液晶顯示器斷線檢測電路及檢測方法技術(shù)

本發(fā)明專利技術(shù)公開了一種液晶顯示器斷線檢測電路及檢測方法，該電路中，每個(gè)第一晶體管的柵極與每條柵極信號線連接，源極與每條數(shù)據(jù)信號線連接，每條數(shù)據(jù)信號線的第一端通過對應(yīng)的數(shù)據(jù)引線與數(shù)據(jù)焊點(diǎn)連接，每條柵極信號線的第一端直接通過對應(yīng)的柵極引線與柵極焊點(diǎn)連接，每個(gè)第二晶體管的源極與對應(yīng)的柵極信號線的第二端連接，每個(gè)第二晶體管的漏極通過對應(yīng)的柵極引線與柵極焊點(diǎn)連接，多個(gè)第二晶體管的柵極串聯(lián)成一條引線與外圍焊點(diǎn)連接。采用本發(fā)明專利技術(shù)可以檢測出信號線有無斷線及斷線的具體位置。

【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】

本專利技術(shù)涉及液晶顯示領(lǐng)域的檢測電路，尤其涉及一種液晶顯示器雙向驅(qū)動(dòng)的斷線檢測電路及檢測方法。
技術(shù)介紹
目前大尺寸的薄膜晶體管液晶顯示器(Thin Film Transistor一Liquid CrystalDisplay, TFT-1XD)設(shè)計(jì)中，經(jīng)常會采用雙向驅(qū)動(dòng)的設(shè)計(jì)方法，以保證大尺寸顯示區(qū)像素充電均勻。故采用的信號線數(shù)量多，一般在設(shè)計(jì)雙向電路時(shí)要對其信號線進(jìn)行檢測，判斷是否存在斷線，以提高液晶顯示器的顯示質(zhì)量。目前的液晶顯示器雙驅(qū)動(dòng)電路的檢測電路，如圖1所示，多條柵極信號線15及多條數(shù)據(jù)信號線16，多個(gè)第一晶體管11，其柵極、源極分別與柵極信號線15和數(shù)據(jù)信號線16連接。柵極信號線15通過柵極引線17，18與連接在柵極焊點(diǎn)23，24上的柵極短路棒19，20，21，22連接。數(shù)據(jù)信號線16通過數(shù)據(jù)引線10與連接在數(shù)據(jù)焊點(diǎn)25，26，27上的數(shù)據(jù)短路棒110，120，130連接。該柵極短路棒19，20，21，22為多條柵極引線17，18短路連接而成，該數(shù)據(jù)短路棒110，120，130為多條數(shù)據(jù)引線10短路連接而成。圖中標(biāo)號12，13為柵極集成電路的安裝位置，14為數(shù)據(jù)集成電路的安裝位置。陣列檢測設(shè)備在左右兩側(cè)的柵極焊點(diǎn)23、24中扎針注入波形信號，該波形信號分別通過短路棒19、21、20、22及柵極引線17，18進(jìn)入顯示區(qū)，同時(shí)數(shù)據(jù)焊點(diǎn)25、26、27扎針注入該波形信號，分別通過短路棒110、120、130及數(shù)據(jù)引線10進(jìn)入顯示區(qū)逐個(gè)對第一晶體管11充電。陣列檢測設(shè)備逐個(gè)檢測該第一晶體管11對應(yīng)的像素電壓是否為第一晶體管11正常工作時(shí)的像素電壓，以確定每個(gè)第一晶體管11是否正常工作。若該某一個(gè)第一晶體管11未正常工作，則確定與該第一晶體管連接的柵極信號線15發(fā)生斷線。