本發(fā)明專利技術(shù)實(shí)施例公開了一種仿真裝置，包括：參數(shù)提取模塊，用于提取瓊斯矩陣模型的偏振光輸入?yún)?shù)、偏振參數(shù)、偏振光檢測(cè)參數(shù)；代碼處理模塊，用于生成分別描述參數(shù)提取模塊提取的偏振光輸入?yún)?shù)、偏振參數(shù)、偏振光檢測(cè)參數(shù)的程序代碼；運(yùn)行模塊，用于運(yùn)行代碼處理模塊生成的程序代碼，得到描述光偏振器件偏振效果的數(shù)據(jù)；輸出模塊，用于輸出運(yùn)行模塊運(yùn)行得到的描述光偏振器件偏振效果的數(shù)據(jù)。本發(fā)明專利技術(shù)實(shí)施例還公開了一種仿真方法。采用本發(fā)明專利技術(shù)，在測(cè)試光偏振器件的偏振效果時(shí)，無需搭建實(shí)體測(cè)試設(shè)備，也無需消耗光偏振器件材料，減少了測(cè)試光偏振器件偏振效果時(shí)的成本投入，避免了測(cè)試光偏振器件偏振效果過程中光偏振器件制作材料的消耗。
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及光偏振器件偏振效果的測(cè)試領(lǐng)域，具體而言，尤其涉及一種用于測(cè)試光偏振器件偏振效果的仿真裝置及仿真方法。
技術(shù)介紹
當(dāng)前，偏振光有著非常廣泛的用途，例如，可用于分析機(jī)械的各個(gè)部件之間的應(yīng)力分布、用于測(cè)試溶液的濃度等。當(dāng)然，偏振光在生物、醫(yī)學(xué)、航空等領(lǐng)域也有廣泛的應(yīng)用。不同用途的偏振光，其可能由不同的光偏振器件產(chǎn)生，也可能由同一光偏振器件產(chǎn)生?；谄窆獾膹V泛應(yīng)用，測(cè)試產(chǎn)生偏振光的光偏振器件的偏振效果，也成為了一個(gè)重要的研究課題?，F(xiàn)有技術(shù)中，測(cè)試光偏振器件的偏振效果的方法為:通過構(gòu)建精密的測(cè)量?jī)x器組，包括起偏器、檢偏器、光屏、支撐臺(tái)、支柱、檢測(cè)臺(tái)、步進(jìn)電機(jī)、計(jì)算機(jī)等，來檢測(cè)光偏振器件對(duì)光的偏振效果。在整套測(cè)試設(shè)備中，可通過改變起偏器透光軸與X軸的夾角、檢偏器透光軸與X軸的夾角以及光偏振器件長(zhǎng)軸與X軸的夾角等，來測(cè)定光偏振器件的不同偏振效果。在上述測(cè)試過程中，不僅需要耗費(fèi)大量的時(shí)間，并且構(gòu)建整套測(cè)試設(shè)備也需要投入大量的成本，以及還需要消耗較多的光偏振器件制作材料。因此如何構(gòu)建一種性價(jià)比更高的測(cè)試光偏振器件偏振效果的系統(tǒng)成了亟待解決的問題。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本專利技術(shù)實(shí)施例所要解決的技術(shù)問題在于，提供，能夠減少測(cè)試光偏振器件偏振效果時(shí)的成本投入，避免了測(cè)試光偏振器件偏振效果過程中光偏振器件制作材料的消耗。為了解決上述技術(shù)問題，本專利技術(shù)實(shí)施例提供了一種仿真裝置，包括:參數(shù)提取模塊，用于提取瓊斯矩陣模型的偏振光輸入?yún)?shù)、偏振參數(shù)、以及偏振光檢測(cè)參數(shù)；代碼處理模塊，用于生成分別描述所述參數(shù)提取模塊提取的偏振光輸入?yún)?shù)、偏振參數(shù)、偏振光檢測(cè)參數(shù)的程序代碼；運(yùn)行模塊，用于運(yùn)行所述代碼處理模塊生成的程序代碼，得到描述光偏振器件偏振效果的數(shù)據(jù)；輸出模塊，用于輸出所述運(yùn)行模塊運(yùn)行得到的描述所述光偏振器件偏振效果的數(shù)據(jù)。其中，所述偏振光輸入?yún)?shù)包括偏振光的振幅、起偏器透光軸與X軸的夾角，諧振因子；所述偏振參數(shù)包括所述光偏振器件長(zhǎng)軸與X軸的夾角參數(shù)、所述光偏振器件引入的相位差；所述偏振光檢測(cè)參數(shù)為檢偏器透光軸與X軸的夾角。其中，所述仿真裝置還包括:參數(shù)接收模塊，用于接收用戶輸入的調(diào)節(jié)所述起偏器透光軸與X軸的夾角、光偏振器件長(zhǎng)軸與X軸的夾角、所述光偏振器件引入的相位差、以及檢偏器透光軸與X軸的夾角中的至少一個(gè)參數(shù)；所述代碼處理模塊，還用于根據(jù)所述參數(shù)接收模塊接收到的參數(shù)，調(diào)節(jié)所述參數(shù)對(duì)應(yīng)的程序代碼。其中，所述輸出模塊輸出的描述所述光偏振器件偏振效果的數(shù)據(jù)包括:所述偏振光穿過光偏振器件后的偏振狀態(tài)、光強(qiáng)、X軸上的光強(qiáng)、Y軸上的光強(qiáng)中的至少一個(gè)。