具有透射及反射光源的照明裝置、檢測系統及其檢測方法制造方法及圖紙

本發明專利技術公開了一種具有透射及反射光源的照明裝置、應用該照明裝置的光學檢測系統及其檢測方法。該光學檢測系統包括反射光源、透射光源、成像單元、半反半透鏡以及全反射鏡；反射光源設置在被測物體的一側，半反半透鏡設置在反射光源與被測物體之間，透射光源設置在被測物體的另一側，全反射鏡設置在半反半透鏡的一側，用以接收從半反半透鏡反射的光線并反射至成像單元。本光學檢測系統通過設置反射光源與透射光源，使得被測物體表面結構可充分檢測，在檢測前表面結構時開啟反射光源而關閉透射光源，在檢測后表面結構時開啟透射光源而關閉反射光源，也可同時開啟反射光源和透射光源對被測物體前后表面結構同時進行檢測，提高了檢測物件的檢測效率。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及一種光學檢測系統及其檢測方法，尤其涉及用于檢測可透射的被測物體的前后表面的光學檢測系統及其檢測方法，以及應用于該光學檢測系統的照明裝置。
技術介紹
通常，平板玻璃、觸摸屏、導光板或液晶面板等透光性/半透光性產品在制造中需要通過光學檢測系統對其進行質量檢測從而判定產品工藝和制程是否合格，然后以此為依據對工藝和制程進行改善并對產品進行修復以提高產品良率。光學檢測系統一般包括光源及CCD測試機，通過光源向被測物體發射光線，光線經被測物體反射到達CCD測試機中，通過CCD測試機對光學影像轉換為數字信號并進行分析比較，從而判斷該被測物體表面是否合格。如果需要檢測被測物體的第二表面時，則需要將被測物體反置或者放置另一光學檢測系統，另一光學檢測系統發射的光線入射至被測物體的第二表面并透射或反射至CCD測試機中，通過CCD測試機分析判斷該被測物體表面是否合格。然，該種通過兩套光學檢測系統來檢測被測物體前、后表面或者通過反置被測物體的方法，影響了被測物體表面質量檢測的效率，并且，通過兩套光學檢測系統增加了檢測成本，通過反置的方法由于定位或者擺放易對測物體表面造成影響。
技術實現思路
鑒于以上所述，本專利技術有必要提供一種檢測效率高、成本低且在檢測中不易損壞被測物體的光學檢測系統。此外，還有必要提供一種檢測方法。此外，還有必要提供一種照明裝置。一種光學檢測系統，用于檢測被測物體，光學檢測系統包括反射光源、半反半透鏡、成像單元以及透射光源；所述反射光源與透射光源設置在被測物體的相對的兩側，所述半反半透鏡設置在反射光源與被測物體之間，所述反射光源發出光線穿過半反半透鏡照射至被測物體表面后反射至半反半透鏡，所述透射光源發出光線透過被測物體并照射至半反半透鏡，所述半反半透鏡將所述反射光源發出光線和/或所述透射光源發出的光線反射至成像單元。其中，所述半反半透鏡具有入光面和出光面，該入光面朝向反射光源，反射光源與被測物體的連線與入光面呈45度夾角。其中，所述光學檢測系統還包括全反射鏡，全反射鏡設置在半反半透鏡的一側，用以接收從半反半透鏡反射的光線并反射至成像單元，所述全反射鏡具有反射面，全反射鏡的反射面朝向半反半透鏡的出光面且與該出光面平行。其中，所述光學檢測系統還包括運載平臺，所述運載平臺開設有孔，被測物體設置在運載平臺上，檢測時透射光源光線經過孔照射到被測物體上。其中，所述透射光源為光源模組，該光源模組包括散熱片、光源基板、光源以及擴散板，所述光源基板設置在散熱片上，所述光源設置在光源基板上，所述光源發出的光線透過擴散板射向被測物體。其中，所述擴散板一表面或者相對的二表面為粗糙面。其中，所述擴散板一表面為圓柱面或橢圓柱面。其中，所述光源模組還包括機械擋片，機械擋片設置在擴散板上方，機械擋片外側面為粗糙面，內側面為粗糙面或鏡面。其中，所述機械擋片為一擋罩，擋罩呈喇叭狀設在擴散板上，所述擋罩較大口徑的一端與擴散板接觸，相對的一端形成為口徑尺寸較小的開口。一種光學檢測系統，用于檢測被測物體，光學檢測系統包括反射光源、半反半透鏡以及透射光源；反射光源設置在被測物體的一側，半反半透鏡設置在反射光源與被測物體之間，透射光源設置在被測物體的另一側，反射光源發出光線穿過半反半透鏡照射至被測物體表面后反射至半反半透鏡，透射光源發出光線透過被測物體并照射至半反半透鏡，所述透射光源為光源模組，該光源模組包括光源、擴散板以及機械擋片，機械擋片設置在擴散板上并形成出光孔，光源設置在所述擴散板下方，使得光源發出的光線經過擴散板后經過機械擋片內表面的反射而從出光孔匯聚散出照射至待測物體，所述反射光源位于機械擋片的上方，使得反射光源發出的光線經過外表面的反射而減少進入出光孔的光線?！