一種提高齒圈徑向跳動加工精度的錯位磨齒工藝，先建立單面展成磨齒法中齒圈徑向跳動偏差與左右齒面距累積總偏差的映射關系，確定影響齒圈徑向跳動偏差的關鍵參數，即左右兩次磨齒齒坯對應于分度盤同一位置的錯位齒數i0；然后根據已精加工的齒坯右齒面的齒距累積總偏差曲線中一次正弦波分量的初始相位角確定待加工齒坯的左齒面的錯位齒數i0；最后將齒坯翻轉180°同時逆時針方向轉過i0齒，再進行左齒面的精加工。本發明專利技術在被加工齒輪存在較大的齒距累積總偏差的情況下，通過確定并選擇合適的錯位齒數i0，使左右齒面的齒距累積誤差曲線具有相同的變化趨勢，仍可獲得較小的齒圈徑向跳動偏差。方法簡便，效果明顯，具有重要的工程應用價值。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術屬于齒輪及齒輪刀具精密制造
，涉及一種在單面展成磨齒設備上提高齒圈徑向跳動加工精度的錯位磨齒工藝。
技術介紹
齒圈的徑向跳動偏差^是齒輪非必檢項目中最重要的精度指標之一。齒輪的磨削加工方法根據同時加工的齒面數可分為單面磨齒法和雙面磨齒法。大平面砂輪磨齒機(Y7125、SRS405等)的工作原理屬于單面展成磨齒法，先加工出齒輪的一側同名齒面，然后將齒輪翻轉180°，重新裝夾后加工另一側齒面。錐砂輪磨齒機和蝸桿砂輪磨齒機的工作原理屬于雙面展成磨齒法，一次裝夾即可同時完成某一齒槽左右齒面的加工。采用單面展成磨齒法可以獲得較高的磨齒精度，因此，高精度的標準齒輪和齒輪刀具的加工大多采用此方法。由齒輪國家標準GB/T 10095. 2-2008和齒輪國際標準IS01328-1:1997中關于齒圈 徑向跳動偏差&的推薦公式(匕=O. 8 Fp)可知，同等級的齒圈徑跳偏差Fr比齒輪齒距累積總偏差Fp的允許值要小20%。采用雙面展成磨齒法加工的齒輪現齒圈的徑跳偏差^ 一般小于齒距累積總偏差Fp。然而，采用單面展成磨齒法經常會出現齒圈的徑跳偏差Fr大于齒距累積總偏差Fp的情況，致使齒輪的齒距累積總偏差Fp達到加工要求，而齒圈徑向跳動Fr卻超差，從而降低了齒輪的加工精度等級。在單面展成磨齒設備上提高齒圈徑向跳動加工精度的磨齒工藝方面，未見有相關文獻報道。
技術實現思路
為提高單面展成磨齒中被磨齒輪或齒輪刀具的齒圈徑跳加工精度，本專利技術提供了一種錯位磨齒工藝。本專利技術的技術方案如下齒圈的徑向跳動偏差與齒輪的齒距累積總偏差有密切的關系。兩者都是在齒高中截面分度圓附近測量。對于標準齒輪來說，可根據齒輪左右齒面的齒距累積總偏差公式計 _ /·,"(/)-/·；' (/ + I)算出某個齒槽的齒圈徑向跳動公式，即:~…。90。、，式中，FpK(i)表示右齒面 2tan(20°+ )i齒的齒距累積總偏差齒；FpL(i+l)表不左齒面i+Ι齒的齒距累積總偏差；z表不齒數。齒圈的徑向跳動F1 可表不為=F1=F1Xi)Uiax-F1^ (i)min。可見，齒圈徑向跳動偏差是由齒輪左右齒面的齒距累積總偏差共同決定的。當齒輪左右齒面的齒距累積總偏差具有相同的趨勢時，可以得到較小的齒圈徑向跳動偏差；當齒輪左右齒面的齒距累積總偏差具有相反的趨勢時，得到的齒圈徑向跳動較大。