其中，所述輸出模塊用于以圖形格式輸出所述運(yùn)行模塊運(yùn)行得到的描述所述光偏振器件偏振效果的數(shù)據(jù)。相應(yīng)地，本專利技術(shù)實(shí)施例還提供了一種仿真方法，包括:提取瓊斯矩陣模型的偏振光輸入?yún)?shù)、偏振參數(shù)、以及偏振光檢測(cè)參數(shù)；生成描述所述偏振光輸入?yún)?shù)的程序代碼、生成描述所述偏振參數(shù)的程序代碼、生成描述所述偏振光檢測(cè)參數(shù)的程序代碼；運(yùn)行所述程序代碼，得到描述光偏振器件偏振效果的數(shù)據(jù)；輸出所述描述所述光偏振器件偏振效果的數(shù)據(jù)。其中，所述偏振光輸入?yún)?shù)包括偏振光的振幅、起偏器透光軸與X軸的夾角，諧振因子；所述偏振參數(shù)包括所述光偏振器件長(zhǎng)軸與X軸的夾角參數(shù)、所述光偏振器件引入的相位差；所述偏振光檢測(cè)參數(shù)為檢偏器透光軸與X軸的夾角。其中，在生成描述所述偏振光輸入?yún)?shù)的程序代碼、生成描述所述偏振參數(shù)的程序代碼、生成描述所述偏振光檢測(cè)參數(shù)的程序代碼之后，還包括:接收用戶輸入的調(diào)節(jié)所述起偏器透光軸與X軸的夾角、光偏振器件長(zhǎng)軸與X軸的夾角、所述光偏振器件引入的相位差、或檢偏器透光軸與X軸的夾角中的至少一個(gè)參數(shù)；調(diào)節(jié)所述生成的程序代碼中該參數(shù)對(duì)應(yīng)的程序代碼。其中，所述輸出的描述所述光偏振器件偏振效果的數(shù)據(jù)包括:所述偏振光穿過光偏振器件后的偏振狀態(tài)、光強(qiáng)、X軸上的光強(qiáng)、Y軸的上的光強(qiáng)中的至少一個(gè)。其中，所述輸出所述描述所述光偏振器件偏振效果的數(shù)據(jù)，包括:以圖形格式輸出所述描述所述光偏振器件偏振效果的數(shù)據(jù)。實(shí)施本專利技術(shù)實(shí)施例，具有如下有益效果:能夠根據(jù)提取的瓊斯矩陣模型中的偏振光輸入?yún)?shù)、偏振參數(shù)、以及偏振光檢測(cè)參數(shù)，對(duì)應(yīng)生成描述描述所述偏振光輸入?yún)?shù)的程序代碼、描述所述偏振參數(shù)的程序代碼、描述所述偏振光檢測(cè)參數(shù)的程序代碼，通過運(yùn)行生成的各程序代碼，即可得到并輸出描述光偏振器件偏振效果的數(shù)據(jù)。如此設(shè)計(jì)，在測(cè)試光偏振器件的偏振效果時(shí)，無需搭建實(shí)體測(cè)試設(shè)備，也無需消耗光偏振器件材料，減少了測(cè)試光偏振器件偏振效果時(shí)的成本投入，避免了測(cè)試光偏振器件偏振效果過程中光偏振器件制作材料的消耗。附圖說明為了更清楚地說明本專利技術(shù)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對(duì)實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡(jiǎn)單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本專利技術(shù)的一些實(shí)施例，對(duì)于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提下，還可以根據(jù)這些附圖獲得其他的附圖。圖1是本專利技術(shù)的一種仿真裝置第一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖2是本專利技術(shù)的一種仿真裝置第二實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3是本專利技術(shù)的一種仿真方法第一實(shí)施例的流程示意圖；圖4是本專利技術(shù)的一種仿真方法第二實(shí)施例的流程示意圖。具體實(shí)施例方式下面將結(jié)合本專利技術(shù)實(shí)施例中的附圖，對(duì)本專利技術(shù)實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本專利技術(shù)一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒緦＠夹g(shù)中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本專利技術(shù)保護(hù)的范圍。請(qǐng)參考圖1，是本專利技術(shù)提供的一種仿真裝置第一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖，所述仿真裝置用于測(cè)試光偏振器件偏振效果，包括:參數(shù)提取模塊11，用于提取瓊斯矩陣模型的偏振光輸入?yún)?shù)、偏振參數(shù)、以及偏振光檢測(cè)參數(shù)；任一偏振光通過一光偏正器件后的偏振情況，均可以表達(dá)成一個(gè)由兩個(gè)分量構(gòu)成的光矢量。