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    觸摸面板制造技術

    技術編號:8271129 閱讀:142 留言:0更新日期:2013-01-31 03:15
    本發明專利技術提供一種觸摸面板,其即使將最大觸摸點數設定很多也能夠在固定時間內完成觸摸檢測??刂撇扛鶕電極與Y電極的電極間電容值來檢測觸摸面板的觸摸點,求出檢測出的該各觸摸點的臨時坐標??刂撇扛鶕饔|摸點的狀態,對每個觸摸點決定得到高坐標精度的優先級??刂撇繌亩鄠€坐標計算算法中選擇具有與各觸摸點的優先級相應的坐標精度的算法,計算出用于計算全部觸摸點的坐標的所需運算時間??刂撇繘Q定優先級以使得計算出的所需運算時間為規定時間以下??刂撇窟x擇與該優先級對應的坐標計算算法,計算各觸摸點的坐標。

    【技術實現步驟摘要】
    本專利技術涉及一種觸摸面板,特別是涉及一種在規定時間內完成觸摸檢測的觸摸面板裝置。
    技術介紹
    顯示裝置使用于PDA或便攜 式終端等可移動電子設備、各種家電產品、以及自動存取款機(Automated Teller Machine)等,該顯示裝置具備在顯示畫面上使用“使用者的手指”或者筆等進行觸摸操作(接觸按壓操作,以下簡稱為觸摸)而輸入信息的裝置(以下,還稱為觸摸傳感器或者觸摸面板)。作為這種觸摸面板,可知對觸摸到的部分的電阻值變化進行檢測的電阻膜方式、對電容變化進行檢測的靜電電容方式以及對光量變化進行檢測的光傳感器方式等。靜電電容方式的觸摸面板具備在縱向方向上延伸的多個檢測用的電極(X電極)以及在橫向方向上延伸的多個檢測用的電極(Y電極),通過輸入處理部對相互交叉的X電極與Y電極的電極間電容進行檢測。在觸摸面板的表面接觸手指等導體的情況下,配置在接觸部位的電極的電容增加,因此輸入處理部檢測其電容變化,根據各電極所檢測到的電容變化信號來計算輸入坐標(觸摸點)。專利文獻I :日本特開2008-287376號公報
    技術實現思路
    然而,在以往的觸摸面板中,存在觸摸檢測時間與觸摸點成正比地增加這種問題。因此,即使在同時進行多個觸摸的情況下,為了在規定時間內完成觸摸檢測,也需要將要檢測的觸摸點的上限數(最大觸摸點)設定為較少(例如,2 4點左右)。本專利技術是為了解決上述以往技術的問題而完成的,本專利技術的目的在于,即使將最大觸摸點數設定很多也能夠在規定時間內完成觸摸檢測的觸摸面板。根據本說明書的說明以及附圖來說明本專利技術的上述和其它目的以及新特征。簡單說明本申請所公開的專利技術中具有代表性的技術方案的概要如下。(I) 一種觸摸面板,其特征在于,具有多個X電極;多個Y電極;測量部,其對上述多個X電極與上述多個Y電極之間的電極間電容進行測量;存儲部,其保存上述多個X電極與上述多個Y電極之間的電極間電容值;以及控制部,其具有所得到的坐標精度互不相同的多個坐標計算算法,選擇上述多個坐標計算算法中的一個,根據保存在上述存儲部中的上述電極間電容值,運算對觸摸面板的觸摸位置的坐標,其中,上述控制部具有第一單元,其根據保存在上述存儲部中的上述電極間電容值,檢測對觸摸面板的觸摸點,求得檢測出的各觸摸點的臨時坐標;第二單元,其根據上述各觸摸點的狀態,決定用于在上述觸摸點相互之間得到高坐標精度的優先級;第三單元,其對上述每個觸摸點選擇與通過上述第二單元決定的上述優先級相對應的坐標計算算法,估計對上述檢測出的全部觸摸點的坐標進行計算時的運算時間;第四單元,其判斷通過上述第三單元估計出的上述運算時間是否在預先確定的規定時間內;第五單元,其在上述第四單元中判斷為通過上述第三單元估計出的上述運算時間不在上述規定時間內的情況下,再次執行上述第三單元;以及第六單元,其在上述第四單元中判斷為通過上述第三單元估計出的上述運算時間在上述規定時間內的情況下,根據通過上述第二單元所決定的上述優先級,選擇與該優先級對應的坐標計算算法,計算上述各觸摸點的坐標。