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    等波長分辨率光譜重建方法技術

    技術編號:8365846 閱讀:188 留言:0更新日期:2013-02-28 02:19
    本發明專利技術涉及一種等波長分辨率光譜重建方法,包括以下步驟:1)獲取干涉圖,并對干涉圖進行預處理;2)根據預處理后的干涉圖對稱性計算每一波長位置λ的相位修正因子φ(λ);3)根據光譜重建波長位置λ以及波長分辨率dλ計算每一波長位置λ的與干涉圖對應的等波長分辨率切趾函數T(x,λ);4)計算每一波長位置λ的光譜強度Bt(λ)。本發明專利技術提供了一種在波段覆蓋范圍內實現任意指定波長位置的等波長分辨率光譜數據以及每一位置的波長分辨率可以在波段范圍內的最長波長的分辨率之下任意設定的等波長分辨率光譜重建方法。

    【技術實現步驟摘要】

    本專利技術屬于光學領域,涉及一種,尤其涉及一種從干涉型光譜儀或干涉型光譜成像儀干涉圖數據重建設定波長位置及設定波長分辨率的光譜的方法。
    技術介紹
    以邁氏或Sagnac等干涉儀為核心的干涉型光譜儀或干涉型光譜成像儀,直接獲取目標的干涉強度分布,經過光譜重建后才能獲得目標的輻射光譜。干涉型光譜儀或干涉型光譜成像儀的光譜分辨率以波數(波長的倒數)表示,各個通道波數分辨率一致,稱之為“等波數分辨率”,當將轉換為波長分辨率表示時,其短波波長分辨率高,長波波長分辨率低,波長分辨率在各個通道不一致。地面波譜庫中的光譜數據以及地面實驗室光譜儀采集的光譜數據的光譜分辨率是以波長分辨率表示,且各通道波長分辨率一致,稱之為“等波長分辨率”。而目前的干涉型光譜儀或干涉型光譜成像儀的光譜重建方法只能獲得等波數分辨率光譜數據,兩類數據在轉換時不能使得各個波段的光譜分辨率都一致,使得光譜比對和應用時非常的不方便,導致其在使用時有一定局限性,非常不利于該類型儀器的光譜數據的推廣與應用。
    技術實現思路
    為了解決
    技術介紹
    存在的中干涉型光譜儀或干涉光譜成像儀只能獲得等波數分辨率光譜數據的不足等技術問題,本專利技術提供了一種在波段覆蓋范圍內實現任意指定波長位置的等波長分辨率光譜數據以及每一位置的波長分辨率可以在波段范圍內的最長波長的分辨率之下任意設定的。本專利技術的技術解決方案是本專利技術提供過了一種,其特殊之處在于所述包括以下步驟I)獲取干涉圖,并對干涉圖進行預處理;2)根據預處理后的干涉圖對稱性計算每一波長位置λ的相位修正因子Φ (λ);3)根據光譜重建波長位置λ以及波長分辨率CU計算每一波長位置λ的與干涉圖對應的等波長分辨率切趾函數T (X,λ);4)計算每一波長位置λ的光譜強度Bt ( λ )。上述干涉圖是由干涉型光譜儀或干涉型光譜成像儀獲得的。上述步驟I)中的預處理包括暗電流扣除、平場校正以及低頻信號濾除。上述步驟2)中相位修正因子與波長λ的關系是權利要求1.一種,其特征在于所述包括以下步驟 1)獲取干涉圖,并對干涉圖進行預處理; 2)根據預處理后的干涉圖對稱性計算每一波長位置λ的相位修正因子Φ(λ); 3)根據光譜重建波長位置λ以及波長分辨率cU計算每一波長位置λ的與干涉圖對應的等波長分辨率切趾函數T (X,λ); 4)計算每一波長位置λ的光譜強度BtU)。2.根據權利要求I所述的,其特征在于所述干涉圖是由干涉型光譜儀或干涉型光譜成像儀獲得的。3.根據權利要求I或2所述的,其特征在于所述步驟I)中的預處理包括暗電流扣除、平場校正以及低頻信號濾除。4.根據權利要求3所述的,其特征在于所述步驟2)中相 位修正因子與波長λ的關系是5.根據權利要求4所述的,其特征在于所述步驟3)中的 波長X及波長分辨率d入的關系是6.根據權利要求5所述的,其特征在于所述步驟4)中光譜強度BtU)及每一波長位置λ的關系式是全文摘要本專利技術涉及一種,包括以下步驟1)獲取干涉圖,并對干涉圖進行預處理;2)根據預處理后的干涉圖對稱性計算每一波長位置λ的相位修正因子φ(λ);3)根據光譜重建波長位置λ以及波長分辨率dλ計算每一波長位置λ的與干涉圖對應的等波長分辨率切趾函數T(x,λ);4)計算每一波長位置λ的光譜強度Bt(λ)。本專利技術提供了一種在波段覆蓋范圍內實現任意指定波長位置的等波長分辨率光譜數據以及每一位置的波長分辨率可以在波段范圍內的最長波長的分辨率之下任意設定的。文檔編號G01J3/45GK102944309SQ20121040647公開日2013年2月27日 申請日期2012年10月22日 優先權日2012年10月22日專利技術者解培月, 薛彬, 楊建峰, 馬小龍, 喬衛東 申請人:中國科學院西安光學精密機械研究所本文檔來自技高網...

    【技術保護點】
    一種等波長分辨率光譜重建方法,其特征在于:所述等波長分辨率光譜重建方法包括以下步驟:1)獲取干涉圖,并對干涉圖進行預處理;2)根據預處理后的干涉圖對稱性計算每一波長位置λ的相位修正因子φ(λ);3)根據光譜重建波長位置λ以及波長分辨率dλ計算每一波長位置λ的與干涉圖對應的等波長分辨率切趾函數T(x,λ);4)計算每一波長位置λ的光譜強度Bt(λ)。

    【技術特征摘要】

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:解培月薛彬楊建峰馬小龍喬衛東
    申請(專利權)人:中國科學院西安光學精密機械研究所
    類型:發明
    國別省市:

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