放射線斷層攝影裝置、被照射射線量計算方法以及程序制造方法及圖紙

本發明專利技術涉及放射線斷層攝影裝置、被照射射線量計算方法以及程序。其顯示與攝影對象的表面或其附近對應的被照射射線量。例如，基于在對CTDI測定用標準模型（50）進行掃描時在其表面的附近位置處使用X傳感器（51）測定的放射線射線量來計算該被照射射線量。測定放射線射線量的位置，例如是為使顯示的被照射射線量為與表面對應的被照射射線量中最大的被照射射線量，而設定為不受到托架（12）導致的X射線（81）的減弱的影響的、模型（50）的正上方側的表面附近位置（B）。從而提供能進行攝影對象的更正確的被照射評價的信息。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及放射線斷層攝影裝置、被照射射線量計算方法以及為此的程序(program)ο
技術介紹
在以X射線CT (Computed Tomography)裝置為代表的放射線斷層攝影裝置中，確定為顯示表示每單位切片(slice)厚的被照射射線量的CTDI值、表示I次檢查整體中的被照射射線量的DLP值(例如，參照專利文獻1，圖27等)。由此，能進行攝影對象的被照射評價。專利文獻1:日本特開2007-54372號公報。
技術實現思路
然而，實際上，被照射射線量的分布并不均勻，在攝影部位的表面最大，越接近中心部越小。另外，放射線感受性高的部位，存在于被檢體的體表面附近。因此，僅用現行那樣的表示每單位切片厚的被照射射線量的CTDI值、表示I次檢查整體的被照射射線量的DLP值，不能夠正確地進行攝影對象的被照射評價。由于這樣的情況，希望有提供能進行攝影對象的更正確的被照射評價的信息的技術。第I觀點的專利技術提供一種放射線斷層攝影裝置，顯示與攝影對象的表面附近對應的被照射射線量。第2觀點的專利技術提供如上述第I觀點的放射線斷層攝影裝置，其中，具備計算單元，所述計算單元基于對模型(phantom)進行放射線照射時、僅在所述模型的表面附近測定位置處測定的放射線射線量，計算所述被照射射線量。第3觀點的專利技術提供如上述第2觀點的放射線斷層攝影裝置，其中，所述計算單元基于在對模型進行放射線照射時、在作為所述模型的表面附近的測定位置的、放射線射線量實質上成為最大的位置處測定的放射線射線量，計算所述被照射射線量。第4觀點的專利技術提供如上述第3觀點的放射線斷層攝影裝置，其中，所述模型承載于攝影臺(table)的桌面上，所述放射線實質上成為最大的位置是最接近放射線源的位置。第5觀點的專利技術提供如上述第2觀點到第4觀點的任一觀點的放射線斷層攝影裝置，其中，所述計算單元基于對所述模型進行掃描(scan)時、在所述表面附近的測定位置處測定的第I放射線射線量，計算所述被照射射線量。第6觀點的專利技術提供如上述第2觀點到第4觀點的任一觀點的放射線斷層攝影裝置，其中，所述計算單元基于將對所述模型進行掃描時在所述表面附近的測定位置處測定的放射線射線量、除以對所述 模型以與該掃描相同的放射線束(beam)寬度進行放射線照射時在該測定位置處測定的放射線束寬度方向的射線量曲線(profile)用其峰(peak)射線量值歸一化后的曲線面積而成的第I放射線射線量，計算所述被照射射線量。第7觀點的專利技術提供如上述第6觀點的放射線斷層攝影裝置，其中，所述射線量曲線是將所述放射線源配置于互相不同的多個觀察(view)角度而進行放射線照射時測定的多個射線量曲線平均化的曲線。