例如，若定義沿Z軸傳播的偏振 光穿過一光偏振器件后,光矢量在X-Y坐標(biāo)軸上的投影為: (Ex(t)\ F y-1 ,(“d[_ U(oJ'°e \Ε^) ⑴其中,wi)為該偏振光入射光偏振器件之前的光矢量表達(dá)式，E0為該偏振光的 (E βιφχλ振幅，wt為該偏振光的諧振因子。m七為X-Y坐標(biāo)系中的瓊斯矢量，Eox為該偏振光從 \ °ye )光偏振器件射出后振幅在X軸上的投影，Etjy為該偏振光從光偏振器件射出后振幅在Y軸上的投影，Φχ為該偏振光從光偏振器件射出后在X軸方向上的相位，Φγ為該偏振光從光偏振器件射出后在Y軸方向上的相位。由于X-Y坐標(biāo)系中的任一矢量均可由分解為X軸和Y軸的上的兩個(gè)分量，因此，由公式(I)可知，偏振光穿過光偏振器件后的偏振情況，均可表示為: Εχ~\「￡^~|, = *M.......(2) _ΕΥ」LA _公式(2)稱為光偏振器件的瓊斯矩陣模型,任一偏振光穿過光偏振器件后的偏振情況，均可表不為該偏振光與某一矩陣的乘積。其中，Ex為沿Z軸傳播的偏振光入射光偏振器件前在X軸上的投影，Ey為該偏振光入射光偏振器件前在Y軸上的投影。E' χ為該偏振光穿過光偏振器件后在X軸上的投影，E' γ為該偏振光穿過光偏振器件后在Y軸上的投影，該矩陣M稱為瓊斯矩陣。其中，M的通用表達(dá)式為:本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種仿真裝置，其特征在于，包括：參數(shù)提取模塊，用于提取瓊斯矩陣模型的偏振光輸入?yún)?shù)、偏振參數(shù)、以及偏振光檢測(cè)參數(shù)；代碼處理模塊，用于生成分別描述所述參數(shù)提取模塊提取的偏振光輸入?yún)?shù)、偏振參數(shù)、偏振光檢測(cè)參數(shù)的程序代碼；運(yùn)行模塊，用于運(yùn)行所述代碼處理模塊生成的程序代碼，得到描述光偏振器件偏振效果的數(shù)據(jù)；輸出模塊，用于輸出所述運(yùn)行模塊運(yùn)行得到的描述所述光偏振器件偏振效果的數(shù)據(jù)。
【技術(shù)特征摘要】
1.種仿真裝置，其特征在于，包括: 參數(shù)提取模塊，用于提取瓊斯矩陣模型的偏振光輸入?yún)?shù)、偏振參數(shù)、以及偏振光檢測(cè)參數(shù)； 代碼處理模塊，用于生成分別描述所述參數(shù)提取模塊提取的偏振光輸入?yún)?shù)、偏振參數(shù)、偏振光檢測(cè)參數(shù)的程序代碼； 運(yùn)行模塊，用于運(yùn)行所述代碼處理模塊生成的程序代碼，得到描述光偏振器件偏振效果的數(shù)據(jù)； 輸出模塊，用于輸出所述運(yùn)行模塊運(yùn)行得到的描述所述光偏振器件偏振效果的數(shù)據(jù)。2.權(quán)利要求1所述的仿真裝置，其特征在于，所述偏振光輸入?yún)?shù)包括偏振光的振幅、起偏器透光軸與X軸的夾角，諧振因子；所述偏振參數(shù)包括所述光偏振器件長(zhǎng)軸與X軸的夾角參數(shù)、所述光偏振器件引入的相位差；所述偏振光檢測(cè)參數(shù)為檢偏器透光軸與X軸的夾角。3.權(quán)利要求2所述的仿真裝置，其特征在于，所述仿真裝置還包括: 參數(shù)接收模塊，用于接收用戶輸入的調(diào)節(jié)所述起偏器透光軸與X軸的夾角、光偏振器件長(zhǎng)軸與X軸的夾角、所述光偏振器件引入的相位差、以及檢偏器透光軸與X軸的夾角中的至少一個(gè)參數(shù)； 所述代碼處理模塊，還用于根據(jù)所述參數(shù)接收模塊接收到的參數(shù)，調(diào)節(jié)所述參數(shù)對(duì)應(yīng)的程序代碼。4.權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的仿真裝置，其特征在于，所述輸出模塊輸出的描述所述光偏振器件偏振效果的數(shù) 據(jù)包括: 所述偏振光穿過光偏振器件后的偏振狀態(tài)、光強(qiáng)、X軸上的光強(qiáng)、Y軸上的光強(qiáng)中的至少一個(gè)。5.權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的仿真裝置，其特征在于，所述輸出模塊用于以圖形格式輸出所述運(yùn)行模塊運(yùn)行得到的描述所述光偏振器件偏振...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：劉若鵬，易翔，黃灃，季春霖，劉斌，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：深圳光啟高等理工研究院，
類型：發(fā)明
國別省市：
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