐘配置寄存器 write_clk_add_delay, write_clk_config_minus 和 write_clk_config_add,時鐘鎖定數字延遲鏈的鎖定lock信號和鎖定一個ddr_clk周期對應的延遲鏈延遲單元數量clock_locked_delaycell_num信號,輸出DDR2系統時鐘延遲3/4個相位所需的延遲單兀數量對應的獨熱碼 one_hot_write_clk_delaycell_num 和 write_clk_delaycell_num_odd至寫操作時鐘延遲鏈。7.根據權利要求6所述的控制器電路,其特征在于:在DDR2系統時鐘域內,clock—locked—delaycell—num 右移 2 位與 3 相乘,加上 clock—locked—delaycell—num[l]和clock—locked—delaycell—num,得到 write—elk—ideal—delaycell—num,根據 DDR2 規范,寫操作時DQ數據信號應當位于DDR2系統時鐘3/4處相位,在深亞微米工藝下,后端布局布線中存在著線延遲,芯片輸出輸入管腳延遲及板級延遲等問題,寫操作DQ數據信號可能和DDR2系統時鐘存在偏差,需要根據實際電路延遲對write—elk—ideal—delaycell—num 進行修正,定義修正后的 write_clk_ideal_delaycell_num 為 write_clk_ideal_delaycell—num—modified ;當鎖定lock信號有效時,若寫操作DQ數據信號在DDR2系統時鐘 1/4 相位之后,DDR2 系統配置 write—elk—add—delay 為 0,對 write—elk—ideal—delaycell—num 進行減小修正,艮P write_clk—ideal_delaycell—num—modified 為 write_elk—ideal—delaycell—num 減去 write—elk—config—minus ;若寫操作 DQ 數據信號在DDR2 系統時鐘 1/4 相位之前,DDR2 系統配置 write—elk—add—delay 為 1,對 write—elk—ideal_delaycell—num 進行增力口修正,艮P write_clk—ideal_delaycell—num—modified 為write_clk_ideal_delaycell_num 與 write_clk—config—add 之和;將(write_clk—ideal_delaycell—num—modified-1)轉換為獨熱碼 one—hot—write—elk—delaycell—num ;在 DD...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:呂新浩孫翼高鵬馬濤
    申請(專利權)人:昆山慧凝微電子有限公司
    類型:發明
    國別省市:

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