缺陷檢測裝置和顯示面板制造方法及圖紙

本實(shí)用新型專利技術(shù)的實(shí)施例涉及一種缺陷檢測裝置和包括該缺陷檢測裝置的顯示面板。分用器可以將多條數(shù)據(jù)線連接到對應(yīng)的多條線路。缺陷檢測裝置包括提供有相應(yīng)的DC電壓的DC線路、連接到DC線路并被構(gòu)造為根據(jù)第一柵極信號將相應(yīng)的DC電壓發(fā)送到多條數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的第一數(shù)據(jù)線的第一開關(guān)、以及連接到第一DC線路至第三DC線路并被構(gòu)造為根據(jù)第二柵極信號將各DC電壓中的一個DC電壓發(fā)送到所條數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的第二數(shù)據(jù)線的第二開關(guān)。因此，可以檢測線路和分用器的缺陷。（*該技術(shù)在2022年保護(hù)過期，可自由使用*）

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

一個或多個實(shí)施例涉及一種用于檢測包括在顯示裝置中的線路和/或分用器的缺陷的方法和裝置、以及包括缺陷檢測裝置的顯示面板。
技術(shù)介紹
紅色、綠色和藍(lán)色(RGB) -DC電壓和柵極信號被用來檢查有源矩陣方法的顯示面板。在這樣的顯示面板中，與柵極信號同步地向多個紅色像素提供紅色(R) DC電壓，與柵極信號同步地向多個綠色像素提供綠色(G) DC電壓，與柵極信號同步地向多個藍(lán)色像素提供藍(lán)色(B) DC電壓。紅色像素、綠色像素和藍(lán)色像素因RDC電壓、⑶C電壓和BDC電壓而發(fā)光，并在發(fā)光狀態(tài)下檢查mura斑,其中mura斑是黑/白點(diǎn)、線缺陷、等等。在這樣的檢查操作期間，位于顯示面板和數(shù)據(jù)驅(qū)動電路之間的分用器處于截止?fàn)顟B(tài)。因此，可能沒有檢測形成分用器的薄膜晶體管(TFT)的缺陷以及分用器和數(shù)據(jù)驅(qū)動電路之間的線路的缺陷。在本
技術(shù)介紹
部分中公開的上述信息僅用于增加對本技術(shù)的背景的理解，因此，其可以包含不構(gòu)成作為本國的本領(lǐng)域普通技術(shù)人員已知的現(xiàn)有技術(shù)的信息。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
為了解決現(xiàn)有技術(shù)中的例如可能沒有檢測形成分用器的薄膜晶體管(TFT)以及分用器和數(shù)據(jù)驅(qū)動電路之間的線路的缺陷等問題和/或其他問題，一個或多個實(shí)施例提供一種檢測線路和分用器的缺陷的方法和裝置。一個或多個實(shí)施例提供一種用于檢測線路和/或分用器中的缺陷的方法和裝置以及包括該裝置的顯示面板。一個或多個實(shí)施例提供一種使用分用器的缺陷檢測裝置，分用器將多條數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的數(shù)據(jù)線連接到多條線路，所述缺陷檢測裝置包括:第一 DC線路至第三DC線路，向第一 DC線路至第三DC線路提供第一 DC電壓至第三DC電壓；多個第一開關(guān)，所述多個第一開關(guān)連接到第一 DC線路至第三DC線路，并被構(gòu)造為根據(jù)第一柵極信號而將第一 DC電壓至第三DC電壓中的一個DC電壓發(fā)送到所述多條數(shù)據(jù)線中的多條第一數(shù)據(jù)線；多個第二開關(guān)，所述多個第二開關(guān)連接到第一 DC線路至第三DC線路，并被構(gòu)造為根據(jù)第二柵極信號而將第一 DC電壓至第三DC電壓中的一個DC電壓發(fā)送到所述多條數(shù)據(jù)線中的多條第二數(shù)據(jù)線。分用器可以包括:多個第一 TFT，所述多個第一 TFT連接所述多條線路中的多條第一線路和所述多條數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的數(shù)據(jù)線；多個第二 TFT，所述多個第二 TFT連接所述多條線路中的多條第二線路和所述多條數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的數(shù)據(jù)線，其中，當(dāng)所述缺陷檢測裝置檢測多條線路中的短路缺陷時，所述多個第一開關(guān)和所述多個第二開關(guān)處于導(dǎo)通狀態(tài)，且僅所述多個第一 TFT或所述多個第二 TFT中的一個TFT處于導(dǎo)通狀態(tài)。