一種顯示器的殘像等級評定裝置及方法制造方法及圖紙

本發明專利技術提供一種顯示器的殘像等級評定裝置及方法，其中裝置包括：用于獲得顯示器的測試畫面的測試區域在一灰階水平下，殘像測試前的第一亮度的第一獲得單元；用于獲得測試區域在灰階水平下，殘像測試后的第二亮度的第二獲得單元；用于獲得第一亮度和第二亮度的亮度差值的第三獲得單元；用于獲得所述測試區域的殘像等級和殘像區域系數的第四獲得單元；用于獲得所述測試畫面的殘像等級的第五獲得單元。本發明專利技術可以更加準確和全面給出顯示器的殘像等級。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及液晶顯示
，特別是。技術背景近年來，液晶顯示器的性能與質量越來越受到人們的關注。現有技術中，有許多 的評價指標，來評價顯示器的性能，如亮度、色度、對比度、均勻性、閃爍、串擾和響應時間等 等。但是，目前還有一些顯示器的評價指標是不能精確量化的，如姆拉，殘像等。其中，殘像 的評價是一項重要的技術指標。在液晶顯示器的制作過程中，由于各種因素的存在，液晶盒 內會存在一些離子。而這些離子可能會因為電場的緣故堆積在基板的兩側，當電壓撤去后， 殘留的電荷產生一定的電場，使得液晶顯示器仍然顯示之前顯示的畫面，這就是殘像。由于 許多的公共顯示器通常會在同一畫面下保持很長時間，這樣是很容易出現殘像的，所以殘 像的評價顯得尤為重要。目前，大多數情況下人們都是通過肉眼觀察直接來評定殘像等級， 這樣存在主觀性較大，評定不準確的問題。
技術實現思路
本專利技術要解決的技術問題是提供，可以更 加準確和全面地給出顯示器的殘像等級。為解決上述技術問題，本專利技術的實施例提供一種顯示器的殘像等級評定裝置，包 括用于獲得顯示器的測試畫面的測試區域在一灰階水平下，殘像測試前的第一亮度 的第一獲得單元；用于獲得所述測試區域在所述灰階水平下，所述殘像測試后的第二亮度的第二獲 得單元；分別與所述第一獲得單元和所述第二獲得單元連接，用于獲得所述第一亮度和所 述第二亮度的亮度差值的第三獲得單元；與所述第三獲得單元連接，用于獲得所述測試區域的殘像等級和殘像區域系數的 第四獲得單元；與所述第四獲得單元連接，用于獲得所述測試畫面的殘像等級的第五獲得單元。其中，所述第一獲得單元和所述第二獲得單元均為電耦合器件CCD或者互補性氧 化金屬半導體CMOS光學器件的亮度獲得單元。其中，所述第一獲得單元和所述第二獲得單元均包括用于獲得所述測試區域的各原色的顏色值的電耦合器件CCD或者互補性氧化金 屬半導體CM0s光學器件的第一獲得子模塊；與所述第一獲得子模塊連接，用于根據所述測試區域的各原色的顏色值，計算所 述測試區域的亮度的計算模塊。其中，所述第四獲得單元包括用于判斷所述亮度差值在一預定殘像等級對應的亮度差值范圍內時，確定所述預定殘像等級為所述測試區域的殘像等級的確定模塊；與所述確定模塊連接，用于獲得所述測試區域的殘像區域系數的第二獲得子模塊。其中，所述確定模塊包括用于判斷所述亮度差值是否在當前選擇的預定殘像等級對應的亮度差值范圍內的判斷子模塊；與所述判斷子模塊連接，用于在所述亮度差值不在所述當前選擇的預定殘像等級對應的亮度差值范圍內時，循環調用所述判斷子模塊，再選擇另一預定殘像等級進行判斷， 直到所述亮度差值在一選擇的預定殘像等級對應的亮度差值范圍內，并確定最終選擇的預定殘像等級為所述測試區域的殘像等級的確定子模塊。其中，所述第五獲得單元包括用于控制所述確定模塊獲得各個測試區域的殘像等級的第一控制子模塊；用于控制所述第二獲得子模塊獲得各個測試區域的殘像區域系數的第二控制子模塊；以及分別與所述第一控制子模塊、所述第二控制子模塊、所述確定模塊以及所述第二獲得子模塊連接，并用于通過公式本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種顯示器的殘像等級評定裝置，其特征在于，包括：用于獲得顯示器的測試畫面的測試區域在一灰階水平下，殘像測試前的第一亮度的第一獲得單元；用于獲得所述測試區域在所述灰階水平下，所述殘像測試后的第二亮度的第二獲得單元；分別與所述第一獲得單元和所述第二獲得單元連接，用于獲得所述第一亮度和所述第二亮度的亮度差值的第三獲得單元；與所述第三獲得單元連接，用于獲得所述測試區域的殘像等級和殘像區域系數的第四獲得單元；與所述第四獲得單元連接，用于獲得所述測試畫面的殘像等級的第五獲得單元。