第8觀點的專利技術提供如上述第5觀點到第7觀點的任一觀點的放射線斷層攝影裝置，其中，在設定螺旋掃描(helical scan)作為期望掃描條件的情況下，所述計算單元基于所述第I放射線射線量除以螺旋間距(helical pitch)而成的放射線射線量,計算所述被照射射線量。第9觀點的專利技術提供如上述第5觀點到第7觀點的任一觀點的放射線斷層攝影裝置，其中，在設定可變間距螺旋掃描作為期望掃描條件的情況下，所述計算單元基于所述第I放射線射線量除以使用時間加權平均得到的螺旋間距換算值而成的放射線射線量，計算所述被照射射線量。第10觀點的專利技術提供如上述第5觀點到第9觀點的任一觀點的放射線斷層攝影裝置，其中，在設定照射不足360度的量的放射線的局部掃描(partial scan)作為期望掃描條件的情況下，所述計算單元基于進行所述局部掃描的觀察角度范圍，計算所述被照射射線量。第11觀點的專利技術提供如上述第5觀點到第9觀點的任一觀點的放射線斷層攝影裝置，其中，在設定照射不足360度的量的放射線的局部掃描作為期望掃描條件的情況下，所述計算單元基于進行所述局部掃描作為對所述模型的掃描時所得的所述第I放射線射線量，計算所述被照射射線量。第12觀點的專利技術提供如上述第5觀點到第9觀點的任一觀點的放射線斷層攝影裝置，其中，在設定照射不足360度的量的放射線的局部掃描作為期望掃描條件的情況下，所述計算單元基于將 在互相不同的多個觀察角度范圍中進行局部掃描作為對所述模型的掃描時所得的多個所述第I放射線射線量平均化的放射線射線量，計算所述被照射射線量。第13觀點的專利技術提供如上述第5觀點到第9觀點的任一觀點的放射線斷層攝影裝置，其中，對所述模型的掃描是照射360度的量的放射線的全掃描。第14觀點的專利技術提供如上述第2觀點到第13觀點的任一觀點的放射線斷層攝影裝置，其中，所述模型是丙烯制的，具有直徑16cm或32cm的圓柱形狀， 所述表面附近的測定位置是距離所述表面0.5cm以上、2cm以下的深度的位置。第15觀點的專利技術提供一種被照射射線量計算方法， 基于對模型進行放射線照射時、僅在所述模型的表面附近的測定位置處測定的放射線射線量，計算利用放射線斷層攝影裝置進行攝影的攝影對象的被照射射線量。第16觀點的專利技術提供如上述第15觀點的被照射射線量計算方法，其中，預先測定對所述模型進行掃描時的所述表面附近的測定位置處的第I放射線射線量，基于該第I放射線射線量計算所述被照射射線量。第17觀點的專利技術提供如上述第15觀點的被照射射線量計算方法，其中，預先測定對所述模型進行掃描時的所述表面附近的測定位置處的放射線射線量、和對所述模型以與該掃描相同的放射線束寬度進行放射線照射時的該測定位置處的放射線束寬度方向的射線量曲線用其峰射線量值歸一化后的曲線面積，基于所述表面附近的測定位置處的放射線射線量除以所述曲線面積而成的第I放射線射線量，計算所述被照射射線量。第18觀點的專利技術提供一種用于使計算機作為計算單元起作用的程序，所述計算單元基于對模型進行放射線照射時僅在所述模型的表面附近的測定位置處測定的放射線射線量，計算利用放射線斷層攝影裝置進行攝影的攝影對象的被照射射線量。第19觀點的專利技術提供如上述第18觀點的程序，其中，所述計算單元基于對所述模型進行掃描時在所述表面附近的測定位置處測定的第I放射線射線量，計算所述被照射射線量。第20觀點的專利技術提供如上述第18觀點的程序，其中，所述計算單元基于對所述模型進行掃描時在所述表面附近的測定位置處測定的放射線射線量、除以對所述模型以與該掃描相同的放射線束寬度進行放射線照射時在該測定位置處測定的放射線束寬度方向的射線量曲線用其峰射線量值歸一化后的曲線面積而成的第I放射線射線量，計算所述被照射射線量。