當(dāng)所述多個第一 TFT處于導(dǎo)通狀態(tài)時，所述多條線路和所述多條數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的線路和數(shù)據(jù)線分別通過所述多個第一 TFT連接，當(dāng)所述多條線路中的一條線路短路時，經(jīng)所述多條數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的數(shù)據(jù)線連接到該短路的線路的多個像素根據(jù)因短路的線路而導(dǎo)致的短路電壓而發(fā)光。當(dāng)所述多個第二 TFT處于導(dǎo)通狀態(tài)時，所述多條線路和所述多條數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的線路和數(shù)據(jù)線分別通過所述多個第二 TFT連接，當(dāng)所述多條線路中的一條線路短路時，經(jīng)所述多條數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的數(shù)據(jù)線連接到該短路的線路的多個像素根據(jù)因短路的線路而導(dǎo)致的短路電壓而發(fā)光。分用器可以包括:多個第一 TFT，所述多個第一 TFT連接多條線路和所述多條數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的數(shù)據(jù)線；多個第二 TFT，所述多個第二 TFT連接多條線路和所述多條數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的數(shù)據(jù)線；當(dāng)所述缺陷檢測裝置檢測所述多個第一 TFT和所述多個第二 TFT中的缺陷時，所述多個第一 TFT和所述第二 TFT處于導(dǎo)通狀態(tài)，且僅所述多個第一開關(guān)或所述多個第二開關(guān)之一處于導(dǎo)通狀態(tài)。當(dāng)所述多個第一開關(guān)處于導(dǎo)通狀態(tài)、且所述多個第一 TFT和所述多個第二 TFT處于導(dǎo)通狀態(tài)時，對應(yīng)地連接到處于導(dǎo)通狀態(tài)的所述多個第一開關(guān)的第一數(shù)據(jù)線通過所述多個第一 TFT和/或所述多個第二 TFT中的對應(yīng)的TFT而連接到所述多條第二數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的第二數(shù)據(jù)線。當(dāng)所述多個第一 TFT和所述多個第二 TFT中的至少一個TFT有缺陷時，所述多條第二數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的第二數(shù)據(jù)線不接收和/或發(fā)送第一 DC電壓至第三DC電壓中的對應(yīng)的DC電壓。當(dāng)所述多個第二開關(guān)處于導(dǎo)通狀態(tài)、且所述多個第一 TFT和所述多個第二 TFT處于導(dǎo)通狀態(tài)時，對應(yīng)地連接到處于導(dǎo)通狀態(tài)的所述多個第二開關(guān)的第二數(shù)據(jù)線通過所述多個第一 TFT和/或所述多個第二 TFT中的對應(yīng)的TFT而連接到所述多條第一數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的第一數(shù)據(jù)線。當(dāng)所述多個第一 TFT和所述多個第二 TFT中的至少一個TFT有缺陷時，所述多條第一數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的第一數(shù)據(jù)線不接收和/或發(fā)送第一 DC電壓至第三DC電壓中的對應(yīng)的DC電壓。所述多個第一開關(guān)中的每個第一開關(guān)可以包括被構(gòu)造為接收第一柵極信號的柵電極、連接到第一 DC線路至第三DC線路中的對應(yīng)的DC線路的第一電極、以及連接到所述多條第一數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的數(shù)據(jù)線的第二電極。