【技術特征摘要】
2012.04.27 CN 201220187573.61.一種顯示器的殘像等級評定裝置，其特征在于，包括 用于獲得顯示器的測試畫面的測試區域在一灰階水平下，殘像測試前的第一亮度的第一獲得單元； 用于獲得所述測試區域在所述灰階水平下，所述殘像測試后的第二亮度的第二獲得單元; 分別與所述第一獲得單元和所述第二獲得單元連接，用于獲得所述第一亮度和所述第二亮度的亮度差值的第三獲得單元； 與所述第三獲得單元連接，用于獲得所述測試區域的殘像等級和殘像區域系數的第四獲得單元； 與所述第四獲得單元連接，用于獲得所述測試畫面的殘像等級的第五獲得單元。2.根據權利要求1所述的顯示器的殘像等級評定裝置，其特征在于，所述第一獲得單元和所述第二獲得單元均為電耦合器件CCD或者互補性氧化金屬半導體CMOS光學器件的売度獲得單兀。3.根據權利要求1所述的顯示器的殘像等級評定裝置，其特征在于，所述第一獲得單元和所述第二獲得單元均包括 用于獲得所述測試區域的各原色的顏色值的電耦合器件CCD或者互補性氧化金屬半導體CMOS光學器件的第一獲得子模塊； 與所述第一獲得子模塊連接，用于根據所述測試區域的各原色的顏色值，計算所述測試區域的亮度的計算模塊。4.根據權利要求2或3所述的顯示器的殘像等級評定裝置，其特征在于，所述第四獲得單元包括 用于判斷所述亮度差值在一預定殘像等級對應的亮度差值范圍內時，確定所述預定殘像等級為所述測試區域的殘像等級的確定模塊； 與所述確定模塊連接，用于獲得所述測試區域的殘像區域系數的第二獲得子模塊。5.根據權利要求4所述的顯示器的殘像等級評定裝置，其特征在于，所述確定模塊包括 用于判斷所述亮度差值是否在當前選擇的預定殘像等級對應的亮度差值范圍內的判斷子模塊； 與所述判斷子模塊連接，用于在所述亮度差值不在所述當前選擇的預定殘像等級對應的亮度差值范圍內時，循環調用所述判斷子模塊，再選擇另一預定殘像等級進行判斷，直到所述亮度差值在一選擇的預定殘像等級對應的亮度差值范圍內，并確定最終選擇的預定殘像等級為所述測試區域的殘像等級的確定子模塊。6.根據權利要求4所述的顯示器的殘像等級評定裝置，其特征在于，所述第五獲得單元包括 用于控制所述確定模塊獲得各個測試區域的殘像等級的第一控制子模塊； 用于控制所述第二獲得子模塊獲得各個測試區域的殘像區域系數的第二控制子模塊；以及 分別與所述第一控制子模塊、所述第二控制子模塊、所述確定模塊以及所述第二獲得子模塊連接，并用于通過公式7.—種顯示器的...

【專利技術屬性】
技術研發人員：謝暢，柳在健，
申請(專利權)人：京東方科技集團股份有限公司，
類型：發明
國別省市：