現(xiàn)有的液晶顯示器雙驅(qū)動(dòng)檢測電路中，如果顯示區(qū)中任意一條信號線發(fā)生斷路，因陣列檢測設(shè)備在兩側(cè)柵極焊點(diǎn)都會注入波形信號，所以斷路位置兩側(cè)都可以接收信號并傳輸至第一晶體管11，使其正常工作；即使僅在一側(cè)柵極焊點(diǎn)23，24中注入信號，斷路的柵極信號線15與其他柵極信號線15通過兩側(cè)的短路棒19，20，21，22形成回路，斷路位置的兩側(cè)同樣可以接收信號并傳輸至第一晶體管11，使其正常工作，導(dǎo)致陣列檢測設(shè)備檢測出的該第一晶體管11對應(yīng)的像素電壓為正常值，信號線斷路問題無法檢出。雖然斷路位置兩側(cè)信號因RC delay會出現(xiàn)信號電壓差異，此信號電壓差異較小，陣列檢測設(shè)備并不會判定為斷路。如圖2所示，若柵極信號線15上任意位置150發(fā)生斷路，柵極信號線15通過柵極短路棒21，22與柵極信號線15形成環(huán)路，當(dāng)陣列檢測設(shè)備在單側(cè)的柵極焊點(diǎn)23，24注入信號時(shí)，該發(fā)生斷路的柵極信號線15仍然全部可接收到信號，并傳輸至每一個(gè)第一晶體管11上，對其充電，使其正常工作。陣列檢測設(shè)備逐一檢測出第一晶體管11對應(yīng)的像素電壓為其正常工作時(shí)的像素電壓，故不能檢測出信號線是否斷路。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
本專利技術(shù)的主要目的在于針對現(xiàn)有技術(shù)中存在的液晶顯示器采用雙向驅(qū)動(dòng)的檢測電路無法檢出斷線情況的缺陷，提出了一種可檢測出斷線的檢測電路及檢測方法。本專利技術(shù)提供一種，該檢測電路包括多條柵極信號線和多條數(shù)據(jù)信號線、多個(gè)第一晶體管、多條數(shù)據(jù)引線、多條柵極引線、多個(gè)數(shù)據(jù)焊點(diǎn)、多個(gè)柵極焊點(diǎn)、多個(gè)第二晶體管、外圍焊點(diǎn)；所述每個(gè)第一晶體管的柵極與所述每條柵極信號線連接，源極與所述每條數(shù)據(jù)信號線連接，所述每條數(shù)據(jù)信號線的第一端直接通過對應(yīng)的數(shù)據(jù)引線與所述數(shù)據(jù)焊點(diǎn)連接，所述每條柵極信號線的第一端直接通過對應(yīng)的柵極引線與所述柵極焊點(diǎn)連接，所述每個(gè)第二晶體管的源極與對應(yīng)的柵極信號線的第二端連接，所述每個(gè)第二晶體管的漏極通過對應(yīng)的柵極引線與所述柵極焊點(diǎn)連接，所述多個(gè)第二晶體管的柵極串聯(lián)成一條引線與所述外圍焊點(diǎn)連接。上述的液晶顯示器斷線檢測電路中，在所述數(shù)據(jù)焊點(diǎn)和所述柵極焊點(diǎn)中分別注入波形信號，關(guān)閉所述多個(gè)第二晶體管時(shí)，該波形信號僅由所述每條柵極信號線的第一端傳輸至每個(gè)第一晶體管進(jìn)行充電，使每個(gè)第一晶體管對應(yīng)的像素電壓值在預(yù)定范圍內(nèi)，若有至少一個(gè)像素電壓值超出預(yù)定范圍，則確定與該至少一個(gè)像素電壓值對應(yīng)的第一晶體管連接的柵極信號線發(fā)生斷線。上述的液晶顯示器斷線檢測電路中，在通過所述外圍焊點(diǎn)輸入信號使所述多個(gè)第二晶體管都導(dǎo)通時(shí)，所述每條柵極信號線兩端均傳輸該波形信號至每個(gè)第一晶體管。上述的液晶顯示器斷線檢測電路中，更包括多個(gè)第三晶體管，所述每個(gè)第三晶體管的源極通過對應(yīng)的數(shù)據(jù)引線與所述數(shù)據(jù)焊點(diǎn)連接，漏極與所述內(nèi)條數(shù)據(jù)信號線的第二端連接，且所述多個(gè)第三晶體管的柵極串聯(lián)成一條引線與所述外圍焊點(diǎn)連接。