【技術實現步驟摘要】
本專利技術是有關于一種觸控感測方法及觸控傳感器,且特別有關于使用內嵌式觸控傳感器的觸控區加強演算法的觸控感測方法及觸控傳感器。
技術介紹
在觸控面板中,內嵌式觸控傳感器(in-cell touch sensor, ITS)的電極基本上會位于像素區的內部,這是因為受限于復雜的周邊電路以及例如行動電話等顯示裝置有著邊框狹窄化的需求。圖I表示根據已知技術的觸控面板的有效觸控區。觸控面板10包括多個位于像素區11上的像素,以及位于觸控感測區12上的內嵌觸控傳感器。根據上述的理由,觸控感 測區12 —般都會如圖I所示,小于像素區11。在圖I中,觸控面板10的解析度以VGA解析度(640X480)為例。在水平方向,每480個像素排成一列,在鉛直方向每640個像素排成一行。若給予每個像素一座標來表示該像素的位置,位于像素區11左下角的像素的位置可以表示為(XpiX,YpiX) = (l,I),像素區11右上角的像素的位置可以表示為(Xpix,Ypix) = (480,640)。而內嵌式觸控傳感器則在水平方向上排列有14個行電極,在鉛直方向上排列有19個列電極。相同地,若給予每個行電極與列電極的交點一座標來表不其位置,位于觸控感測區12左下角的像素的位置可以表示為(Xits,Yits) = (l,l),觸控感測區12右上角的像素的位置可以表示為(Xits,Yits) = (14,19)。在此,需注意的是在角落的像素即位于像素區11的邊緣,但在角落的行電極與列電極的交點則位于觸控感測區12的內部。因此,內嵌式觸控傳感器包括了一個位于觸控感測區12內部的有效觸控區13。而因為行電極 ...
【技術保護點】
一種觸控檢測方法,包括:掃描一觸控傳感器的列電極或行電極,以獲得該觸控傳感器的觸控資料;根據該觸控資料將多個座標標記為觸控影像;以像素區邊緣為對稱軸,分別將該觸控影像中對應在x方向上鄰接該像素區邊緣的至少一該行電極的觸控資料,以及該觸控影像中對應在y方向上鄰接該像素區邊緣的至少一該列電極的觸控資料,鏡像復制到至少一對應觸控感測區外的位置;加權計算出該觸控影像的中心點位置(xave,yave);以及輸出該觸控影像的中心點位置(xave,yave)。
【技術特征摘要】
2011.06.13 US 13/158,9241.一種觸控檢測方法,包括 掃描一觸控傳感器的列電極或行電極,以獲得該觸控傳感器的觸控資料; 根據該觸控資料將多個座標標記為觸控影像; 以像素區邊緣為對稱軸,分別將該觸控影像中對應在X方向上鄰接該像素區邊緣的至少一該行電極的觸控資料,以及該觸控影像中對應在y方向上鄰接該像素區邊緣的至少一該列電極的觸控資料,鏡像復制到至少一對應觸控感測區外的位置; 加權計算出該觸控影像的中心點位置(X·,yave);以及 輸出該觸控影像的中心點位置(X·,yave)ο2.如權利要求I所述的觸控檢測方法,其特征在于,鄰近該像素區邊緣的至少一該行及列電極包括由該像素區邊緣往內數過去的第2行電極及第2列電極。3.如權利要求I所述的觸控檢測方法,其特征在于,對應該觸控感測區外的位置與該像素區邊緣的距離等于該觸控資料被復制的位置與該像素區邊緣的距離。4.如權利要求I所述的觸控檢測方法,其特征在于,該觸控影像的中心點位置(x_,y·)是根據以下算式計算而得,其中vx,y是在位置U,y)的該觸控資料,以電容值來表示觸控位準,M是該行電極的數目,N是該列電極的數目5.如權利要求4所述的觸控檢測方法,其特征在于,該算式是將該觸控感測區的座標系統的四個角落的資料計算視為特例,其中當 x=y=l W, Xmod=Ymod=O, k=4 ;當 X = Μ, y=l 時,xmod=4M+4, ymod=0, k=4 ;當 X = 1,y=N 時,xmod=0, ymod=4N+4, k=4 ;以及當 X = M, y=N 時,xmod=4M+4, ymod...
【專利技術屬性】
技術研發人員:住尚樹,松井義和,
申請(專利權)人:群康科技深圳有限公司,奇美電子股份有限公司,
類型:發明
國別省市:
還沒有人留言評論。發表了對其他瀏覽者有用的留言會獲得科技券。