【技術實現步驟摘要】
本專利技術涉及一種適用于大尺寸精密測量中測量儀器激光雷達與被測物之間的機械漂移檢測及修正技術,屬于大尺寸測量
技術介紹
激光雷達對大尺寸被測物進行精密檢測時測量儀器與被測物之間沒有固定連接,當測量任務較大、需要的測量時間較長時,由于時間的累積、測量環境的變化等原因,都會引起測量儀器與被測物之間發生相對移動,使測量數據產生機械漂移,其漂移大小有可能會導致測量結果失效,無法達到測量目的。
技術實現思路
本專利技術目的在于提出一種適用于大尺寸精密測量中測量儀器激光雷達與被測物之間的機械漂移檢測及修正技術,其特征在于能夠監測被測物體相對雷達的微移量,通過設置轉站誤差閾值,自動判斷微移量是否符合轉站條件給予機械漂移修正,驗證了測量數據的有效性,有效提高測量數據的準確性和可靠性。如圖I所示,測量儀器激光雷達在開始測量任務時需對工具球進行測量,記錄其測量數據,在進行測量一段時間后需對同一工具球進行再次測量,得到其測量數據,將兩次數據進行比較,查看兩次測量之間是否存在測量數據偏移,其偏移量對于測量任務精度要求是否可以接受。設激光雷達第一次測量工具球得到球心空間位置坐標為OJX1, Y1, Z1),激光雷達工作一段時間后第二次測量此工具球得到其球心空間位置坐標為O2(X2,Y2, Z2)。兩次測量數據之差Λ為dX = X2-X1 ;dY = Y2-Y1 ;dZ = Z2-Z1 ;dMag = -J(X2-X1) +{ 2-Υ^) +(Z2-Z1) 設測量儀器穩定性精度為δ instMent若Λ= I O2 (X2, Y2, Z2) -O1 (X1, Y1, Z1) ...
【技術保護點】
一種適用于大尺寸精密測量中測量儀器激光雷達與被測物之間的機械漂移檢測及修正技術,其特征在于能夠監測被測物體相對雷達的微移量,通過設置轉站誤差閾值,自動判斷微移量是否符合轉站條件給予機械漂移修正,驗證了測量數據的有效性,有效提高測量數據的準確性和可靠性。
【技術特征摘要】
【專利技術屬性】
技術研發人員:林雪竹,周娜,李麗娟,王勁松,高瑀含,安志勇,
申請(專利權)人:長春理工大學,
類型:發明
國別省市:
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