上述的液晶顯示器斷線檢測電路中，在數(shù)據(jù)焊點(diǎn)和柵極焊點(diǎn)中分別注入波形信號，關(guān)閉所述多個(gè)第二和/或第三晶體管時(shí)，該波形信號僅由所述每條柵極信號線和/或數(shù)據(jù)信號線的第一端傳輸至每個(gè)第一晶體管進(jìn)行充電，使每個(gè)第一晶體管對應(yīng)的像素電壓值在預(yù)定范圍內(nèi)，若有至少一個(gè)像素電壓值超出預(yù)定范圍，則與該至少一個(gè)像素電壓值對應(yīng)的第一晶體管連接的柵極信號線和/或數(shù)據(jù)信號線發(fā)生斷線。上述的液晶顯示器斷線檢測電路中，在通過所述外圍焊點(diǎn)輸入信號使所述多個(gè)第二和/或第三晶體管都導(dǎo)通時(shí)，所述每條柵極信號線和/或所述每條數(shù)據(jù)信號線兩端均傳輸該波形信號至每個(gè)第一晶體管。一種液晶顯示器斷線檢測方法，包括以下步驟提供一液晶顯示器斷線檢測電路，該液晶顯示器斷線檢測電路包括多條柵極信號線和多條數(shù)據(jù)信號線、多個(gè)第一晶體管、多條數(shù)據(jù)引線、多條柵極引線、多個(gè)數(shù)據(jù)焊點(diǎn)、多個(gè)柵極焊點(diǎn)、多個(gè)第二晶體管、外圍焊點(diǎn)；所述每個(gè)第一晶體管的柵極與所述每條柵極信號線連接，源極與所述每條數(shù)據(jù)信號線連接，所述每條數(shù)據(jù)信號線的第一端直接通過對應(yīng)的數(shù)據(jù)引線與所述數(shù)據(jù)焊點(diǎn)連接，所述每條柵極信號線的第一端直接通過對應(yīng)的柵極引線與所述柵極焊點(diǎn)連接，所述每個(gè)第二晶體管的源極與對應(yīng)的柵極信號線的第二端連接，所述每個(gè)第二晶體管的漏極通過對應(yīng)的柵極引線與所述柵極焊點(diǎn)連接，所述多個(gè)第二晶體管的柵極串聯(lián)成一條引線與所述外圍焊點(diǎn)連接；在所述每條柵極信號線和所述每條數(shù)據(jù)信號線中輸入波形信號；關(guān)閉所述多個(gè)第二晶體管，使該波形信號僅由所述每條柵極信號線的第一端傳輸至所述每個(gè)第一晶體管；逐一檢測所述每個(gè)第一晶體管對應(yīng)的像素電壓值，判斷該像素電壓值是否在預(yù)定范圍內(nèi)，若至少一個(gè)像素電壓值超出預(yù)定范圍，則確定與該像素電壓值對應(yīng)的第一晶體管連接的柵極信號線發(fā)生斷線。上述的液晶顯示器斷線檢測方法中，該斷線檢測方法提供的液晶顯示器斷線檢測電路還包括多個(gè)第三晶體管，所述每個(gè)第三晶體管的源極通過所述數(shù)據(jù)引線與所述數(shù)據(jù)焊點(diǎn)連接，漏極與所述數(shù)據(jù)信號線第二端連接，且所述多個(gè)第三晶體管的柵極串聯(lián)成一條引線與所述外圍焊點(diǎn)連接。上述的液晶顯示器斷線檢測方法中還包括在所述每條柵極信號線和所述每條數(shù)據(jù)信號線中輸入波形信號；關(guān)閉所述多個(gè)第二和/或第三晶體管，使該波形信號僅在所述每條柵極信號線和/或數(shù)據(jù)信號線的第一端傳輸至所述每個(gè)第一晶體管；逐一檢測所述每個(gè)第一晶體管對應(yīng)的像素電壓值，判斷該像素電壓值是否在預(yù)定范圍內(nèi)，若至少一個(gè)像素電壓值超出預(yù)定范圍，則確定與該像素電壓值對應(yīng)的第一晶體管連接的柵極信號線發(fā)生斷線。實(shí)施本專利技術(shù)的有益效果在于采用增加一組第二晶體管和本文檔來自技高網(wǎng)...

