用于LED陣列的開路的檢測電路及使用其的LED驅動器設備制造技術

本發明專利技術公開了一種用于LED陣列的開路的檢測電路及使用其的LED驅動器設備用。所述檢測電路包括電阻單元、第一開關單元和輸出單元。電阻單元操作性地串聯連接到LED陣列。第一開關單元被構造為當電阻單元的電壓大于或等于預定電壓電平時導通。輸出單元被構造為基于第一開關單元是否導通來產生指示LED陣列是否開路的輸出。

【技術實現步驟摘要】

以下描述涉及檢測發光二極管(LED)陣列是否開路，更具體地講，涉及一種被構造為檢測LED陣列是否開路的檢測電路及使用該檢測電路的LED驅動方法和設備。
技術介紹
由于液晶顯示器(IXD)與其它顯示器相比較而言很薄且重量輕，以及需要低驅動電壓和低功耗，因此液晶顯示器被廣泛使用。然而，由于LCD是不能自身發光的非發光元件，所以LCD需要用于向LCD面板提供光的單獨的背光源。作為用于LCD的背光源，大多使用冷陰極熒光燈(CCFL)和發光二極管(LED)。但是，由于CCFL使用汞，因此CCFL可引起環境污染。此外，CCFL具有很慢的響應時間和很低顏色再現性，且對于LCD面板的輕重量、薄、短和小并無幫助。另一方面，由于LED不使用環境有害材料并能實現脈沖驅動，因此LED是環境友好的。此外，LED具有良好的顏色再現性，并可通過調整從紅色、綠色和藍色發光二極管發射的光的量來任意改變亮度或色溫。LED還具有適合于LCD面板的輕、薄、短和小的構造的優點。因此，近年來，LED已被頻繁用作IXD面板的背光源。LED陣列包括多個LED并且操作性地相互連接。當將LED陣列用于IXD背光單元中時，需要驅動電路來將恒定電流提供給每個LED陣列，并且還需要調光電路來任意地調整亮度和色溫或過熱的補償。電沖擊(electrical shock)可通過使LED陣列中的一個或多個連接開路而使LED陣列與LED驅動器斷開連接。在這種情況下，需要用于檢測LED陣列的開路的保護電路。但是，保護電路可將二極管連接到LED陣列的端部，并根據二極管是否導電來檢測LED陣列是否開路。但是，當由于初始驅動或恒定電流的峰值電流而出現異常反饋電壓時，這種保護電路可能錯誤地檢測到LED陣列開路。
技術實現思路
提供本
技術實現思路
部分以按簡化的形式介紹在下面的具體實施方式部分中進行進一步描述的構思的選擇。本
技術實現思路
部分不意圖確定所要求保護的主題的關鍵特征或必要特征，且不意圖用于幫助確定所要求保護的主題的范圍。根據示意性示例，一種檢測電路被構造為檢測LED陣列是否開路。所述檢測電路包括:電阻單元，操作地串聯連接到LED陣列；第一開關單元，被構造為當電阻單元的電壓大于或等于預定電壓電平時導通；輸出單元，被構造為基于第一開關單元是否導通，來產生指示LED陣列是否開路的輸出。當LED陣列開路時，第一開關單元保持截止狀態，以防止電流流動。當恒定電流不通過LED陣列流動、電流不通過電阻單元流動、且第一開關單元截止時，所述檢測電路檢測到LED陣列開路。第一開關單元是P型雙極結型晶體管(BJT)。P型BJT的發射極共連到LED陣列和電阻單元的一端，P型BJT的基極操作地連接到電阻單元的另一端，P型BJT的集電極通過第二電阻器接地。所述預定電壓電平是P型BJT的閾值電壓。電阻單元的電阻值大于或等于通過將P型BJT的閾值電壓除以通過LED陣列流動的恒定電流而獲得的值。第二開關單元被構造為響應于第一開關單元的導通而導通。輸出單元被構造為基于第二開關單元是否導通，來產生指示LED陣列是否開路的輸出。第二開關單元是N型雙極結型晶體管(BJT)。其中，N型BJT的發射極接地，N型BJT的基極操作地連接到P型BJT的集電極，N型BJT的集電極操作地通過第三電阻器連接到電壓源。第二電阻器被布置在第一開關單元與地之間，第二電阻器的電阻值大于或等于通過將N型BJT的閾值電壓除以P型BJT的集電極的電流而獲得的值。當恒定電流不通過LED陣列流動時，電流不通過電阻單元流動，第一開關單元截止，第二開關單元截止，并且輸出單元被構造為輸出指示LED陣列開路的高電壓值(VDD)。