一種薄膜輻射劑量測試夾具制造技術

本發明專利技術涉及一種薄膜輻射劑量測試夾具，屬于輻射測試領域。所述夾具為長方體，其中四個側面為長方形，頂面和底面為正方形；在夾具上開有同軸的沉孔G與沉孔H、薄膜加持狹縫和夾裝凹槽，測試時通過夾裝凹槽將薄膜輻射劑量計放置在薄膜加持狹縫中。本發明專利技術克服了夾具在不同次測試時薄膜相對位置移動造成的誤差，同時薄膜輻射劑量計在夾具中不受過大的加持力，處于自然延展狀態，有利于提高測試精度。

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及一種薄膜輻射劑量測試夾具，屬于輻射測試領域。
技術介紹
薄膜輻射劑量計可用來測量粒子，伽馬，電子束，X射線等輻射劑量，在輻射領域具有廣泛應用。在航天器設計領域，由于電子器件、材料在空間輻射環境中的電離總劑量效應地面評估考核中采用的是劑量等效原理，因此，劑量測試的精度影響空間電離總劑量效應地面評估考核精度。薄膜輻射劑量計常見尺寸為I厘米寬、幾十微米厚的方形薄膜片。根據薄膜輻射劑量計在輻照場中接收的劑量與薄膜輻射劑量計吸光度的變化一一對應的關系，可以測試材料器件在輻照場中吸收的劑量，因此薄膜輻射劑量計的吸光度測試精度直接影響劑量計的測試精度。薄膜輻射劑量計的吸光度采用分光光度計上測量，分光光度計的樣品基座一般為一個方形深槽，因此薄膜輻射劑量計測試時需要特制的夾具，將其固定在方形深槽中。目前薄膜輻射劑量計測試夾具多采用彈簧夾型，這種方法的缺陷是由于夾具兩片夾面的相對位置可活動，在不同次測量時夾具相對位置不固定，造成測試夾具多次測量的一致性較差。
技術實現思路
本專利技術提供了一種薄膜輻射劑量測試夾具，所述夾具將薄膜輻射劑量計安裝在狹縫中，克服了由于夾具在不同次測試時相對位置移動造成的誤差，有利于提高薄膜輻射劑量計吸光度測試精度。為實現上述目的，本專利技術的技術方案如下—種薄膜輻射劑量測試夾具，所述夾具為長方體，其中四個側面為長方形，頂面和底面為正方形；所述四個側面分別為A、B、C、D面，其中A面與C面相對，B面與D面相對；頂面和底面分別為E、F面；所述夾具尺寸與分光光度計的樣品槽相匹配；在夾具內取與E、F面平行的平面S，所述S面位于夾具高度的1/2 1/3位置，S面與A、B、C、D面分別交于a、b、c、d線；以S面的中心為原點O設空間直角坐標系，所述坐標系的X軸與A面垂直，y軸與D面垂直，z軸與E面垂直，以原點O到A面的方向為x軸的正方向，以原點O到D面的方向為y軸的正方向，以原點O到E面的方向為z軸的正方向，反之為負方向；在所述夾具的A面上沿X軸負方向開有沉孔H，在所述夾具的C面上沿X軸正方向開有沉孔G ;所述沉孔G與沉孔H同軸，軸線與X軸重合；沉孔H的內徑大于沉孔G的內徑，且沉孔H的長度大于沉孔G的長度；在沉孔G底端沿y軸方向開有貫穿BD面的薄膜加持狹縫，所述狹縫分別與沉孔G和沉孔H貫通；在所述狹縫的B面端部開有夾裝凹槽，用于將薄膜輻射劑量計放置在薄膜加持狹縫中。優選所述夾具長、寬均為I. 2cm (即為E、F面的邊長)，夾具高度至少比分光光度計的樣品槽深度大于Icm ;沉孔H的內徑為8mm，沉孔G的內徑為5mm ;薄膜夾持狹縫沿z軸方向的高度為I. 2cm，沿X軸方向的寬度為Imm;夾裝凹槽沿z軸方向的高度為I. 2cm，沿y軸方向的長度為4mm。使用時將薄膜輻射劑量計從夾裝凹槽中塞入到薄膜加持狹縫中，將薄膜輻射劑量計固定在薄膜加持狹縫中；光路通過沉孔H射入后，從沉孔G中射出。有益效果本專利技術將薄膜輻射劑量計安裝在狹縫中，克服了由于夾具不同次測試時相對位置移動造成的誤差，同時薄膜輻射劑量計在夾具中不受過大的加持力，處于自然延展狀態，更有利于提聞測試精度。附圖說明圖I為本專利技術所述的薄膜輻射劑量測試夾具的正視圖；圖2為在圖I所示正視圖上設立的空間直角坐標系；圖3為本專利技術所述的薄膜輻射劑量測試夾具的左視圖；圖4為本專利技術所述的薄膜輻射劑量測試夾具的俯視圖；圖5為本專利技術所述的薄膜輻射劑量測試夾具與彈簧夾型夾具測試結果比較；圖6為薄膜輻射劑量計類型，左為全透型，右為中孔型。其中，I-沉孔G、2_沉孔H、3-薄膜夾持狹縫、4_夾裝凹槽。具體實施例方式下面通過實施例，對本專利技術作進一步說明。如圖I所示，用硬鋁材料制成薄膜輻射劑量計測試夾具，所述夾具為長方體，其中四個側面為長方形，頂面和底面為正方形；所述四個側面分別為A、B、C、D面，其中A面與C面相對，B面與D面相對；頂面和底面分別為E、F面；所述夾具尺寸與分光光度計的樣品槽相匹配；在夾具內取與E、F面平行的平面S，所述S面位于夾具高度的1/2 1/3位置，S面與A、B、C、D面分別交于a、b、c、d線；以S面的中心為原點O設空間直角坐標系，所述坐標系的X軸與A面垂直，y軸與D面垂直，z軸與E面垂直，以原點O到A面的方向為x軸的正方向，以原點O到D面的方向為y軸的正方向，以原點O到E面的方向為z軸的正方向，反之為負方向；在所述夾具的A面上沿X軸負方向開有沉孔H2，在所述夾具的C面上沿x軸正方向開有沉孔Gl ;所述沉孔Gl與沉孔H2同軸，軸線與X軸重合；沉孔H2的內徑大于沉孔Gl的內徑，且沉孔H2的長度大于沉孔Gl的長度；所述沉孔Gl與沉孔H2可限制雜散光進入光路，特別是沉孔Gl可以保證夾具既適用于中孔型，也適用于全透型薄膜輻射劑量計，如圖5所示。在沉孔Gl底端沿J軸方向開有貫穿BD面的薄膜加持狹縫3，所述狹縫3分別與沉孔Gl和沉孔H2貫通；在所述狹縫3的B面端部開有夾裝凹槽4，用于將薄膜輻射劑量計放置在薄膜加持狹縫3中。所述薄膜輻射劑量測試夾具的尺寸如下所述夾具長、寬均為I. 2cm (即為E、F面的邊長)，夾具高度至少比分光光度計的樣品槽深度大于Icm ;沉孔H2的內徑為8mm，沉孔Gl的內徑為5mm ;薄膜夾持狹縫3沿z軸方向的高度為I. 2cm，沿X軸方向的寬度為Imm;夾裝凹槽4沿z軸方向的高度為I. 2cm，沿y軸方向的長度為4mm。將所述夾具用于薄膜輻射劑量計吸光度的測試，測試在分光光度計上進行，步驟如下a.打開分光光度計電源開關,讓分光光度計預熱30分鐘。b.按下A/T/C紐選擇需要的功能(比如選擇A，為吸收的意思)，設置光波波長。c.將夾具放入分光光度計的樣品盒，合上樣品盒的蓋子。d.按下 O ABS/100%T，設置空白。e.將夾具取出，把薄膜輻射劑量計放入夾具的薄膜夾持狹縫3中，合上樣品盒的蓋子。f.在儀器顯示器上讀出吸光度值，根據劑量計的吸光度-劑量表讀出劑量。將彈簧夾型夾具重復步驟a f，將測試結果與本專利技術所述夾具比較，結果如圖4所示。說明本專利技術所述的薄膜輻射劑量測試夾具自身的吸光度變化較小，能較為準確地測試薄膜輻射劑量計的吸光度。綜上所述，以上僅為本專利技術的較佳實施例而已，并非用于限定本專利技術的保護范圍。凡在本專利技術的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換、改進等，均應包含在本專利技術的保護范圍之內。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種薄膜輻射劑量計測試夾具，其特征在于：所述夾具為長方體，其中四個側面為長方形，頂面和底面為正方形；所述四個側面分別為A、B、C、D面，其中A面與C面相對，B面與D面相對；頂面和底面分別為E、F面；在夾具內取與E、F面平行的平面S，所述S面位于夾具高度的1/2~1/3位置，S面與A、B、C、D面分別交于a、b、c、d線；以S面的中心為原點O設空間直角坐標系，所述坐標系的x軸與A面垂直，y軸與D面垂直，z軸與E面垂直，以原點O到A面的方向為x軸的正方向，以原點O到D面的方向為y軸的正方向，以原點O到E面的方向為z軸的正方向，反之為負方向；在所述夾具的A面上沿x軸負方向開有沉孔H（2），在所述夾具的C面上沿x軸正方向開有沉孔G（1）；所述沉孔G（1）與沉孔H（2）同軸，軸線與x軸重合；沉孔H（2）的內徑大于沉孔G（1）的內徑，且沉孔H（2）的長度大于沉孔G（1）的長度；在沉孔G（1）底端沿y軸方向開有貫穿BD面的薄膜加持狹縫（3），所述狹縫（3）分別與沉孔G（1）和沉孔H（2）貫通；在所述狹縫（3）的B面端部開有夾裝凹槽（4）。

