感應加熱烹調器制造技術

本發明專利技術的目的在于提供一種能夠大幅降低加熱時產生的加熱容器的沸溢的誤檢測，并且可靠性高的感應加熱烹調器。感應加熱烹調器具有沸溢檢測部，該沸溢檢測部在靜電電容檢測部檢測到的靜電電容相對于基準值的變化量比輸出降低閾值大的情況下，將逆變器的加熱輸出降低至預先設定的值，其中，在檢測到的靜電電容相對于基準值的變化量變為大于輸出降低閾值之后的沸溢判定期間內，當檢測到的靜電電容的變化率為預定變化率以上時，停止加熱動作，或者將加熱輸出降低至比第2設定值低的第3設定值，當檢測到的靜電電容的變化率低于預定變化率時，將加熱輸出維持在第2設定值。

【技術實現步驟摘要】
【國外來華專利技術】
本專利技術涉及感應加熱烹調器，特別涉及具有在加熱烹調時檢測來自鍋等加熱容器的沸溢的沸溢檢測功能的感應加熱烹調器。
技術介紹
在以往的感應加熱烹調器中，例如像日本特開2008-159494號公報(專利文獻I)中記載的那樣，在加熱線圈的外周設置多個電極，根據這些電極的靜電電容的變化來進行沸溢檢測。圖5是示出專利文獻I中記載的以往的感應加熱烹調器的結構的圖。圖6是示出專利文獻I中記載的用于進行沸溢檢測的電極的靜電電容變化的圖。·如圖5所示，以往的感應加熱烹調器具有驅動電路102，該驅動電路102從交流電源101輸入低頻電力并向加熱線圈104供給高頻電力，以對加熱容器(未圖示)進行感應加熱。此外，小圓盤狀的多個電極103同心圓狀地分散配置在加熱線圈104的外周。分散配置的各電極103與靜電電容測定電路106連接。通過靜電電容測定電路106來檢測各電極103與靜電電容測定電路106之間的靜電電容。以下將該靜電電容簡稱為“各電極103的靜電電容”。各電極103的靜電電容取決于各電極103的周圍的電介質(例如，頂板等)和導電體(例如，金屬制的加熱容器、加熱線圈104等)的配置。在這樣構成的以往的感應加熱烹調器中，當從隔著頂板(topplate)載置在加熱線圈104上方的鍋等加熱容器的周緣部分沸溢出液體時，在某個電極103的上方或附近存在沸溢的液體。當存在這樣的沸溢的液體時，某個電極103的靜電電容增加。通過檢測這樣的靜電電容的增加，來檢測沸溢。在某個電極103的上方或附近發生了沸溢時，電極103與加熱容器或加熱線圈104之間夾雜有水分，加熱線圈104和電極103的靜電電容急劇增加。因此，如上所述，通過檢測電極103的靜電電容，能夠檢測到沸溢。在以往的感應加熱烹調器中，當檢測到電極103的靜電電容急劇增加時(參照圖6)，控制電路105判斷為沸溢，停止驅動電路102的動作，或降低流過加熱線圈104的高頻電流。現有技術文獻專利文獻專利文獻I :日本特開2008-159494號公報
技術實現思路
專利技術要解決的問題如上所述，使用分散配置于加熱線圈104的外周的電極103，通過檢測其靜電電容，能夠檢測到沸溢，但是，問題在于電極103的靜電電容變化不僅僅是因為沸溢才產生的現象。例如，當使用者將潮濕的抹布等含有水分的物品載置到電極103附近的頂板上時，電極103所檢測的靜電電容也會大幅變化。此外，在使用者將加熱容器的位置挪動的情況下，電極103所檢測的靜電電容也會發生變化。即使在這樣的并非沸溢的情況下，以往的感應加熱烹調器也會判斷為沸溢，從而停止驅動電路102的動作，或降低加熱線圈104的電流，對使用者來說這種烹調器的使用性不好。在感應加熱烹調器中，構成為設置了表面光滑沒有凹凸的頂板作為烹調面，能夠容易地擦拭因沸溢等產生的污垢。但是，當發生沸溢而置之不理時，在發生了大量沸溢的情況下，存在頂板上表面或感應加熱烹調器周圍被短時間嚴重弄臟這樣的問題。此外，即便在沸溢少的情況下，如果長時間持續沸溢，也同樣存在被嚴重弄臟這樣的問題。因此，在發生了沸溢的情況下，馬上通知使用者，或者停止或降低加熱動作是非常重要的。然而，在并非沸溢的情況下檢測為沸溢并停止或降低加熱動作會違背使用者的意愿而中斷烹調，在這種誤檢測的頻度較高的情況下，使用性不好，成為比較嚴重的問題。