因此，要提高齒圈徑向跳動的加工精度，不僅要提高左右齒面各自的齒距累積加工精度，更重要的是選擇合適的錯位齒數，使兩次加工后左右齒面的齒距累積總偏差具有相同的變化趨勢。單面展成磨齒機的分度系統多為分度盤式分度系統。被磨齒輪或齒輪刀具的齒距累積總偏差主要來自分度盤的安裝偏心誤差％ (運動偏心)和齒坯的安裝偏心誤差er (幾何偏心)。這兩類偏心誤差對齒距累積總偏差的影響均成一次諧波變化趨勢。根據同頻率的諧波曲線疊加頻率不變的原則可知，由運動偏心和幾何偏心引起的齒距累積總偏差可表示為—%)，式中，E表示疊加后正弦波的幅值，_表示疊加后正弦波的初始相位角。磨右齒面時,分度盤的齒槽跟齒還的齒序方向相同，分度盤與齒還的位置關系如圖I所示。在對應于磨I齒右齒面的分度盤齒槽上打好標記Λ。將上式寫成齒序的函數為權利要求1.一種提高齒圈徑向跳動加工精度的錯位磨齒工藝，其特征包括以下步驟， (1)建立單面展成磨齒法中齒圈徑向跳動偏差與左右齒面距累積總偏差的映射關系，確定影響齒圈徑向跳動 偏差的關鍵參數，即左右兩次磨齒齒坯對應于分度盤同一位置的錯位齒數id ； (2)根據已精加工的齒坯右齒面的齒距累積總偏差曲線中一次正弦波分量的初始相位角確定待加工齒還的左齒面的錯位齒數io ； (3)將齒坯翻轉180°的同時，逆時針方向轉過L齒，再進行左齒面的精加工。全文摘要一種提高齒圈徑向跳動加工精度的錯位磨齒工藝，先建立單面展成磨齒法中齒圈徑向跳動偏差與左右齒面距累積總偏差的映射關系，確定影響齒圈徑向跳動偏差的關鍵參數，即左右兩次磨齒齒坯對應于分度盤同一位置的錯位齒數i0；然后根據已精加工的齒坯右齒面的齒距累積總偏差曲線中一次正弦波分量的初始相位角確定待加工齒坯的左齒面的錯位齒數i0；最后將齒坯翻轉180°同時逆時針方向轉過i0齒，再進行左齒面的精加工。本專利技術在被加工齒輪存在較大的齒距累積總偏差的情況下，通過確定并選擇合適的錯位齒數i0，使左右齒面的齒距累積誤差曲線具有相同的變化趨勢，仍可獲得較小的齒圈徑向跳動偏差。方法簡便，效果明顯，具有重要的工程應用價值。文檔編號B23F5/02GK102896378SQ20121042222公開日2013年1月30日 申請日期2012年10月29日 優先權日2012年10月29日專利技術者凌四營, 王立鼎, 婁志峰, 馬勇, 王曉東 申請人:大連理工大學本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種提高齒圈徑向跳動加工精度的錯位磨齒工藝，其特征包括以下步驟，(1)建立單面展成磨齒法中齒圈徑向跳動偏差與左右齒面距累積總偏差的映射關系，確定影響齒圈徑向跳動偏差的關鍵參數，即左右兩次磨齒齒坯對應于分度盤同一位置的錯位齒數i0；(2)根據已精加工的齒坯右齒面的齒距累積總偏差曲線中一次正弦波分量的初始相位角確定待加工齒坯的左齒面的錯位齒數i0；(3)將齒坯翻轉180°的同時，逆時針方向轉過i0齒，再進行左齒面的精加工。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員：凌四營，王立鼎，婁志峰，馬勇，王曉東，
申請(專利權)人：大連理工大學，
類型：發明
國別省市：
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