N光學檢測系統的檢測方法，光學檢測系統包括反射光源、半反半透鏡、全反射鏡、成像單元以及透射光源；僅檢查被測物體的第一表面時，開啟反射光源，關閉透射光源，反射光源發出光線至半反半透鏡，從半反半透鏡透射的光線照射至被測物體的第一表面后經被測物體反射至半反半透鏡，半反半透鏡將被測物體反射的光線反射至全反射鏡，全反射鏡將光線反射至成像單元，以檢測被測物體的第一表面；僅檢查被測物體的第二表面時，開啟透射光源，關閉反射光源，透射光源發出光線入射至被測物體的第二表面，并經被測物體透射至半反半透鏡，半反半透鏡將被測物體透射的光線反射至全反射鏡，全反射鏡將光線反射至成像單元，以檢測被測物體的第二表面；同時檢測被測物體前后表面時，反射光源和透射光源同時開啟，反射光源發出光線至半反半透鏡，從半反半透鏡透射的光線照射至被測物體的第一表面后經被測物體反射至半反半透鏡，透射光源發出光線入射至被測物體的第二表面，并經被測物體透射至半反半透鏡，此時兩路光線匯聚在一起經半反半透鏡反射至全反射鏡，全反射鏡將光線反射至成像單元，以同時檢測被測物體的前后表面。一種光學檢測系統的檢測方法，光學檢測系統包括反射光源、半反半透鏡、成像單元以及透射光源；僅檢查被測物體的第一表面時，開啟反射光源，關閉透射光源，反射光源發出光線至半反半透鏡，從半反半透鏡透射的光線照射至被測物體的第一表面后經被測物體反射至半反半透鏡，半反半透鏡將被測物體反射的光線反射至成像單元，以檢測被測物體的第一表面；僅檢查被測物體的第二表面時，開啟透射光源，關閉反射光源，透射光源發出光線入射至被測物體的第二表面，并經被測物體透射至半反半透鏡，半反半透鏡將被測物體透射的光線反射至成像單元，以檢測被測物體的第二表面；同時檢測被測物體前后表面時，反射光源和透射光源同時開啟，反射光源發出光線至半反半透鏡，從半反半透鏡透射的光線照射至被測物體的第一表面后經被測物體反射至半反半透鏡，透射光源發出光線入射至被測物體的第二表面，并經被測物體透射至半反半透鏡，此時兩路光線匯聚在一起經半反半透鏡反射至成像單元，以同時檢測被測物體的第一及第二表面。一種照明裝置，用于為檢測被測物體提供光照條件，該照明裝置包括反射光源、半反半透鏡以及透射光源；所述反射光源與透射光源設置在被測物體的相對的兩側，所述半反半透鏡設置在反射光源與被測物體之間，所述反射光源發出光線穿過半反半透鏡照射至被測物體表面后反射至半反半透鏡，所述透射光源發出光線經增強后透過被測物體并照射至半反半透鏡。其中，所述透射光源包括擴散板，所述擴散板至少一表面為粗糙面，所述反射光源發出光線穿過半反半透鏡透過測物體表面在所述粗糙面處減弱，所述透射光源發出光線經粗糙面增強后透過被測物體并照射至半反半透鏡。其中，所述透射光源還包括機械擋片，所述反射光源發出光線穿過半反半透鏡透過測物體表面在機械擋片處被遮擋，所述透射光源發出光線經機械擋片反射增強后透過被測物體并照射至半反半透鏡。相較于現有技術，本專利技術光學檢測系統通過設置反射光源與透射光源，使得被測物體表面可充分檢測，在檢測前表面時開啟反射光源而關閉透射光源，在檢測后表面時開啟透射光源而關閉反射光源，無需通過使用兩套光照設備來分別檢測被測物體的前后表面，提高了檢測物件的檢測效率，降低了檢測成本，且在檢測過程中無需重新置放被測物體，在檢測中不易損壞被測物體。附圖說明圖I為本專利技術光學檢測系統的結構示意圖2為用于圖I所示的光學檢測系統的透射光源的結構示意圖3為應用于光學檢測系統的本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種具有透射及反射光源的光學檢測系統，用于檢測被測物體，其特征在于：光學檢測系統包括反射光源、半反半透鏡、成像單元以及透射光源；所述反射光源與透射光源設置在被測物體的相對的兩側，所述半反半透鏡設置在反射光源與被測物體之間，所述反射光源發出光線穿過半反半透鏡照射至被測物體表面后反射至半反半透鏡，所述透射光源發出光線透過被測物體并照射至半反半透鏡，所述半反半透鏡將所述反射光源發出光線和/或所述透射光源發出的光線反射至成像單元。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：張梁，李波，樊思民，董玉靜，溫曄，
申請(專利權)人：肇慶中導光電設備有限公司，
類型：發明
國別省市：