本發明專利技術公開了一種基于計算機總線接口卡的內存條測試方法,它包括一套用于測試內存條數據儲存單元的內存條測試程序的編寫方法,和一塊用于顯示內存條信息和內存條測試結果的計算機總線接口卡的設計方法:上述內存條測試程序包括(a)初始化計算機總線接口卡,(b)獲取內存條信息,(c)讀取內存條測試模式設置,(d)對內存條數據儲存單元進行讀寫測試,(e)顯示內存條測試結果;上述計算機總線接口卡包括(a)金手指接口,(b)總線譯碼和邏輯控制單元,(c)中央處理器單元,(d)開關輸入單元,(e)顯示單元。計算機總線接口卡作為內存條測試程序的輸入輸出設備,配合內存條測試程序一起工作。
【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及計算機軟件和硬件,其中軟件是指內存條測試程序的編寫方法,硬件是指一塊用于顯示內存條信息和內存條測試結果的計算機總線接口卡的設計方法。
技術介紹
內存條是用于儲存數據的一個重要計算機部件。由于計算機的廣泛普及,越來越多的技術人員開始從事內存條測試和維修工作。當前,用于內存條測試和維修的 工具主要分為兩種專用內存條測試設備和純軟件的內存條測試程序。專用內存條測試設備多從國外進口,價格昂貴,難以被廣泛推廣和普及。純軟件的內存條測試程序使用計算機系統的顯示器作為顯示設備,但由于顯示器的顯示依賴于計算機系統中的內存條。當內存條出現故障的時候,計算機系統的顯示設備將會無法正常工作,從而導致純軟件的內存條測試程序無法起到作用。所以,通常純軟件的內存條測試程序僅被用于內存條的老化測試。
技術實現思路
本專利技術提出的基于計算機總線接口卡的內存條測試方法,使用計算機總線接口卡和價格低廉的計算機主板替代了價格昂貴的專用內存條測試設備;通過在計算機主板BIOS中嵌入內存條測試程序,并使用計算機總線接口卡來顯示內存條信息和內存條測試結果,解決了上述純軟件的內存條測試程序的缺陷。該專利技術的提出使得技術人員能夠以低成本的方式實現內存條的測試和維修。本專利技術的技術方案是,它包括一套用于測試內存條數據儲存單元的內存條測試程序的編寫方法,和一塊用于顯示內存條信息和內存條測試結果的計算機總線接口卡的設計方法上述內存條測試程序包括(a)初始化計算機總線接口卡,(b)獲取內存條信息,(C)讀取內存條測試模式設置,(d)對內存條數據儲存單元進行讀寫測試,(e)顯示內存條測試結果;上述計算機總線接口卡包括(a)金手指接口,(b)總線譯碼和邏輯控制單元,(C)中央處理器單元,⑷開關輸入單元,(e)顯示單元。計算機總線接口卡作為內存條測試程序的輸入輸出設備,配合內存條測試程序一起工作。上述結構中,所述內存條測試程序是一種可以運行于計算機主板的計算機程序,它首先初始化計算機總線接口卡,通過計算機主板讀取內存條信息,然后根據計算機總線接口卡的開關單元選擇用戶設定的內存條測試模式對內存條進行測試,并把內存條測試結果通過計算機總線接口卡在顯示單元上顯示出來。上述結構中,所述金手指接口為計算機的PCI或PCIE或MiniPCI或MiniPCIe接Π ;上述結構中,所述總線譯碼和邏輯控制單元可采用專用的計算機總線接口芯片或CPLD或FPGA芯片,它同時連接金手指接口和中央處理器單元;上述結構中,所述中央處理器單元采用微處理器(MCU)或ARM芯片,它從開關輸入單元獲取內存條測試模式,從總線譯碼和邏輯控制單元獲取內存條信息和內存條測試結果,并把這些內存條信息和測試結果輸出到顯示單元;上述結構中,所述顯示單元采用液晶屏作為顯示設備,它和中央處理器單元相連接,用于顯示內存條信息和內存條測試結果;上述結構中,所述開關輸入單元和中央處理器單元相連接,用于設置耗時較短的內存條快速測試模式或者耗時較長的內存條全面測試模式。附圖說明圖I是內存條測試程序編寫流程2是進行內存條地址線掃描時指定的各個內存條讀寫地址圖3是計算機總線接口卡顯示單元所顯示的內容 圖4是計算機總線接口卡電路原理框圖具體實施方式本專利技術所述的內存條測試程序是一種被整合到計算機主板BIOS中的測試程序,它結合上述計算機總線接口卡一起工作。計算機上電后,上述內存條測試程序立即開始運行,它首先初始化計算機總線接口卡,通過計算機主板讀取內存條信息,然后根據計算機總線接口卡的開關單元選擇用戶設定的內存條測試模式對內存條進行測試,并把內存條信息和內存條測試結果通過計算機總線接口卡在顯示單元上顯示出來。