所述檢測電路檢測多個LED陣列是否開路，電阻單元包括操作地分別串聯連接到多個LED陣列的多個電阻器，第一開關單元包括操作地分別連接到電阻單元的多個電阻器的多個開關元件，輸出單元被構造為當至少一個開關元件截止時產生指示存在開路的LED陣列的輸出。根據另一示意性示例，一種LED驅動器設備包括:LED陣列；LED驅動電路，被構造為將驅動電壓和恒定電流提供給LED陣列；電阻單元，操作地串聯連接到LED陣列；檢測單元，被構造為基于電阻單元的電壓來檢測LED陣列是否開路。檢測單元包括:電阻單元；第一開關單元，被構造為當電阻單元的電壓大于或等于預定電壓電平時導通；輸出單元，被構造為基于第一開關單元是否導通，來產生指示LED陣列是否開路的輸出。第一開關單元在LED陣列開路并且電流不流動時保持截止狀態。第一開關單元是P型雙極結型晶體管BJT。P型BJT的發射極共連到LED陣列和電阻單元的一端，P型BJT的基極操作地連接到電阻單元的另一端，P型BJT的集電極通過第二電阻器接地。所述預定電壓電平是P型BJT的閾值電壓。電阻單元的電阻值大于或等于通過將P型BJT的閾值電壓除以通過LED陣列流動的恒定電流而獲得的值。檢測單元還包括:第二開關單元，被構造為響應于第一開關單元的導通而導通。輸出單元被構造為基于第二開關單元是否導通，來產生指示LED陣列是否開路的輸出。第二開關單元是N型雙極結型晶體管(BJT)。N型BJT的發射極接地，N型BJT的基極操作地連接到P型BJT的集電極，N型BJT的集電極操作地通過第三電阻器連接到電壓源。第二電阻器被布置在第一開關單元與地之間，第二電阻器的電阻值大于或等于通過將N型BJT的閾值電壓除以P型BJT的集電極的電流而獲得的值。LED驅動器設備包括多個LED陣列。電阻單元包括操作地分別串聯連接到多個LED陣列的多個電阻器。第一開關單元包括操作地分別連接到電阻單元的多個電阻器的多個開關元件。輸出單元被構造為當至少一個開關元件截止時產生指示存在開路的LED陣列的輸出。所述LED驅動器設備還包括:控制器，被構造為當檢測到開路的LED陣列時停止操作LED驅動電路。如上所述，由于檢測LED陣列是否開路的檢測電路和LED驅動器設備根據電流在LED陣列中流動還是不流動，來檢測LED陣列是否開路，因此可以精確地檢測LED陣列是否開路，而不管異常正向電壓如何。附圖說明通過結合附圖對示例性構造進行的詳細描述，上述和/或其它方面將會更清楚，在附圖中:圖1是示出根據示意性構造的LED驅動器設備的框圖；圖2是示出根據示意性構造的LED驅動電路的框圖；圖3是示出根據第一示意性構造的檢測單元的電路圖；圖4A和圖4B示出根據第一示意性構造的檢測單元的操作；圖5是示出根據第二示意性構造的檢測單元的電路圖；圖6A和圖6B示出根據第二示意性構造的檢測單元的操作；圖7是示出根據第三示意性構造的檢測單元的電路圖；圖8和圖9示出根據第三示意性構造的檢測單元的操作。具體實施例方式下面，將參照附圖更加詳細地描述示例性實施例。提供以下詳細描述以幫助讀者獲得在此描述的方法、設備和/或系統的全面理解。因此，本領域的普通技術人員將獲知在此描述的方法、設備和/或系統的各種修改、變化和等同物。因此，為了更加清楚和簡潔，可能省略了已知功能和結構的描述。貫穿說明書附圖和具體實施方式部分，除非另有指出，否則相同附圖標記將被理解為指示相同元件、特征和結構。為了清楚、示出和方便，可能夸大了這些元件的相對大小和繪示。應該理解，當元件被稱作“在”另一元件或單元“上”、“連接到”另一元件或單元、或“本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種用于檢測LED陣列是否開路的檢測電路，所述檢測電路包括：電阻單元，操作性地串聯連接到LED陣列；第一開關單元，被構造為當電阻單元的電壓大于或等于預定電壓電平時導通；輸出單元，被構造為基于第一開關單元是否導通來產生指示LED陣列是否開路的輸出。

