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    分析方法技術

    技術編號:8794201 閱讀:179 留言:0更新日期:2013-06-13 01:02
    本發明專利技術提供一種用于檢測被分析物的裝置、檢測被分析物的方法、一種用于操作檢測裝置的機器以及一種用于操作檢測裝置的方法。一種用于檢測被分析物的裝置,包括:流體回路,其中該流體回路包括:具有入口的第一區;具有檢測區的微流體通道,該檢測區域與第一區流體連通;和,至少部分可被擠壓的第二區,該第二區與檢測區域流體連通;其中入口與第二區能相連接形成封閉的流體回路。

    【技術實現步驟摘要】

    本專利技術涉及(例如分析樣品中的一種或多種被分析物)。
    技術介紹
    可以進行分析以確定樣品中一種或多種被分析物的存在。陣列可用于對樣品進行多重分析(例如對于多種不同被分析物中的每種進行分析)。典型的陣列包括具有多個空間分隔開的測試區的基質,每個測試區具有不同的探針化合物,例如多核苷酸、抗體或蛋白。在使用中,將陣列與樣品接觸,然后樣品與陣列的位點相互作用。對于每個位點來說,相互作用可以包括例如相應的被分析物與位點的探針化合物的結合,和/或相應的被分析物與探針化合物之間的化學反應。反應產生可檢測的產物(例如沉淀)。相互作用的存在和程度取決于樣品中是否存在相應的被分析物。典型情況下,相互作用通過光學方法檢測(例如通過熒光)。例如,可以使用成像檢測器(例如CCD)進行光學檢測,成像檢測器在至少一個(例如兩個)維度上具有多個彼此分隔開的光敏元件(例如像素)。每個光敏元件被定位,以接收來自基質的不同空間位置的光。因此,由多個光敏元件同時檢測到的光可以組合起來,形成基質的至少一個(例如兩個)維度上的圖像數據。可以對圖像數據進行評估,以確定陣列的多個位點上相互作用的存在和/或程度。
    技術實現思路
    本專利技術涉及(例如分析樣品中的多種被分析物)。在一種情況下,方法包括: 將空間分隔的測試區的陣列與液體樣品相接觸,測試區布置在微流體裝置的第一基質的內表面與第二基質的內表面之間,至少一個基質是撓性的,每個測試區含有探針化合物,探針化合物被構造用于參與靶被分析物的分析。在對應于測試區的位置減小第一和第二基質的內表面之間的距離,以及 在相應位置處內表面之間的距離被減小的多個測試區中的每個測試區上,連續地光學測定相互作用的存在,每個測試區上的相互作用指示了樣品中靶被分析物的存在。方法可以進一步包括,對于多個測試區中的每個,根據光學測定的相互作用確定相應被分析物的存在。對于至少某些測試區中的每個來說,多個測試區的每個上的相互作用,可以是被分析物與測試區的探針化合物之間的結合反應。光學測定可以包 括使用零階檢測器檢測來自每個測試區的光。使用零階檢測器檢測來自每個測試區的光,可以基本上由使用零階檢測器檢測光構成。對于第一和第二基質的內表面之間的距離被減小的多個位置中的每個位置來說,方法可以進一步包括在測試區進行光學測定的步驟之后,隨后增加內表面之間的距離。減小距離可以包括在對應于測試區的位置連續地減小第一和第二基質的內表面之間的距離。在該實施方案中,對于第一和第二基質的內表面之間的距離被減小的多個位置中的每個位置來說,方法可以進一步包括在測試區光學測定結合的步驟之后,隨后增加內表面之間的距離。光學測定可以包括連續地檢測在相應位置處內表面之間的距離被減小的多個測試區中的每個上的相互作用。在一個實施方案中,光學檢測包括同時檢測來自不超過N個測試區的光,其中N彡5,或N彡3,或N=l。或者,光學檢測包括使用零階檢測器檢測來自每個測試區的光。使用零階檢測器檢測來自每個測試區的光,可以基本上由使用零階檢測器檢測光構成。光學檢測可以包括將微流體裝置相對于用于進行光學測定的光學檢測器的光學檢測區進行平移。減小距離包括將微流體裝置相對于對微流體裝置施加壓力的元件進行平移。