本實(shí)用新型專利技術(shù)的一種測(cè)試設(shè)備信號(hào)繼電器時(shí)間性能的實(shí)時(shí)檢測(cè)電路，包括采樣信號(hào)發(fā)生器、計(jì)數(shù)器和寄存器，所述采樣信號(hào)發(fā)生器與所述計(jì)數(shù)器連接，所述計(jì)數(shù)器與所述寄存器連接，所述寄存器上設(shè)有信號(hào)輸出端。本實(shí)用新型專利技術(shù)使驅(qū)動(dòng)使能信號(hào)作適當(dāng)提前，確保到達(dá)被測(cè)器件管腳上的輸入信號(hào)同步且符合測(cè)試需要的正確時(shí)間沿。從而提高測(cè)試切換速度和測(cè)試穩(wěn)定性能。（*該技術(shù)在2022年保護(hù)過期，可自由使用*）
【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本技術(shù)涉及一種檢測(cè)電路，尤其涉及一種測(cè)試設(shè)備信號(hào)繼電器時(shí)間性能的實(shí)時(shí)檢測(cè)電路。
技術(shù)介紹
測(cè)試系統(tǒng)(Tester)會(huì)在輸入、輸出管腳上加載信號(hào)切換繼電器,用以控制和切換信號(hào)的狀態(tài)。在驅(qū)動(dòng)器輸出使能信號(hào)到達(dá)圖I中的A端后，由于繼電器的切換需要時(shí)間，信號(hào)從B端傳輸?shù)奖粶y(cè)芯片輸入管腳上B端得到的信號(hào)起始點(diǎn)將晚于測(cè)試設(shè)備的要求時(shí)間。一般這個(gè)時(shí)間在I. 5ms左右。因此測(cè)試速度將受限制于這個(gè)切換時(shí)間。另外，當(dāng)測(cè)試用通道數(shù)量很多時(shí)，隨著繼電器使用狀態(tài)的變化，這個(gè)切換時(shí)間將產(chǎn)生很大誤差。造成到達(dá)半導(dǎo)體元·件(IC)輸入管腳的信號(hào)不同步，產(chǎn)生測(cè)試失效問題。為解決這個(gè)問題，目前的方案是在測(cè)試開始前等待一段時(shí)間，這樣就降低了測(cè)試效率。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
鑒于上述現(xiàn)有技術(shù)中的問題，本技術(shù)所要解決的技術(shù)問題是現(xiàn)有的技術(shù)缺乏有效的實(shí)時(shí)檢測(cè)電路。本技術(shù)的一種測(cè)試設(shè)備信號(hào)繼電器時(shí)間性能的實(shí)時(shí)檢測(cè)電路，包括采樣信號(hào)發(fā)生器、計(jì)數(shù)器和寄存器，所述采樣信號(hào)發(fā)生器與所述計(jì)數(shù)器連接，所述計(jì)數(shù)器與所述寄存器連接，所述寄存器上設(shè)有信號(hào)輸出端。在本技術(shù)的一個(gè)較佳實(shí)施方式中，所述采樣信號(hào)發(fā)生器包括第一采樣電路、第二采樣電路和第三采樣電路，所述第一采樣電路、第二采樣電路和第三采樣電路上分別設(shè)有第一測(cè)試輸入、第二測(cè)試輸入和被測(cè)輸入，所述第一米樣電路、第二米樣電路相連并與所述計(jì)數(shù)器連接，所述第三采樣電路與所述計(jì)數(shù)器通過所述計(jì)數(shù)器上的第三輸入連接。在本技術(shù)的另一較佳實(shí)施方式中，所述第三采樣電路還通過所述計(jì)數(shù)器上的第四輸入與所述計(jì)數(shù)器通過連接。在本技術(shù)的另一較佳實(shí)施方式中，還包括系統(tǒng)信號(hào)端，所述系統(tǒng)信號(hào)端與分別所述寄存器和計(jì)數(shù)器連接。在本技術(shù)的另一較佳實(shí)施方式中，還包括時(shí)鐘發(fā)生器，所述時(shí)鐘發(fā)生器與所述計(jì)數(shù)器連接。在本技術(shù)的另一較佳實(shí)施方式中，所述采樣信號(hào)發(fā)生器的頻率為10M-1G。在本技術(shù)的另一較佳實(shí)施方式中，所述計(jì)數(shù)器采用復(fù)雜可編程邏輯器件。本技術(shù)設(shè)計(jì)了針對(duì)繼電器的切換延遲時(shí)間的實(shí)時(shí)測(cè)量電路，并行連接于測(cè)試設(shè)備驅(qū)動(dòng)電路上，將實(shí)際測(cè)量值反饋給測(cè)試設(shè)備，使驅(qū)動(dòng)使能信號(hào)作適當(dāng)提前，確保到達(dá)被測(cè)器件管腳上的輸入信號(hào)同步且符合測(cè)試需要的正確時(shí)間沿。