采用自比量尺的測驗系統及其方法技術方案

本發明專利技術公開了一種采用自比量尺的測驗系統及其方法，該系統包括用于產生具有題目、量尺及位于該量尺上的多個卷標的測驗試題的試題模塊，使該多個卷標于該量尺上移動，并依據該題目將各該卷標移動至該量尺上對應的位置的作答模塊，以及記錄各該卷標所對應的位置而成為落點信息的記錄模塊，其中，該落點信息用于比較單一受試者或不同受試者間對該測驗試題的各該卷標之間的關聯性。因此，經測驗后不僅可提供受試者自身或者多位受試者之間對測試結果作分析，同時減少測驗作假情況以及難以分析等現有缺陷。

【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及一種采用自比量尺的測驗系統及其方法，且特別涉及一種可分析測驗內容對于受試者本身或受試者間的影響程度的測驗系統及其方法。
技術介紹
為了知悉每個人的思想與個性，可通過如情意測驗、人格測驗或市場調查問卷等測驗達到目的，傳統上多采用李克特氏點量尺(Likert scale)作為測驗工具，借由受測結果以得知受試者特質。對于業界人才甄選時，傳統問卷常以李克特氏點量尺的形式來供受試者作答，如圖5A所示，其為表示采用李克特氏自陳量表的問卷題目的示意圖，其中，受試者依喜好程度而給予各選項評分，其中有I 6分可供選擇，然而實務上測驗分數可能影響后續決策，·例如受試者對于某選項喜好程度低而無法錄取，因而在該自陳量表作答時容易產生作假情況，也就是受試者可能依據甄選職務的需求，而將備受期待特質的選項高分以增加競爭優勢，如此使得測驗無法反應真實情況。為避免前述受試者作假情況，目前實務上還采用另一種自比式試題(ipsativeitem)作為測驗工具，如圖5B所示，其為表示采用自比式試題的問卷題目的示意圖，其中，受試者需于兩選項間比較出優劣順序，相較于前述采用自陳量表時，受試者可能對于所有選項給予高分，但自比式試題強迫受試者需區分出各選項的優劣，如優者得一分而劣者得零分，再統計每一選項總分以分出相較高低，若要作假，需確定每一個選項重要性及排序才能作假，因而利用自比式試題確實可降低受試者作假情況，但此種自比式試題仍然有兩個問題，第一是計分結果僅能解釋該受試者各選項(即應受試者內在特質)的優劣順序，但無法用于受試者之間的比較，第二是其得分無法進行因素分析，由于自比式試題中不同選項(特質)間互依性太強，使得每一受試者所有選項的加總分數一樣，如圖5C所示，不同受試者在自比式試題測驗后僅能知悉各受試者對于各選項喜好程度，但無法說明兩受試者對于同一選項的喜好程度高低，例如該圖僅能說明受試者A對看電影的喜好程度優于看展覽，而不能解釋受試者A看電影的喜好程度優于受試者B看電影的喜好程度，因而在解釋各特質間比較時會產生極大困難。因此，現行無論是采用自陳量表或者自比式試題進行測驗皆有其缺點，在期望測驗結果具高可信度及可供因素分析的需求下，如何找出一種更完善測驗系統，不僅可測驗出受試者內在特質的強弱，更可用于比較不同受試者間同一特質的強度大小，此仍屬本領域的技術人員所應努力的目標。
技術實現思路
鑒于上述現有技術的缺點，本專利技術的目的在于提出一種采用自比量尺的測驗系統及其方法，通過結合李克特氏自陳量表與自比式試題的特性，而產生可分析測驗內容對于單一受試者或不同受試者影響的測驗試題。為達成前述目的及其它目的，本專利技術提供一種采用自比量尺的測驗系統，其包括試題模塊，用于產生測驗試題，而該測驗試題具有題目、一量尺及位于該量尺上的多個卷標；作答模塊，用于提供該多個卷標在該量尺上移動，以由受試者依據該題目移動各該卷標至該量尺上對應的位置；以及記錄模塊，用于記錄各該卷標于該量尺上所對應的位置而成為落點信息，其中，該落點信息用于比較單一受試者或不同受試者間對該測驗試題的各該卷標之間的關聯性。于一實施例中，該落點信息包括記錄各該卷標于該量尺上所在位置的坐標數據以及記錄各該卷標間先后順序的次序數據。于一較佳實施例中，本專利技術的采用自比量尺的測驗系統還包括分析模塊，用于計算任一卷標的落點信息，以得到該卷標于該測驗試題的強度值。此外，該關聯性是指該分析模塊依據各該卷標的強度值產生各該卷標的強度值，以得到各該卷標對該單一受試者的強度關系，以及同一卷標于所述多個不同受試者間的強度關系。·此外，本專利技術又提出一種采用自比量尺的測驗方法，其包括以下步驟1)產生具有題目、一量尺及位于該量尺上的多個卷標的測驗試題；2)依據該題目將各該卷標移動至該量尺上對應的位置；3)記錄各該卷標于該量尺上所對應的位置以成為各該卷標的落點信息；以及4)分析所述多個落點信息，以用于比較單一受試者或不同受試者間對該測驗試題的各該卷標之間的關聯性。相較于現有技術，本專利技術所述的采用自比量尺的測驗系統及其方法，其測驗試題是結合李克特氏自陳量表與自比式試題兩者的特性而形成，其測驗結果具有較高可信度，不僅可用決定受試者內在特質的強弱，同時可用于相異受試者之間對同一特質的比較，此為現有自陳量表或自比式試題的測驗方式所無法達到，因而，采用本專利技術的測驗方式可得到具分析價值的測驗結果，同時可分析出測驗試題的測驗內容對于受試者的影響程度。附圖說明圖I為本專利技術采用自比量尺的測驗系統的系統架構圖；圖2為本專利技術所述采用自比量尺的測驗系統的一實施例的量尺與卷標的示意圖；圖3為本專利技術采用自比量尺的測驗方法的步驟流程圖；圖4A至圖4C為采用自比量尺的測驗系統所產生的問卷題目及作答記錄的示意圖；圖5A用于說明采用李克特氏自陳量表的問卷題目的示意圖；圖5B及圖5C用于說明采用自比式試題的問卷題目的示意圖。其中，附圖標記說明如下I :采用自比量尺的測驗系統；10 :試題模塊；11:作答模塊；12 :記錄模塊；13 :分析模塊；20、40 :量尺；21、41:卷標；42 :敘述選項；100 :受試者；S301 S304 :步驟。具體實施例方式以下借由特定的具體實施例說明本 專利技術的
技術實現思路
，熟悉此技藝的人士可由本說明書所揭示的內容輕易地了解本專利技術的其它優點與功效。本專利技術也可借由其它不同的具體實施例加以施行或應用。請參閱圖1，其為本專利技術采用自比量尺的測驗系統的系統架構圖。如圖所示，該采用自比量尺的測驗系統I是結合自陳量表與自比式試題的特性而形成的測驗系統，該采用自比量尺的測驗系統I包括試題模塊10、作答模塊11以及記錄模塊12。于此須說明的是，前述采用自比量尺的測驗系統I可應用于計算機等數據處理設備中予以執行，用于提供如職場測驗、性向測驗、興趣測驗、人格測驗或市場調查問卷等特質測驗或調查，然而，本專利技術的采用自比量尺的測驗系統I其技術特征在于測驗方式及測驗結果，故并無需局限該采用自比量尺的測驗系統I的用途。試題模塊10用于產生測驗試題，而該測驗試題具有題目、一量尺及位于該量尺上的多個卷標。具體來說，該試題模塊10用于產生供受試者100作答的測驗試題，有別于現有的自陳量表僅對各選項填入分數，或是現有的自比式試題僅能于兩選項擇一給分的測驗方式，該試題模塊10所提供的測驗試題包括題目、一量尺以及位于該量尺上的多個卷標，其中，題目表示試題內容，該量尺為不含刻度的連續軸，因而該量尺任一點皆可為卷標的落點，其兩端代表最高和最低的分數、程度或意愿，而測驗試題內還有多個不同敘述選項讓受試者100進行作答，而各該卷標即對應所述多個敘述選項，換言之，量尺上的多個卷標表示其對應的敘述選項，而受試者100可通過所述多個卷標進行作答。作答模塊11用于提供該多個卷標在該量尺上移動，以由受試者100依據該題目移動各該卷標至該量尺上對應的位置。如前所述，試題模塊10所提供測驗試題具有量尺及多個卷標，而受試者100可由該題目內容，來移動在量尺上對應所述多個敘述選項的多個卷標，其移動方式通過拖曳所述多個卷標來達成，以使各該卷標移動至量尺上適當位置，由于該量尺兩端表示最高和最低的程度，故，受試者100可依自身想法而進行作答。記錄模塊12用于記錄各該卷標于該量尺上所對應的位置而成為落本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種采用自比量尺的測驗系統，其特征在于，包括：試題模塊，其用于產生測驗試題，而該測驗試題具有題目、一量尺及位于該量尺上的多個卷標；作答模塊，其用于提供該多個卷標在該量尺上移動，以由受試者依據該題目移動各該卷標至該量尺上對應的位置；以及記錄模塊，其用于記錄各該卷標于該量尺上所對應的位置而成為落點信息，其中，該落點信息用于比較單一受試者或不同受試者間對該測驗試題的各該卷標之間的關聯性。