所述多個第二開關(guān)中的每個第二開關(guān)可以包括被構(gòu)造為接收第二柵極信號的柵電極、連接到第一 DC線路至第三DC線路中的對應(yīng)的DC線路的第一電極、以及連接到所述多條第二數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的數(shù)據(jù)線的第二電極。一個或多個實(shí)施例提供一種用于通過第一 TFT和第二 TFT連接到與第一像素陣列對應(yīng)的第一數(shù)據(jù)線以及與第二像素陣列對應(yīng)的第二數(shù)據(jù)線的線路的缺陷檢測方法，所述缺陷檢測方法包括下述步驟:將第一 DC電壓提供到第一數(shù)據(jù)線和第二數(shù)據(jù)線；僅導(dǎo)通第一TFT和第二 TFT中的一個TFT ;根據(jù)連接到第一 TFT和第二 TFT中的導(dǎo)通的TFT的第一像素陣列或第二像素陣列的發(fā)光狀態(tài)來檢測缺陷。當(dāng)?shù)谝?TFT導(dǎo)通時，檢測缺陷的步驟可以包括:當(dāng)?shù)谝幌袼仃嚵刑幱诋a(chǎn)生相對于預(yù)定的亮度來說是暗線或亮線的發(fā)光狀態(tài)時，將該線路檢測為是有缺陷的。檢測缺陷的步驟可以包括:當(dāng)?shù)谝幌袼仃嚵刑幱诋a(chǎn)生相對于灰度級范圍中的中間灰度級來說是暗線或亮線的發(fā)光狀態(tài)時，將該線路檢測為是有缺陷的。當(dāng)?shù)诙?TFT導(dǎo)通時，檢測缺陷的步驟可以包括:當(dāng)?shù)诙袼仃嚵刑幱诋a(chǎn)生相對于預(yù)定的亮度來說是暗線或亮線的發(fā)光狀態(tài)時，將該線路檢測為是有缺陷的。一個或多個實(shí)施例提供一種用于包括連接到與第一開關(guān)和第一像素陣列連接的第一數(shù)據(jù)線的第一 TFT和連接到與第二開關(guān)和第二像素陣列連接的第二數(shù)據(jù)線的第二 TFT的分用器的缺陷檢測方法，所述缺陷檢測方法包括下述步驟:僅導(dǎo)通第一開關(guān)和第二開關(guān)之一；導(dǎo)通第一TFT和第二TFT ;根據(jù)第一像素陣列和第二像素陣列的發(fā)光狀態(tài)來檢測第一TFT和/或第二 TFT中的缺陷。檢測缺陷的步驟可以包括:當(dāng)?shù)谝幌袼仃嚵械陌l(fā)光狀態(tài)和第二像素陣列的發(fā)光狀態(tài)不同時，檢測第一 TFT和/或第二 TFT中的缺陷。當(dāng)?shù)谝婚_關(guān)導(dǎo)通時，檢測缺陷的步驟可以包括:當(dāng)?shù)谝幌袼仃嚵酗@示黑色且第二像素陣列以預(yù)定的亮度進(jìn)行顯示時，將第一 TFT和第二 TFT中的至少一個TFT檢測為是有缺陷的。當(dāng)?shù)诙_關(guān)導(dǎo)通時，檢測缺陷的步驟可以包括:當(dāng)?shù)诙袼仃嚵酗@示黑色且第一像素陣列以預(yù)定的亮度進(jìn)行顯示時，將第一 TFT和第二 TFT中的至少一個TFT檢測為是有缺陷的。一個或多個實(shí)施例提供一種顯示面板，所述顯示面板包括:多條數(shù)據(jù)線；多個像素，所述多個像素分別連接到所述多條數(shù)據(jù)線；分用器，分用器將多條數(shù)據(jù)線連本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種使用分用器的缺陷檢測裝置，其特征在于，分用器將多條數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的數(shù)據(jù)線連接到多條線路，所述缺陷檢測裝置包括：第一DC線路至第三DC線路，向第一DC線路至第三DC線路提供第一DC電壓至第三DC電壓；多個第一開關(guān)，所述多個第一開關(guān)連接到第一DC線路至第三DC線路，并被構(gòu)造為根據(jù)第一柵極信號而將第一DC電壓至第三DC電壓中的一個DC電壓發(fā)送到所述多條數(shù)據(jù)線中的多條第一數(shù)據(jù)線；多個第二開關(guān)，所述多個第二開關(guān)連接到第一DC線路至第三DC線路，并被構(gòu)造為根據(jù)第二柵極信號而將第一DC電壓至第三DC電壓中的一個DC電壓發(fā)送到所述多條數(shù)據(jù)線中的多條第二數(shù)據(jù)線。