依據上述觀 點的專利技術，能夠算出被照射射線量實質上成為最大的、與攝影對象的表面附近對應的被照射射線量，能夠提供能進行攝影對象的更正確的被照射評價的信息。附圖說明圖1是概略地示出根據專利技術的實施方式的X射線CT裝置的結構的圖。圖2是根據第I實施方式的X射線CT裝置中的被照射射線量計算處理的執行所涉及的部分的功能塊(block)圖。圖3是示出被照射射線量計算部所存儲的第一及第二表的圖。圖4是示出標準模型及X射線傳感器的一個例子的圖。圖5是示出將攝影對象承載于托架上而進行全掃描的情況的圖。圖6是示出根據第I實施方式的X射線CT裝置中的被照射射線量計算處理的流程的流程圖。圖7是示出算出的被照射射線量的顯示例的圖。圖8是示出射線量曲線的一個例子的圖。圖9是本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種放射線斷層攝影裝置，顯示與攝影對象的表面附近對應的被照射射線量。

【技術特征摘要】
2011.11.29 JP 2011-2604801.一種放射線斷層攝影裝置，顯示與攝影對象的表面附近對應的被照射射線量。2.如權利要求1所述的放射線斷層攝影裝置，其中，具備計算單元，所述計算單元基于對模型進行放射線照射時、僅在所述模型的表面附近的測定位置處測定的放射線射線量，計算所述被照射射線量。3.如權利要求2所述的放射線斷層攝影裝置，其中，所述計算單元基于在對模型進行放射線照射時、在作為所述模型的表面附近的測定位置的、放射線射線量實質上成為最大的位置處測定的放射線射線量，計算所述被照射射線量。4.如權利要求3所述的放射線斷層攝影裝置，其中， 所述模型承載于攝影臺的桌面上， 所述放射線實質上成為最大的位置是最接近放射線源的位置。5.如權利要求2到4的任一項所述的放射線斷層攝影裝置，其中，所述計算單元基于對所述模型進行掃描時、在所述表面附近的測定位置處測定的第I放射線射線量，計算所述被照射射線量。6.如權利要求2到4的任一項所述的放射線斷層攝影裝置，其中，所述計算單元基于將對所述模型進行掃描時、在所述表面附近的測定位置處測定的放射線射線量、除以對所述模型以與該掃描相同的放射線束寬度進行放射線照射時在該測定位置處測定的放射線束寬度方向的射線量曲線用其峰射線量值歸一化后的曲線面積而成的第I放射線射線量，計算所述被照射射線量。7.如權利要求6所述的放射線斷層攝影裝置，其中，所述射線量曲線是將放射線源配置于互相不同的多個觀察角度而進行放射線照射時測定的多個射線量曲線平均化后的曲線。8.如權利要求5到7的任一項所述的放射線斷層攝影裝置，其中，在設定螺旋掃描作為期望掃描條件的情況下，所述計算單元基于所述第I放射線射線量除以螺旋間距而成的放射線射線量，計算所述被照射射線量。9.如權利要求5到7的任一項所述的放射線斷層攝影裝置，其中，在設定可變間距螺旋掃描作為期望掃描條件的情況下，所述計算單元基于所述第I放射線射線量除以使用時間加權平均得到的螺旋間距換算值而成的放射線射線量，計算所述被照射射線量。10.如權利要求5到9的任一項所述的放射線斷層攝影裝置，其中，在設定照射不足360度的量的放射線的局部掃描作為期望掃描條件的情況下，所述計算單元基于進行所述局部掃描的觀察角度范圍，計算所述被照射射線量。11.如權利要求5到9的任一項所述的放射線斷層攝影裝置，其中，在設定照射不足360度的量的放射線的局部掃描作為期望掃描條...

【專利技術屬性】
技術研發人員：石原陽太郎，
申請(專利權)人：GE醫療系統環球技術有限公司，
類型：發明
國別省市：