【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種液晶顯示器斷線檢測電路，用于檢測一液晶顯示器雙向驅(qū)動(dòng)電路是否斷線，其特征在于，包括：多條柵極信號線和多條數(shù)據(jù)信號線、多個(gè)第一晶體管、多條數(shù)據(jù)引線、多條柵極引線、多個(gè)數(shù)據(jù)焊點(diǎn)、多個(gè)柵極焊點(diǎn)、多個(gè)第二晶體管、外圍焊點(diǎn)；所述每個(gè)第一晶體管的柵極與所述每條柵極信號線連接、源極與所述每條數(shù)據(jù)信號線連接，所述每條數(shù)據(jù)信號線的第一端直接通過對應(yīng)的數(shù)據(jù)引線與所述數(shù)據(jù)焊點(diǎn)連接，所述每條柵極信號線的第一端直接通過對應(yīng)的柵極引線與所述柵極焊點(diǎn)連接，所述每個(gè)第二晶體管的源極與對應(yīng)的柵極信號線的第二端連接，所述每個(gè)第二晶體管的漏極通過對應(yīng)的柵極引線與所述柵極焊點(diǎn)連接，所述多個(gè)第二晶體管的柵極串聯(lián)成一條引線與所述外圍焊點(diǎn)連接。

【技術(shù)特征摘要】
1.一種液晶顯示器斷線檢測電路，用于檢測一液晶顯示器雙向驅(qū)動(dòng)電路是否斷線，其特征在于，包括: 多條柵極信號線和多條數(shù)據(jù)信號線、多個(gè)第一晶體管、多條數(shù)據(jù)引線、多條柵極引線、多個(gè)數(shù)據(jù)焊點(diǎn)、多個(gè)柵極焊點(diǎn)、多個(gè)第二晶體管、外圍焊點(diǎn)；所述每個(gè)第一晶體管的柵極與所述每條柵極信號線連接、源極與所述每條數(shù)據(jù)信號線連接，所述每條數(shù)據(jù)信號線的第一端直接通過對應(yīng)的數(shù)據(jù)引線與所述數(shù)據(jù)焊點(diǎn)連接，所述每條柵極信號線的第一端直接通過對應(yīng)的柵極引線與所述柵極焊點(diǎn)連接，所述每個(gè)第二晶體管的源極與對應(yīng)的柵極信號線的第二端連接，所述每個(gè)第二晶體管的漏極通過對應(yīng)的柵極引線與所述柵極焊點(diǎn)連接，所述多個(gè)第二晶體管的柵極串聯(lián)成一條引線與所述外圍焊點(diǎn)連接。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示器斷線檢測電路，其特征在于，在所述數(shù)據(jù)焊點(diǎn)和所述柵極焊點(diǎn)中分別注入波形信號，關(guān)閉所述多個(gè)第二晶體管時(shí)，該波形信號僅由所述每條柵極信號線的第一端傳輸至每個(gè)第一晶體管進(jìn)行充電，使每個(gè)第一晶體管對應(yīng)的像素電壓值在預(yù)定范圍內(nèi)，若有至少一個(gè)像素電壓值超出預(yù)定范圍，則確定與該至少一個(gè)像素電壓值對應(yīng)的第一晶體管連接的柵極信號線發(fā)生斷線。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的液晶顯示器斷線檢測電路，其特征在于，在通過所述外圍焊點(diǎn)輸入信號使所述多個(gè)第二晶體管都導(dǎo)通時(shí)，所述每條柵極信號線兩端均傳輸該波形信號至每個(gè)第一晶體管。4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的液晶顯示器斷線檢測電路，其特征在于，更包括多個(gè)第三晶體管，所述每個(gè)第三晶體管的源極通過對應(yīng)的數(shù)據(jù)引線與所述數(shù)據(jù)焊點(diǎn)連接，漏極與所述每條數(shù)據(jù)信號線的第二端連接，且所述多個(gè)第三晶體管的柵極串聯(lián)成一條引線與所述外圍焊點(diǎn)連接。5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的液晶顯示器斷線檢測電路，其特征在于，在數(shù)據(jù)焊點(diǎn)和柵極焊點(diǎn)中分別注入波形信號，關(guān)閉所述多個(gè)第二和/或第三晶體管時(shí)，該波形信號僅由所述每條柵極信號線和/或數(shù)據(jù)信號線的第一端傳輸至每個(gè)第一晶體管進(jìn)行充電，使每個(gè)第一晶體管對應(yīng)的像素電壓值在預(yù)定范圍`內(nèi)，若有至少一個(gè)像素電壓值超出預(yù)定范圍，則與該至少一個(gè)像素電壓值對應(yīng)的第一晶體管連接的柵極信號線和/或數(shù)據(jù)信號線發(fā)生斷線。6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的液晶顯示器斷線檢測電路，其特征在于，...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：付延峰，
申請(專利權(quán))人：深圳市華星光電技術(shù)有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：