【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及一種。
技術介紹
折射率是材料的重要物理參數之一，并易受到材料及其所處環境物理和化學性質變化的影響而發生改變。折射率變化的實時監測，對于制造業、冶金、化工、生物、環保和高精密測量等領域有著重要意義。目前折射率的監測方法大多是基于現有折射率測量方法的改進。常用的折射率測 量方法包括測角法和干涉法等。測角法包括最小偏向角法、臨界角法、V棱鏡法等，干涉法包括邁克爾遜干涉法、瑞利干涉法等。然而，傳統方法的實時性、精確性和靈敏度難以滿足較高要求，或裝置結構復雜，設備成本較高；或者對被測樣品有特殊的加工要求；或是需要接觸式測量，因此應用場合受限。另外，傳統監測方法其監測結果也無法溯源。
技術實現思路
綜上所述，確有必要提供一種精度高、靈敏度高、易于操作、且能夠溯源的折射率監測方法和監測裝置。一種透明介質折射率的監測裝置，其中，所述監測裝置包括一半外腔激光器，其包括一增益管及一輸出腔鏡，所述輸出腔鏡與所述增益管間隔并沿半外腔激光器的輸出激光軸線共軸設置，形成激光諧振腔；一樣品室，所述樣品室位于所述增益管和所述輸出腔鏡之間，并與兩者間隔，所述樣品室設置于所述半外腔激光器輸出激光的光路上，且在激光光路上的側壁內外表面均鍍有激光波長的增透膜；一穩頻激光器，所述穩頻激光器的輸出激光軸線與所述半外腔激光器的輸出激光軸線垂直設置；以及一信號采集與處理系統，所述信號采集與處理系統包括分光棱鏡、偏振片、光電探測器及一拍頻處理顯示系統，所述半外腔激光器、穩頻激光器與所述分光棱鏡共軛設置。一種透明介質折射率的監測裝置監測透明介質折射率的方法，包括以下步驟第一步，所述半外腔激光器...
【技術保護點】
一種透明介質折射率的監測裝置，其特征在于，所述監測裝置包括：一半外腔激光器，其包括一增益管及一輸出腔鏡，所述輸出腔鏡與所述增益管間隔并沿半外腔激光器的輸出激光軸線共軸設置，形成激光諧振腔；一樣品室，所述樣品室位于所述增益管和所述輸出腔鏡之間，并與兩者間隔，所述樣品室設置于所述半外腔激光器輸出激光的軸線上，所述樣品室在位于半外腔激光器輸出光路上的側壁為兩個相對且平行的平面，且所述側壁內外表面均鍍有增透膜；一穩頻激光器，所述穩頻激光器的輸出激光軸線與所述半外腔激光器的輸出激光軸線垂直設置；以及一信號采集與處理系統，所述信號采集與處理系統包括分光棱鏡、偏振片、光電探測器及一拍頻處理顯示系統，所述半外腔激光器、穩頻激光器與所述分光棱鏡共軛設置。
【技術特征摘要】
1.一種透明介質折射率的監測裝置，其特征在于，所述監測裝置包括一半外腔激光器，其包括一增益管及一輸出腔鏡，所述輸出腔鏡與所述增益管間隔并沿半外腔激光器的輸出激光軸線共軸設置，形成激光諧振腔；一樣品室，所述樣品室位于所述增益管和所述輸出腔鏡之間，并與兩者間隔，所述樣品室設置于所述半外腔激光器輸出激光的軸線上，所述樣品室在位于半外腔激光器輸出光路上的側壁為兩個相對且平行的平面，且所述側壁內外表面均鍍有增透膜；一穩頻激光器，所述穩頻激光器的輸出激光軸線與所述半外腔激光器的輸出激光軸線垂直設置；以及一信號米集與處理系統，所述信號米集與處理系統包括分光棱鏡、偏振片、光電探測器及一拍頻處理顯示系統，所述半外腔激光器、穩頻激光器與所述分光棱鏡共軛設置。2.如權利要求1所述的透明介質折射率的監測裝置，其特征在于，所述分光棱鏡、偏振片、光電探測器沿所述穩頻激光器的輸出激光軸線方向依次共軸設置。3.如權利要求1所述的透明介質折射率的監測裝置，其特征在于，所述分光棱鏡、偏振片、光電探測器沿所述半外腔激光器的輸出激光軸線方向依次共軸設置。4.如權利要求1所述的透明介質折射率的監測裝置，其特征在于，所述分光棱鏡設置于所述半外腔激光器的出射激光軸線與所述穩頻激光器出射激光軸線的交點上。5.如權利要求4所述的透明介質折射率的監測裝置，其特征在于，所述半外腔激光器的輸出激光經分光棱鏡反射后的激光分量，與所述穩頻激光器的輸出激光經分光棱鏡透射后的激光分量重合。6.如權利要求1所述的透明介質折射率的監測裝置，其...
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