(2)在上述(I)的觸摸面板中,上述存儲部具有算法信息,該算法信息保存有上述坐標計算算法的一覽表、使用上述各坐標計算算法進行計算時的所需時間、所得到的坐標精度,上述控制部的上述第三單元參照上述算法信息,選擇與上述優先級對應的上述坐標計算算法,求出計算上述全部觸摸點的坐標所需的上述運算時間。(3)在上述(I)的觸摸面板中,上述存儲部具有觸摸檢測設定,該觸摸檢測設定保存有與同時進行了多個觸摸的情況下有關的、計算坐標的觸摸點個數的上限即最大觸摸點數,以及在觸摸檢測處理中被允許的坐標計算時間,上述控制部的上述第一單元在檢測出的觸摸點的總數超過上述觸摸檢測設定的上述最大觸摸點的情況下,中止上述觸摸點的檢測,上述控制部的上述第四單元使用上述觸摸檢測設定的上述坐標計算時間作為上述規定 時間。(4)在上述(3)的觸摸面板中,能夠從上述觸摸面板的外部設定上述觸摸檢測設定的上述最大觸摸點數和上述坐標計算時間。(5)在上述⑴的觸摸面板中,上述存儲部具有區域設定,該區域設定保存有觸摸面板上的特定區域、以及在上述特定區域內要求的坐標精度,上述控制部的上述第二單元決定與上述特定區域的上述坐標精度對應的優先級,作為上述區域設定的上述特定區域內的觸摸點的上述優先級。(6)在上述(5)的觸摸面板中,能夠從上述觸摸面板的外部設定上述區域設定的上述特定區域和上述特定區域的上述坐標精度。(7)在上述(I)的觸摸面板中,上述控制部的上述第二單元首先對上述各觸摸點決定用于得到最高坐標精度的上述優先級,在根據上述第四單元的判斷結果來再次決定上述各觸摸點的上述優先級的情況下,對特定的觸摸點附加高等級,對除此以外的觸摸點附加低等級。(8)在上述(7)的觸摸面板中,上述控制部的上述第二單元在根據上述第四單元的判斷結果來再次決定上述各觸摸點的上述優先級的情況下,對移動速度慢的觸摸點附加高等級,對移動速度快的觸摸點附加低等級。(9)在上述(I)的觸摸面板中,上述存儲部具有觸摸點管理表,該觸摸點管理表按通過上述控制部的上述第一單元檢測出的上述每個觸摸點保存有觸摸點的臨時坐標、請求坐標精度、等級以及坐標計算算法,在上述觸摸點管理表的各項目中保存有通過上述控制部的上述第一單元和上述第二單元得到的值。(10)在上述(I)的觸摸面板中,上述存儲部具有觸摸檢測結果,該觸摸檢測結果按通過上述控制部的上述第一單元檢測出的上述每個觸摸點保存有觸摸點的坐標和坐標精度,在上述觸摸檢測結果的各項目中保存有通過上述控制部的上述第一單元和上述第六單元得到的值。(11)在上述(I)的觸摸面板中,上述控制部按通過上述第一單元檢測出的上述每個觸摸點將觸摸點的坐標和坐標精度向外部通知。簡單說明本申請所公開的專利技術中具有代表性的技術方案的概要如下。根據本專利技術,能夠提供一種觸摸面板,其即使將最大觸摸點數設定很多也能夠在固定時間完成觸摸檢測。附圖說明圖I是表示本專利技術實施例的觸摸面板的整體概要結構的框圖。圖2是表示圖I示出的信號值的結構與值的一例的示意圖。圖3是表示圖I示出的算法信息的項目與值的一例的示意圖。 圖4是表示圖I示出的觸摸檢測設定的項目與值的一例的示意圖。圖5是表示圖I示出的區域設定的項目與值的一例的示意圖。圖6是表不用戶接口的一例的不意圖。圖7是表示圖I示出的觸摸點管理表的項目的示意圖。圖8是表示本專利技術實施例的觸摸面板的觸摸檢測處理的處理過程的流程圖。圖9是表示本專利技術實施例的觸摸面板中檢測為信號值的觸摸點的一例的示意圖。圖10是表示本專利技術實施例的觸摸面板中前一循環中的觸摸點的一例的示意圖。圖11是表示本專利技術實施例的觸摸面板中當前循環中的觸摸點的一例的示意圖。圖12是表不圖8的步驟S2中的觸摸點管理表的一例的不意圖。圖13是表示圖8的步驟S3中的觸摸點管理表的一例的示意圖。圖14是表不圖8的步驟S4中的觸摸點管理表的一例的不意圖。圖15是表不圖8的步驟S5中的觸摸點管理表的一例的不意圖。圖16是表示本專利技術實施例的觸摸面板中觸摸檢測結果的項目與值的一例的示意圖。圖17是表示本專利技術實施例的觸摸面板中將觸摸檢測結果的內容發送給主機裝置時的通信協議的示意圖。附圖標記的說明I :觸摸面板;2 :電容檢測部;3 :控本文檔來自技高網...