本專利技術的目的在于提供一種使用性好的感應加熱烹調器，該感應加熱烹調器能夠降低加熱時產生的加熱容器的沸溢的誤檢測，并且能夠高精度地檢測沸溢的發生。用于解決問題的手段 在以下說明的本專利技術的感應加熱烹調器中，括號內的標號、數值等是對后述實施方式中的要素標注的參照標號以及具體的值的例示，它們只是示出一例，不對本專利技術進行限定。本專利技術的第I方面的感應加熱烹調器具有載置加熱容器(I)的頂板(2);加熱線圈(3)，其設置在所述頂板的下方，對所述加熱容器(I)進行感應加熱；逆變器(4)，其向所述加熱線圈提供高頻電流；電極(9)，其在所述加熱線圈的周圍附近，設置于所述頂板的背面；靜電電容檢測部(10)，其向所述電極提供高頻信號，檢測所述電極的靜電電容；存儲部(12)，其能夠將檢測到的靜電電容作為基準值進行存儲；控制部(8)，其進行控制，使得所述逆變器的加熱輸出成為所設定的第I設定值(例如，3kW以下)；以及沸溢檢測部(11)，當所述電極的靜電電容滿足預定條件時，該沸溢檢測部(11)執行把該靜電電容作為基準值存儲到所述存儲部中的基準值更新處理，在所述電極的靜電電容相對于所述基準值的變化量達到輸出降低閾值(例如，14digit)以上后，該沸溢檢測部(11)進行將所述逆變器的加熱輸出降低至預先設定的第2設定值(例如，O. 3kff)或者停止加熱動作的輸出抑制動作，所述沸溢檢測部(11)構成為在包含所述電極的靜電電容相對于所述基準值的變化量達到輸出降低閾值(例如，14digit)以上的時刻在內的變化率檢測期間(例如，I. 5秒)中，當檢測到的靜電電容的變化率為預定變化率(例如，145digit/秒)以上時，停止加熱動作，或者將所述加熱輸出降低至比所述第2設定值低的第3設定值(例如，O. Ikff),當檢測到的靜電電容的變化率低于所述預定變化率時，將加熱輸出維持在所述第I設定值。這樣構成的第I方面的感應加熱烹調器能夠大幅降低加熱時產生的加熱容器的沸溢的誤檢測。本專利技術的第2方面的感應加熱烹調器是在上述第I方面中，所述沸溢檢測部可以構成為在第I預定時間(檢測期間；例如I秒)內對所述電極的靜電電容進行多次檢測，使用檢測到的多個靜電電容的平均值相對于基準值的變化量來計算變化率。本專利技術的第3方面的感應加熱烹調器是在上述第I方面中，所述沸溢檢測部(11)可以構成為在第I預定時間(檢測期間；例如I秒)內檢測到的靜電電容相對于基準值的變化量低于比所述輸出降低閾值小的基準值更新停止閾值(例如，3digit)的情況下，將在該第I預定時間內檢測到的靜電電容作為基準值進行更新并存儲到所述存儲部中，在所述第I預定時間(例如，I秒)內檢測到的靜電電容相對于基準值的變化量為所述基準值更新停止閾值以上的情況下，停止對所述存儲部進行基準值的更新。本專利技術的第4方面的感應加熱烹調器是在上述第I方面中，所述沸溢檢測部可以構成為在第I預定時間(檢測期間；例如I秒)內對所述電極的靜電電容進行多次檢測，在檢測到的多個靜電電容的平均值相對于基準值的變化量低于所述基準值更新停止閾值(例如，3digit)的情況下，把在該第I預定時間(例如，I秒)內檢測到的多個靜電電容的平均值存儲到所述存儲部中，以更新為新的基準值。本專利技術的第5方面的感應加熱烹調器是在上述第I方面中，所述沸溢檢測部可以構成為在第I預定時間(檢測期間；例如I秒)內對所述電極的靜電電容進行多次檢測，在檢測到的多個靜電電容的平均值相對于基準值的變化量為所述基準值更新停止閾值(例如，3digit)以上的情況下，停止對所述存儲部進行基準值的更新。 本專利技術的第6方面的感應加熱烹調器是在上述第I至第5方面中，所述沸溢檢測部可以構成為在從所述電極的靜電電容相對于所述基準值的變化量達到輸出降低閾值(例如，14digit)以上的時刻起，經過了預定的延遲時間后，進行所述輸出抑制動作，并且，在所述延遲時間內判斷為不是沸溢時本文檔來自技高網...

【技術保護點】

【技術特征摘要】
【國外來華專利技術】...

【專利技術屬性】
技術研發人員：小笠原史太佳，武平高志，木下雅志，山本祐史，
申請(專利權)人：松下電器產業株式會社，
類型：
國別省市：