【技術特征摘要】
1.一種薄膜輻射劑量計測試夾具，其特征在于所述夾具為長方體，其中四個側面為長方形，頂面和底面為正方形；所述四個側面分別為A、B、C、D面，其中A面與C面相對，B面與D面相對；頂面和底面分別為E、F面； 在夾具內取與E、F面平行的平面S，所述S面位于夾具高度的1/2 1/3位置，S面與A、B、C、D面分別交于a、b、c、d線；以S面的中心為原點O設空間直角坐標系，所述坐標系的x軸與A面垂直，y軸與D面垂直，z軸與E面垂直，以原點O到A面的方向為x軸的正方向，以原點O到D面的方向為y軸的正方向，以原點O到E面的方向為z軸的正方向，反之為負方向； 在所述夾具的A面上沿X軸負方向開有沉孔H(2),在所述夾具的C面上沿X軸正方向開有沉孔G (I);所述沉孔G ...

【專利技術屬性】
技術研發人員：馮展祖，楊生勝，傅丹膺，李存惠，薛玉雄，陳羅婧，史亮，高欣，田海，柳青，袁春柱，陳磊，
申請(專利權)人：中國航天科技集團公司第五研究院第五一〇研究所，航天東方紅衛星有限公司，
類型：發明
國別省市：