【技術特征摘要】
1.一種采用自比量尺的測驗系統，其特征在于，包括 試題模塊，其用于產生測驗試題，而該測驗試題具有題目、一量尺及位于該量尺上的多個卷標； 作答模塊，其用于提供該多個卷標在該量尺上移動，以由受試者依據該題目移動各該卷標至該量尺上對應的位置；以及 記錄模塊，其用于記錄各該卷標于該量尺上所對應的位置而成為落點信息，其中，該落點信息用于比較單一受試者或不同受試者間對該測驗試題的各該卷標之間的關聯性。2.根據權利要求I所述的采用自比量尺的測驗系統，其特征在于，該測驗試題內包括多個不同敘述選項，而各該卷標對應所述多個敘述選項。3.根據權利要求I所述的采用自比量尺的測驗系統，其特征在于，該量尺為不含刻度的連續軸，且該記錄模塊是以像素為單位來記錄該卷標的該落點信息。4.根據權利要求I所述的采用自比量尺的測驗系統，其特征在于，該落點信息包括記錄各該卷標于該量尺上所在位置的坐標數據以及記錄各該卷標間先后順序的次序數據。5.根據權利要求I所述的采用自比量尺的測驗系統，其特征在于，該系統還包括分析模塊，用于計算任一卷標的落點信息，以得到該卷標于該測驗試題的強度值。6.根據權利要求5所述的采用自比量尺的測驗系統，其特征在于，該關聯性是指該分析模塊依據各該卷標的強度值產生各該卷標對該單一受試者的強度關系，以及同一卷標于所述多個不同受試者間的強度關系。7.根據權利要求I所述的采用自比量尺的測驗系統，其特征在于，該作答...

【專利技術屬性】
技術研發人員：宋曜廷，
申請(專利權)人：宋曜廷，
類型：發明
國別省市：