用于檢測封閉的孔的表面分析和用于再打開的方法技術(shù)

通過對具有孔的、未覆層和覆層的構(gòu)件進行激光三角測量能夠在覆層之后檢測孔的精確位置以便再打開。

【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
【國外來華專利技術(shù)】

【技術(shù)保護點】

【技術(shù)特征摘要】
【國外來華專利技術(shù)】...

【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：喬治·博斯坦約格洛，托爾斯滕·梅爾策約基施，安德烈亞斯·奧佩特，迪米特里奧斯·托邁迪斯，
申請(專利權(quán))人：西門子公司，
類型：
國別省市：