【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及一種觸摸面板,特別是涉及一種在規定時間內完成觸摸檢測的觸摸面板裝置。
技術介紹
顯示裝置使用于PDA或便攜 式終端等可移動電子設備、各種家電產品、以及自動存取款機(Automated Teller Machine)等,該顯示裝置具備在顯示畫面上使用“使用者的手指”或者筆等進行觸摸操作(接觸按壓操作,以下簡稱為觸摸)而輸入信息的裝置(以下,還稱為觸摸傳感器或者觸摸面板)。作為這種觸摸面板,可知對觸摸到的部分的電阻值變化進行檢測的電阻膜方式、對電容變化進行檢測的靜電電容方式以及對光量變化進行檢測的光傳感器方式等。靜電電容方式的觸摸面板具備在縱向方向上延伸的多個檢測用的電極(X電極)以及在橫向方向上延伸的多個檢測用的電極(Y電極),通過輸入處理部對相互交叉的X電極與Y電極的電極間電容進行檢測。在觸摸面板的表面接觸手指等導體的情況下,配置在接觸部位的電極的電容增加,因此輸入處理部檢測其電容變化,根據各電極所檢測到的電容變化信號來計算輸入坐標(觸摸點)。專利文獻I :日本特開2008-287376號公報
技術實現思路
然而,在以往的觸摸面板中,存在觸摸檢測時間與觸摸點成正比地增加這種問題。因此,即使在同時進行多個觸摸的情況下,為了在規定時間內完成觸摸檢測,也需要將要檢測的觸摸點的上限數(最大觸摸點)設定為較少(例如,2 4點左右)。本專利技術是為了解決上述以往技術的問題而完成的,本專利技術的目的在于,即使將最大觸摸點數設定很多也能夠在規定時間內完成觸摸檢測的觸摸面板。根據本說明書的說明以及附圖來說明本專利技術的上述和其它目的以及新特征。簡單說明本申請所公開的專利 ...
【技術保護點】
一種觸摸面板,其特征在于,具有:多個X電極;多個Y電極;測量部,其對上述多個X電極與上述多個Y電極之間的電極間電容進行測量;存儲部,其保存上述多個X電極與上述多個Y電極之間的電極間電容值;以及控制部,其具有所得到的坐標精度互不相同的多個坐標計算算法,選擇上述多個坐標計算算法中的一個,根據保存在上述存儲部中的上述電極間電容值,運算對觸摸面板的觸摸位置的坐標,其中,上述控制部具有:第一單元,其根據保存在上述存儲部中的上述電極間電容值,檢測對觸摸面板的觸摸點,求得該檢測出的各觸摸點的臨時坐標;第二單元,其根據上述各觸摸點的狀態,決定用于在上述觸摸點相互之間得到高坐標精度的優先級;第三單元,其對上述每個觸摸點選擇與通過上述第二單元決定的上述優先級相對應的坐標計算算法,估計對上述檢測出的全部觸摸點的坐標進行計算時的運算時間;第四單元,其判斷通過上述第三單元估計出的上述運算時間是否在預先確定的規定時間內;第五單元,其在上述第四單元中判斷為通過上述第三單元估計出的上述運算時間不在上述規定時間內的情況下,再次執行上述第三單元;以及第六單元,其在上述第四單元中判斷為通過上述第三單元估計出的上述運算時間在 ...
【技術特征摘要】
2011.07.28 JP 2011-1653551.一種觸摸面板,其特征在于,具有 多個X電極; 多個Y電極; 測量部,其對上述多個X電極與上述多個Y電極之間的電極間電容進行測量; 存儲部,其保存上述多個X電極與上述多個Y電極之間的電極間電容值;以及控制部,其具有所得到的坐標精度互不相同的多個坐標計算算法,選擇上述多個坐標計算算法中的一個,根據保存在上述存儲部中的上述電極間電容值,運算對觸摸面板的觸摸位置的坐標, 其中,上述控制部具有 第一單元,其根據保存在上述存儲部中的上述電極間電容值,檢測對觸摸面板的觸摸點,求得該檢測出的各觸摸點的臨時坐標; 第二單元,其根據上述各觸摸點的狀態,決定用于在上述觸摸點相互之間得到高坐標精度的優先級; 第三單元,其對上述每個觸摸點選擇與通過上述第二單元決定的上述優先級相對應的坐標計算算法,估計對上述檢測出的全部觸摸點的坐標進行計算時的運算時間; 第四單元,其判斷通過上述第三單元估計出的上述運算時間是否在預先確定的規定時間內; 第五單元,其在上述第四單元中判斷為通過上述第三單元估計出的上述運算時間不在上述規定時間內的情況下,再次執行上述第三單元;以及 第六單元,其在上述第四單元中判斷為通過上述第三單元估計出的上述運算時間在上述規定時間內的情況下,根據通過上述第二單元所決定的上述優先級,選擇與該優先級對應的坐標計算算法,計算上述各觸摸點的坐標。2.根據權利要求I所述的觸摸面板,其特征在于, 上述存儲部具有算法信息,該算法信息保存有上述坐標計算算法的一覽表、使用上述各坐標計算算法進行計算時的所需時間、所得到的坐標精度, 上述控制部的上述第三單元參照上述算法信息,選擇與上述優先級對應的上述坐標計算算法,求出計算上述全部觸摸點的坐標所需的上述運算時間。3.根據權利要求I所述的觸摸面板,其特征在于, 上述存儲部具有觸摸檢測設定,該觸摸檢測設定保存有與同時進行了多個觸摸的情況下有關的、計算坐標的觸摸點個數的上限即最大觸摸點數,以及在觸摸檢測處理中被允許的坐標計算時間, 上述控制部的上述第一單元在檢測出的觸摸點的總數超過...
【專利技術屬性】
技術研發人員:土井宏治,永田浩司,
申請(專利權)人:株式會社日本顯示器東,
類型:發明
國別省市:
還沒有人留言評論。發表了對其他瀏覽者有用的留言會獲得科技券。