從而提高測(cè)試切換速度和測(cè)試穩(wěn)定性能。附圖說明圖I是繼電器的電路示意圖；圖2是本技術(shù)的實(shí)施例的采樣信號(hào)發(fā)生器的結(jié)構(gòu)示意圖；圖3是本技術(shù)的實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。具體實(shí)施方式以下將結(jié)合附圖和實(shí)施例對(duì)本技術(shù)做具體闡釋。如圖2和3中所示，本技術(shù)的一種測(cè)試設(shè)備信號(hào)繼電器時(shí)間性能的實(shí)時(shí)檢測(cè) 電路，包括采樣信號(hào)發(fā)生器I、計(jì)數(shù)器2和寄存器3。采樣信號(hào)發(fā)生器I與所述計(jì)數(shù)器2連接，所述計(jì)數(shù)器2與所述寄存器3連接，所述寄存器3上設(shè)有信號(hào)輸出端4。本技術(shù)使驅(qū)動(dòng)使能信號(hào)作適當(dāng)提前，確保到達(dá)被測(cè)器件管腳上的輸入信號(hào)同步且符合測(cè)試需要的正確時(shí)間沿。從而提高測(cè)試切換速度和測(cè)試穩(wěn)定性能優(yōu)選的，米樣信號(hào)發(fā)生器包括第一米樣電路11、第二米樣電路12和第三米樣電路13。如圖3所示，第一采樣電路11、第二采樣電路12和第三采樣電路13上分別設(shè)有第一測(cè)試輸入、第二測(cè)試輸入和被測(cè)輸入，第一米樣電路11、第二米樣電路12相連并與所述計(jì)數(shù)器2連接，所述第三采樣電路13與所述計(jì)數(shù)器2通過所述計(jì)數(shù)器2上的第三輸入21連接。優(yōu)選的，所述第三采樣電路13還通過所述計(jì)數(shù)器2上的第四輸入22與所述計(jì)數(shù)器通過連接。 此外，優(yōu)選的，還包括系統(tǒng)信號(hào)端31，系統(tǒng)信號(hào)端31與分別所述寄存器3和計(jì)數(shù)器2連接。在本技術(shù)的實(shí)施例中，還包括時(shí)鐘發(fā)生器5，所述時(shí)鐘發(fā)生器5與所述計(jì)數(shù)器2連接。在本技術(shù)的實(shí)施例中，采樣信號(hào)發(fā)生器的頻率為10M-1G。計(jì)數(shù)器采用復(fù)雜可編程邏輯器件。如圖3所示測(cè)試采樣信號(hào)由第一采樣電路11、第二采樣電路12相與后連接到計(jì)數(shù)器2作為計(jì)數(shù)開始信號(hào)。當(dāng)被測(cè)半導(dǎo)體元件(IC)的管腳第三采樣電路13端子上收到經(jīng)過繼電器切換后的上升沿信號(hào)后，計(jì)數(shù)器2將當(dāng)前計(jì)數(shù)值輸出后緩存。并延遲后將計(jì)數(shù)器2清零。計(jì)數(shù)器2采樣精度取決于時(shí)鐘發(fā)生器5的頻率發(fā)生值。IG以下都可以滿足使用需求。來自測(cè)試設(shè)備的通過系統(tǒng)信號(hào)端31的測(cè)試使能信號(hào)是測(cè)試設(shè)備控制該電路工作的信號(hào)。當(dāng)測(cè)試使能信號(hào)發(fā)送后，寄存器3中的數(shù)據(jù)將被裝換成串行數(shù)據(jù)反饋到測(cè)試設(shè)備總線中，由設(shè)備讀取該數(shù)據(jù)后反饋給輸出變量，調(diào)整輸出時(shí)間從而達(dá)到自動(dòng)反饋延遲時(shí)間的作用。整個(gè)電路系統(tǒng)可以掛接在測(cè)試設(shè)備外圍，當(dāng)信號(hào)繼電器延遲變化時(shí)，電路可以實(shí)時(shí)測(cè)量并監(jiān)控信號(hào)質(zhì)量。測(cè)試設(shè)備僅需要給該電路一個(gè)測(cè)試使能信號(hào)，就能從反饋電路中讀取測(cè)量后的時(shí)間延遲數(shù)量，在發(fā)送使能信號(hào)前，疊加上時(shí)間補(bǔ)償值，可以根據(jù)不同通道的延時(shí)做使能信號(hào)發(fā)送提前的調(diào)整。最終使到達(dá)被測(cè)IC的信號(hào)時(shí)間沿完全一致并符合測(cè)試時(shí)間要求。以上對(duì)本技術(shù)的具體實(shí)施例進(jìn)行了詳細(xì)描述，但其只作為范例，本技術(shù)并不限制于以上描述的具體實(shí)施例。