將微流體裝置相對于元件平移可以包括旋轉元件的至少一部分。每個測試區可以是細長的,并限定了長軸。此外,微流體裝置的平移可以包括沿著與多個測試區中的每個的長軸大體垂直的平移軸平移裝置。例如,平移軸與多個測試區的長軸是垂直的,偏離在10°或以下,或甚至在5°或以下。此外,平移軸與大多數或甚至所有測試區的長軸可以是大體垂直的。在平移的步驟中,方法可以進一步包括讀取微流體裝置的參考碼中包含的信息,并根據讀取的信息確定多個測試區中的每個的性質。對于多個測試區中的每個來說,測定可以包括測定指示測試區何時位于用于進行光學檢測的光學檢測器的檢測區中的值。此外,測定可以包括測定微流體裝置的測試區的生理化學性質。例如,生理化學性質指示可以通過多個測試區中的每個測定的被分析物。此夕卜,測定可以包括測定在使用前儲存在微流體裝置中的反應物的身份。沿著測試區的長軸的長度與沿著垂直維度上的寬度的比率,可以為至少2.5或甚至至少5。在接觸步驟后,不用首先將測試區與不含樣品的液體相接觸,就可以進行光學檢測步驟。光學測定可以包括激發并檢測來自檢測區的熒光。在另一種情況下,方法包括: 將空間分隔的測試區的陣列與樣品相接觸,測試區布置在第一和第二表面之間,每個測試區含有探針化合物,探針化合物被構造用于參與相應被分析物的分析。在對應于測試區的位置減小內表面之間的距離,以及 在相應位置處內表面之間的距離被減小的多·個測試區中的每個測試區上,連續地光學測定分析的結果。對于多個測試區中的每個來說,方法可以進一步包括根據分析的結果確定相應被分析物的存在。對于至少某些測試區中的每個來說,分析的結果可以指示被分析物與測試區的探針化合物之間的結合反應。光學測定可以包括使用零階檢測器檢測來自每個測試區的光。使用零階檢測器檢測來自每個測試區的光,可以基本上由使用零階檢測器檢測光構成。對于內表面之間的距離被減小的多個位置中的每個來說,方法可以進一步包括在測試區進行光學測定的步驟之后,隨后增加內表面之間的距離。減小距離可以包括在對應于測試區的位置連續地減小內表面之間的距離。在另一種情況下,系統包含: 微流體裝置讀數器,被構造用于接收微流體裝置,微流體裝置含有空間分隔的測試區的陣列,測試區布置在微流體裝置的第一基質的內表面與第二基質的內表面之間,至少一個基質是撓性的,每個測試區含有探針化合物,探針化合物被構造用于參與靶被分析物的分析, 光學檢測器,被構造用于當至少一個測試區位于微流體裝置的檢測區內時,檢測來自至少一個檢測區的光, 平移器,被構造用于將微流體裝置和光學檢測器的檢測區中的至少一個相對于彼此進行平移, 擠壓器,被構造用于在對應于光學裝置的檢測區的位置上減小第一和第二基質的內表面之間的距離, 處理器,被構造用于接收來自光學檢測器的信號,信號指示了從測試區檢測到的光。系統可以被構造用于連續地光學檢測來自不超過N個測試區的光,其中N < 5,或N 彡 3,或 N=I。檢測器可以是熒光檢測器。在另一種情況下,分析裝置含有第一和第二基質,它們限定了其間的通道,至少一個基質是撓性的,通道含有空間分隔開的測試區的陣列,每個測試區含有探針化合物,探針化合物被構造用于參與靶被分析物的分析。在另一種情況下,制造的物件包括: 基質,以及 多個細長的測試區,每個測試區含有相應的探針化合物,探針化合物被構造用于參與靶被分析物的分析,每個測試區限定了長軸以及與它垂直的寬度,測試區的長軸大體上是平行的。在另一種情況下,方法包括: 將液體樣品導入毛細管的孔,以及 通過降低作用在液體樣品的液體樣品-氣體界面上的壓力,將至少一部分液體樣品導入微流體裝置的微流體網絡中。在將液體樣品導入毛細管的孔的步驟之后,方法可以進一步包括將毛細管與微流體裝置相連,液體樣品保留在毛細管中。降低壓力可以通過擠壓至少一部分微流體網絡以從其中排出氣體,然后降低至少一部分微流體網絡的壓力來進行。微流體網絡可以至少部分由大體上為平面的第一和第二基質所限定,并位于它們之間本文檔來自技高網...

