【技術實現步驟摘要】
本專利技術屬于紅外非均勻性校正技術范圍內的一種，具體涉及一種基于中值直方圖均衡的紅外非均勻性校正算法，特別適用于紅外熱像儀圖像校正，減少紅外圖像非均勻性，避免“鬼影”。
技術介紹
理想情況下，當紅外焦平面陣列受到均勻輻射時，焦平面的響應輸出應完全一樣。實際上，由于制作器件的半導體材料不均勻、缺陷、工藝條件等因素影響下，紅外焦平面陣列的不同像元在同一均勻入射輻射下，其視頻輸出信號幅度不同，這就是紅外焦平面陣列輸出響應的非均勻性。和單點掃描方式和線陣掃描方式相比，紅外焦平面陣列更容易受到紅外響應非均勻性的影響。單點掃描方式不存在紅外響應非均勻性的問題，線陣掃描方式的響應非均勻性只存在于線陣方向，而對于焦平面陣列，這種紅外響應的非均勻性存在于整個像平面上。而且由于制作探測器的材料不同，其非均勻性嚴重程度也有所不同；并且愈是大規模的器件，非均勻性問題就愈突出，因此有必要減少器件的非均勻性。和非均勻性相關的概念有非均勻性(nonuniformity)、空間噪聲(spatialnoise)、固定模式噪聲(fixedpatternnoise)等。J. M. Mooney認為空間噪聲是對一幅紅外圖像進行校正后的噪聲，在不同的幀之間該噪聲具有相關性。空間噪聲在監視器上以固定的模式出現，隨時間或工作環境略有變化，這個術語強調的是這種固定模式噪聲的統計特性。實際上，空間噪聲是在校正后的非均勻性。該特性可以被用于判斷探測器的應用場合及評估系統的最終性能。而非均勻性是焦平面陣列輸出在時域平均后的波動，表現為在紅外圖像上面會產生條紋現象。條紋的存在影響紅外圖像的清晰度，不利于觀察者...
【技術保護點】
基于中值直方圖均衡的紅外非均勻性校正算法，其特征在于，算法步驟如下：第一步：采集一幅8bit的紅外圖像o(i,j)∈{0,...,255}，其中(i,j)∈{1,...,N}×{1,...,M}，像素數為M*N，i表示圖像上像素的行所在位置，j表示圖像上像素的列所在位置，M表示采集圖像的行數，N表示采集圖像的列數；第二步：對于一幅圖像的每一列j∈{1,...,M}：確定每一列cj的統計直方圖H′j，然后根據統計直方圖獲得每一列的累積直方圖HjHj:{0,...,255}→[0,1]l→Hj(l)=1NΣk=0lΣi=1N1{o(i,j)=k},l為某一個灰度值像素的個數；統計直方圖H′j具體是先統計某一個灰度值l像素的個數，累積直方圖是在統計直方圖基礎上將灰度值小于l的灰度值個數進行累計，從而得到Hj(l)；第三步：然后將每一列累積直方圖中的像素灰度值并轉變成根據相鄰列的累積直方圖加權計算得到灰度值H~j-1=Σgk∈(-n,...,n)(k)Hk+j-1;其中g(k)為高斯權重g(k)=g...
【技術特征摘要】
1.基于中值直方圖均衡的紅外非均勻性校正算法，其特征在于，算法步驟如下:第一步:采集一幅8bit的紅外圖像o(i，j) G {0,...,255},其中(i, j) G {1，...，N} X {1，...，M},像素數為M*N, i表示...
【專利技術屬性】
技術研發人員：顧國華，孫鐿誠，陳錢，隋修寶，毛偉，高航，于雪蓮，路東明，錢惟賢，何偉基，張聞文，徐雙雙，
申請(專利權)人：南京理工大學，
類型：發明
國別省市：
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