【技術特征摘要】
2011.12.07 KR 10-2011-01304641.一種用于檢測LED陣列是否開路的檢測電路，所述檢測電路包括: 電阻單元，操作性地串聯連接到LED陣列； 第一開關單元，被構造為當電阻單元的電壓大于或等于預定電壓電平時導通； 輸出單元，被構造為基于第一開關單元是否導通來產生指示LED陣列是否開路的輸出。2.根據權利要求1所述的檢測電路，其中，當LED陣列開路時，第一開關單元保持防止電流流動的截止狀態。3.根據權利要求1所述的檢測電路，其中，當恒定電流不流過LED陣列、電流不流過電阻單元、且第一開關單元截止時，所述檢測電路檢測到LED陣列開路。4.根據權利要求1所述的檢測電路，其中，第一開關單元是P型雙極結型晶體管， 其中，P型雙極結型晶體管的發射極共連到LED陣列和電阻單元的一端，P型雙極結型晶體管的基極操作性地連接到電阻單元的另一端，P型雙極結型晶體管的集電極通過第二電阻器接地， 其中，所述預定電壓電平是P型雙極結型晶體管的閾值電壓。5.根據權利要求4所述的檢測電路，其中，電阻單元的電阻值大于或等于通過將P型雙極結型晶體管的閾值電壓除以流過LED陣列的恒定電流而獲得的值。6.根據權利要求4所述的檢測電路，所述檢測電路還包括: 第二開關單元，被構造為響應于第一開關單元的導通而導通， 其中，輸出單元被構造為基于第二開關單元是否導通來產生指示LED陣列是否開路的輸出。7.根據權利要求6所述的檢測電路，其中，第二開關單元是N型雙極結型晶體管， 其中，N型雙極結型晶體管的發射極接地，N型雙極結型晶體管的基極操作性地連接到P型雙極結型晶體管的集電極，N型雙極結型晶體管的集電極操作性地通過第三電阻器連接到電壓源。8.根據權利要求7所述的檢測電路，其中，第二電阻器被設置在第一開關單元與地之間，第二電阻器的電阻值大于或等于通過將N型雙極結型晶體管的閾值電壓除以P型雙極結型晶體管的集電極的電流而獲得的值。9.根據權利要求8所述的檢測電路，其中，當恒定電流不流過LED陣列時，電流不流過電阻單元流動，第一開關單元截止，第二開關單元截止，并且輸出單元被構造為輸出指示LED陣列開路的高電壓值(VDD)。10.根據權利要求1所述的檢測電路，其中，所述檢測電路檢測多個LED陣列是否開路， 其中，電阻單元包括操作性地分別串聯連接到所述多個LED陣列的多個電阻器， 其中，第一開關單元包括操作性地分別連接到電阻單元的所述多個電阻器的多個開關元件， 其中，輸出單元被構造為當所述多個開關元件中的至少一個開關元件截止時產生指示存在...

【專利技術屬性】
技術研發人員：閔駿植，姜汰竟，柳凡善，
申請(專利權)人：美格納半導體有限公司，
類型：發明
國別省市：