    【技術保護點】
    一種用于檢測被分析物的裝置,包括:?流體回路,其中該流體回路包括:具有入口的第一區;具有檢測區的微流體通道,該檢測區域與第一區流體連通;和,至少部分可被擠壓的第二區,該第二區與檢測區域流體連通;其中入口與第二區能相連接形成封閉的流體回路。

    【技術特征摘要】
    2007.05.03 US 60/915,884;2008.03.14 US 61/036,5371.一種用于檢測被分析物的裝置,包括:流體回路,其中該流體回路包括:具有入口的第一區;具有檢測區的微流體通道,該檢測區域與第一區流體連通;和,至少部分可被擠壓的第二區,該第二區與檢測區域流體連通;其中入口與第二區能相連接形成封閉的流體回路。2.根據權利要求1所述的裝置,該裝置還包括一密封元件,該元件可以可逆地或不可逆地把入口連接到第二區形成封閉的流體回路。3.根據權利要求1或2所述的裝置,該裝置被構造成在流體樣本與入口接觸后,毛細作用將液體樣品吸入第一區。4.一種用于檢測被分析物的方法,包括: 提供一種用于檢測被分析物的裝置,該檢測裝置包括:流體回路,其中該流體回路包括:具有入口的第一區;具有檢測區的微流體通道,該檢測區域與第一區流體連通;和,至少部分可被擠壓的第二區,該第二區與檢測區域流體連通;其中入口與第二區相連形成流體回路; 在流體回路處于開發狀態下,讓液體樣本與流體回路的入口接觸; 連接入口與第二區域形成封閉的流體回路; 布置一輥子在第二區上,讓第二區處于被擠壓的狀態; 在維持擠壓狀態的同時,相對于第二個區移動輥子,從而把液體樣本移動到檢測區; 測試檢測區上的被分析物。5.根據權利要求4所述的方法 ,輥子的移動在輥子的兩側產生壓力差,壓力差誘導液體的移動,從而恢復相同的壓力差。6.根據權利要求4或5所述的方法,該方法還包括:相對彼此移動檢測區域和檢測器來查看檢測區的另外部分,和重復檢測步驟。7.根據權利要求4-6之一的方法,其中,當檢測區被充滿的時候進行檢測。8.根據權利要求4-7之一的方法,其中,被分析物為輔助性T細胞。9.根據權利要求8的方法,其中,在回路中,輔助性T細胞與標記有第一熒光染料的抗⑶4+的抗體和標記有第二熒光染料的抗⑶3+的抗體反應。10.根據權利要求9的方法,其中,輔助性T細胞與標記有熒光染料的抗體反應后,包括有熒光輔助性T細胞被移動到檢測區。11.根據權利要求1的方法,其中,與檢測區對應的部分微流體通道是透明的。12.一種用于操作檢測裝置的機器,其中,檢測裝置包括:流體回路,其中流體回路包括:第一區;至少部分透明的通道;至少部分可被擠壓的第二區;在第一區和第二區之間的緊密連接件;該機器還包括一輥子,該輥子被構造成讓部分第二區上的區域處于擠壓的狀態,其中, 在擠壓的狀態下,輥子與第二區彼此相對移動;和被構造檢測通道中微粒...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:托馬斯·凱澤克勞斯彼得·默比烏斯托爾斯滕·舒爾茨托馬斯·烏利希亞歷山大·范申克楚施魏因斯貝格尤金·埃曼特勞特延斯·圖赫舍雷爾
    申請(專利權)人:科隆迪亞戈有限公司
    類型:發明
    國別省市:

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