【技術(shù)特征摘要】
2011.12.01 KR 10-2011-01278071.一種使用分用器的缺陷檢測裝置，其特征在于，分用器將多條數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的數(shù)據(jù)線連接到多條線路，所述缺陷檢測裝置包括: 第一 DC線路至第三DC線路，向第一 DC線路至第三DC線路提供第一 DC電壓至第三DC電壓； 多個第一開關(guān)，所述多個第一開關(guān)連接到第一 DC線路至第三DC線路，并被構(gòu)造為根據(jù)第一柵極信號而將第一 DC電壓至第三DC電壓中的一個DC電壓發(fā)送到所述多條數(shù)據(jù)線中的多條第一數(shù)據(jù)線； 多個第二開關(guān)，所述多個第二開關(guān)連接到第一 DC線路至第三DC線路，并被構(gòu)造為根據(jù)第二柵極信號而將第一 DC電壓至第三DC電壓中的一個DC電壓發(fā)送到所述多條數(shù)據(jù)線中的多條第二數(shù)據(jù)線。2.如權(quán)利要求1所述的缺陷檢測裝置，其特征在于，分用器包括: 多個第一 TFT，所述多個第一 TFT連接所述多條線路中的多條第一線路和所述多條數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的數(shù)據(jù)線； 多個第二 TFT，所述多個第二 TFT連接所述多條線路中的多條第二線路和所述多條數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的數(shù)據(jù)線， 其中: 所述缺陷檢測裝置被構(gòu)造為在當(dāng)所述多個第一開關(guān)和所述多個第二開關(guān)處于導(dǎo)通狀態(tài)、且僅所述多個第一 TFT或所述多個第二 TFT中的一個TFT處于導(dǎo)通狀態(tài)時的狀態(tài)下，檢測所述多條線路中的短路缺陷。3.如權(quán)利要求2所述的缺陷檢測裝置，其特征在于: 當(dāng)所述多個第一 TFT處于導(dǎo)通狀態(tài)時，所述多條線路和所述多條數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的線路和數(shù)據(jù)線分別通過所述多個第一 TFT連接， 當(dāng)所述多條線路中的一條線路短路時，經(jīng)所述多條數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的數(shù)據(jù)線連接到該短路的線路的多個像素根據(jù)因短路的線路而導(dǎo)致的短路電壓而發(fā)光。4.如權(quán)利要求2所述的缺陷檢測裝置，其特征在于: 當(dāng)所述多個第二 TFT處于導(dǎo)通狀態(tài)時，所述多條線路和所述多條數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的線路和數(shù)據(jù)線分別通過所述多個第二 TFT連接， 當(dāng)所述多條線路中的一條線路短路時，經(jīng)所述多條數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的數(shù)據(jù)線連接到該短路的線路的多個像素根據(jù)因短路的線路而導(dǎo)致的短路電壓而發(fā)光。5.如權(quán)利要求1所述的缺陷檢測裝置，其特征在于，分用器包括: 多個第一 TFT，所述多個第一 TFT連接多條線路和所述多條數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的數(shù)據(jù)線； 多個第二 TFT，所述多個第二 TFT連接多條線路和所述多條數(shù)據(jù)線中的對應(yīng)的數(shù)據(jù)線； 所述缺陷檢測裝置被構(gòu)造為在當(dāng)所述多個第一 TFT和所述多個第二 TFT處于導(dǎo)通狀態(tài)、且僅所述多個第一開關(guān)或所述多個第二開關(guān)中的一個開關(guān)處于導(dǎo)通狀態(tài)時的狀態(tài)...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：賈智鉉，鄭鎮(zhèn)泰，
申請(專利權(quán))人：三星顯示有限公司，
類型：實(shí)用新型
國別省市：