對(duì)于本領(lǐng)域技術(shù)人員而言，任何對(duì)該實(shí)用進(jìn)行的等同修改和替代也都在本技術(shù)的范疇之中。因此，在不脫離本技術(shù)的精神和范圍下所作的均等變換和修改，都應(yīng)涵 蓋在本技術(shù)的范圍內(nèi)。權(quán)利要求1.ー種測(cè)試設(shè)備信號(hào)繼電器時(shí)間性能的實(shí)時(shí)檢測(cè)電路，其特征在于，包括采樣信號(hào)發(fā)生器、計(jì)數(shù)器和寄存器，所述采樣信號(hào)發(fā)生器與所述計(jì)數(shù)器連接，所述計(jì)數(shù)器與所述寄存器連接，所述寄存器上設(shè)有信號(hào)輸出端。2.如權(quán)利要求I所述的測(cè)試設(shè)備信號(hào)繼電器時(shí)間性能的實(shí)時(shí)檢測(cè)電路，其特征在干，所述采樣信號(hào)發(fā)生器包括第一采樣電路、第二采樣電路和第三采樣電路，所述第一采樣電路、第二采樣電路和第三采樣電路上分別設(shè)有第一測(cè)試輸入、第二測(cè)試輸入和被測(cè)輸入，所述第一采樣電路、第二采樣電路相連并與所述計(jì)數(shù)器連接，所述第三采樣電路與所述計(jì)數(shù)器通過所述計(jì)數(shù)器上的第三輸入連接。3.如權(quán)利要求2所述的測(cè)試設(shè)備信號(hào)繼電器時(shí)間性能的實(shí)時(shí)檢測(cè)電路，其特征在干，所述第三采樣電路還通過所述計(jì)數(shù)器上的第四輸入與所述計(jì)數(shù)器通過連接。4.如權(quán)利要求I所述的測(cè)試設(shè)備信號(hào)繼電器時(shí)間性能的實(shí)時(shí)檢測(cè)電路，其特征在干，還包括系統(tǒng)信號(hào)端，所述系統(tǒng)信號(hào)端與分別所述寄存器和計(jì)數(shù)器連接。5.如權(quán)利要求I所述的測(cè)試設(shè)備信號(hào)繼電器時(shí)間性能的實(shí)時(shí)檢測(cè)電路，其特征在干，還包括時(shí)鐘發(fā)生器，所述時(shí)鐘發(fā)生器與所述計(jì)數(shù)器連接。6.如權(quán)利要求I所述的測(cè)試設(shè)備信號(hào)繼電器時(shí)間性能的實(shí)時(shí)檢測(cè)電路，其特征在干，所述采樣信號(hào)發(fā)生器的頻率為10M-1G。7.如權(quán)利要求I所述的測(cè)試設(shè)備信號(hào)繼電器時(shí)間性能的實(shí)時(shí)檢測(cè)電路，其特征在干，所述計(jì)數(shù)器采用復(fù)雜可編程邏輯器件。專利摘要本技術(shù)的一種測(cè)試設(shè)備信號(hào)繼電器時(shí)間性能的實(shí)時(shí)檢測(cè)電路，包括采樣信號(hào)發(fā)生器、計(jì)數(shù)器和寄存器，所述采樣信號(hào)發(fā)生器與所述計(jì)數(shù)器連接，所述計(jì)數(shù)器與所述寄存器連接，所述寄存器上設(shè)有信號(hào)輸出端。本技術(shù)使驅(qū)動(dòng)使能信號(hào)作適當(dāng)提前，確保到達(dá)被測(cè)器件管腳上的輸入信號(hào)同步且符合測(cè)試需要的正確時(shí)間沿。從而提高測(cè)試切換速度和測(cè)試穩(wěn)定性能。文檔編號(hào)G01R31/327GK202758047SQ20122031656公開日2013年2月27日 申請(qǐng)日期2012年7月3日 優(yōu)先權(quán)日2012年7月3日專利技術(shù)者童煒 申請(qǐng)人:上海華力微電子有限公司本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種測(cè)試設(shè)備信號(hào)繼電器時(shí)間性能的實(shí)時(shí)檢測(cè)電路，其特征在于，包括采樣信號(hào)發(fā)生器、計(jì)數(shù)器和寄存器，所述采樣信號(hào)發(fā)生器與所述計(jì)數(shù)器連接，所述計(jì)數(shù)器與所述寄存器連接，所述寄存器上設(shè)有信號(hào)輸出端。
【技術(shù)特征摘要】
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：童煒，
申請(qǐng)(專利權(quán))人：上海華力微電子有限公司，
類型：實(shí)用新型
國別省市：
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