內存條測試程序編寫流程圖如圖I所示,它包括五個主要步驟,下面結合附圖對本專利技術的內存條測試程序的具體實施方式進行詳細闡述。內存條測試程序開始運行的時候,它首先對計算機總線接口卡進行初始化(步驟100)。初始化的程序包括檢查硬件是否存在,測試程序和硬件之間的通訊是否成功。初始化完成后,總線接口卡將會通過它的顯示單元顯示出計算機總線接口卡準備好的信息。在開始內存條測試前,程序要首先獲取內存條信息(步驟200)。內存條信息儲存于內存條上的EEPROM芯片內,該EEPROM芯片是通過SMB總線連接到計算機主板的。程序透過計算機主板所提供的SMB總線接口讀取內存條EEPROM芯片上的數據,從而獲得內存條信息,并把這些內存條信息通過計算機總線接口卡上的顯示單元顯示出來。這些內存條信息包括內存條類型,內存條容量,內存條頻率等等。同時,程序也根據這些內存條信息對計算機主板芯片內部的內存條讀寫控制邏輯單元進行配置,從而在計算機主板和內存條之間建立起正確的數據讀寫通道。完成上述步驟后,程序開始讀取計算機總線接口卡的開關輸入單元的設置(步驟300),并根據該設置選擇內存條快速測試模式還是全面測試模式(步驟310)。由于內存條的容量一般較大,從而需要較長的時間完成對內存條數據儲存單元的全面讀寫測試。程序提供了一個快速測試模式,用于縮減內存條測試時間。快速測試模式對內存條數據儲存單元采用跳躍的方式進行讀寫測試,而全面測試模式則對每個內存條數據儲存單元均進行讀寫測試。從上面的描述可知,快速測試模式的優點是測試速度快,缺點是只測試部分內存條數據儲存單元;全面測試模式的缺點是測試速度慢,優點是每一個內存條數據儲存單元均被測試。計算機總線接口卡的開關單元提供了一個開關按鈕,用戶可以通過該開關按鈕選擇進行內存條快速測試,還是內存條慢速測試。通過提供快速測試模式和全面測試模式供用戶進行選擇,用戶可以根據實際的情況選擇最適合的測試方式,從而提高工作效率。內存條測試部分包含四個步驟內存條地址線開路掃描(步驟410),內存條地址線短路掃描(步驟420),內存條全面測試(步驟431),內存條快速測試(步驟432)。無論是進行內存條全面測試還是快速測試,地址線開路掃描(步驟410)和地址線短路掃描(步驟420)均被運行。下面詳細闡述各種測試的實現方法。對于地址線開路掃描(步驟410),程序所采用的方法是首先把全部地址線清0,然后依次把每根地址線單獨置I (如圖2所示),然后從當前地址開始,連續對8個以字節為單位的地址單元進行多次讀寫測試。如果該8個地址單元讀寫測試均失敗,則表明該內存條地址線存在開路的情況;如果該8個地址單元讀寫測試中有任何一個讀寫測試成功,則表明該內存條地址線不存在開路的情況。完成測試后,程序把測試結果發送到計算機總線接口卡,然后計算機總線接口卡把測試結果在顯示單元上顯示出來。從上面的描述中可以看出,地址線開路掃描是通過對特定內存條地址的內存條數據儲存單元進行數據讀寫和數 據比較來完成的。對于內存條地址線短路掃描(步驟420),程序所采用的方法是首先把全部地址線清0,并在該O地址寫入一個數。然后依次把每根地址線單獨置I (如圖2所示),并對該地址多次寫入一個與地址O不同的數據。通過檢查O地址的數據是否被其他數據覆蓋,即可判斷出該內存條地址線是否存在短路的情況。完成測試后,程序把測試結果發送到計算機總線接口卡,然后計算機總線接口卡把測試結果在顯示單元上顯示出來。從上面的描述中可以看出,地址線短路掃描也是通過對特定內存條地址的內存條數據儲存單元本文檔來自技高網...
【技術保護點】
一種基于計算機總線接口卡的內存條測試方法,主要包括一套用于測試內存條數據儲存單元的內存條測試程序的編寫方法,和一塊用于顯示內存條信息和內存條測試結果的計算機總線接口卡的設計方法:上述內存條測試程序包括(a)初始化計算機總線接口卡,(b)獲取內存條信息,(c)讀取內存條測試模式設置,(d)對內存條數據儲存單元進行讀寫測試,(e)顯示內存條測試結果;上述計算機總線接口卡包括(a)金手指接口,(b)總線譯碼和邏輯控制單元,(c)中央處理器單元,(d)開關輸入單元,(e)顯示單元。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員:謝強,
申請(專利權)人:謝強,
類型:發明
國別省市:
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