    【技術保護點】
    一種觸摸面板,其特征在于,具有:多個X電極;多個Y電極;測量部,其對上述多個X電極與上述多個Y電極之間的電極間電容進行測量;存儲部,其保存上述多個X電極與上述多個Y電極之間的電極間電容值;以及控制部,其具有所得到的坐標精度互不相同的多個坐標計算算法,選擇上述多個坐標計算算法中的一個,根據保存在上述存儲部中的上述電極間電容值,運算對觸摸面板的觸摸位置的坐標,其中,上述控制部具有:第一單元,其根據保存在上述存儲部中的上述電極間電容值,檢測對觸摸面板的觸摸點,求得該檢測出的各觸摸點的臨時坐標;第二單元,其根據上述各觸摸點的狀態,決定用于在上述觸摸點相互之間得到高坐標精度的優先級;第三單元,其對上述每個觸摸點選擇與通過上述第二單元決定的上述優先級相對應的坐標計算算法,估計對上述檢測出的全部觸摸點的坐標進行計算時的運算時間;第四單元,其判斷通過上述第三單元估計出的上述運算時間是否在預先確定的規定時間內;第五單元,其在上述第四單元中判斷為通過上述第三單元估計出的上述運算時間不在上述規定時間內的情況下,再次執行上述第三單元;以及第六單元,其在上述第四單元中判斷為通過上述第三單元估計出的上述運算時間在上述規定時間內的情況下,根據通過上述第二單元所決定的上述優先級,選擇與該優先級對應的坐標計算算法,計算上述各觸摸點的坐標。...

    【技術特征摘要】
    2011.07.28 JP 2011-1653551.一種觸摸面板,其特征在于,具有 多個X電極; 多個Y電極; 測量部,其對上述多個X電極與上述多個Y電極之間的電極間電容進行測量; 存儲部,其保存上述多個X電極與上述多個Y電極之間的電極間電容值;以及控制部,其具有所得到的坐標精度互不相同的多個坐標計算算法,選擇上述多個坐標計算算法中的一個,根據保存在上述存儲部中的上述電極間電容值,運算對觸摸面板的觸摸位置的坐標, 其中,上述控制部具有 第一單元,其根據保存在上述存儲部中的上述電極間電容值,檢測對觸摸面板的觸摸點,求得該檢測出的各觸摸點的臨時坐標; 第二單元,其根據上述各觸摸點的狀態,決定用于在上述觸摸點相互之間得到高坐標精度的優先級; 第三單元,其對上述每個觸摸點選擇與通過上述第二單元決定的上述優先級相對應的坐標計算算法,估計對上述檢測出的全部觸摸點的坐標進行計算時的運算時間; 第四單元,其判斷通過上述第三單元估計出的上述運算時間是否在預先確定的規定時間內; 第五單元,其在上述第四單元中判斷為通過上述第三單元估計出的上述運算時間不在上述規定時間內的情況下,再次執行上述第三單元;以及 第六單元,其在上述第四單元中判斷為通過上述第三單元估計出的上述運算時間在上述規定時間內的情況下,根據通過上述第二單元所決定的上述優先級,選擇與該優先級對應的坐標計算算法,計算上述各觸摸點的坐標。2.根據權利要求I所述的觸摸面板,其特征在于, 上述存儲部具有算法信息,該算法信息保存有上述坐標計算算法的一覽表、使用上述各坐標計算算法進行計算時的所需時間、所得到的坐標精度, 上述控制部的上述第三單元參照上述算法信息,選擇與上述優先級對應的上述坐標計算算法,求出計算上述全部觸摸點的坐標所需的上述運算時間。3.根據權利要求I所述的觸摸面板,其特征在于, 上述存儲部具有觸摸檢測設定,該觸摸檢測設定保存有與同時進行了多個觸摸的情況下有關的、計算坐標的觸摸點個數的上限即最大觸摸點數,以及在觸摸檢測處理中被允許的坐標計算時間, 上述控制部的上述第一單元在檢測出的觸摸點的總數超過...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:土井宏治永田浩司
    申請(專利權)人:株式會社日本顯示器東
    類型:發明
    國別省市:

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