一種深孔內臺階孔和底部凸起物的內外尺寸測量裝置制造方法及圖紙

一種深孔內臺階孔和底部凸起物的內外尺寸測量裝置，涉及物體內外尺寸的測量技術領域，特別涉及深孔內臺階孔及深孔內底部凸起物的內外尺寸的測量技術領域；通過將原有的帶表卡尺的測量端改進為帶有校準調整功能的圓柱形測量柱，滿足了深孔內臺階孔和底部凸起物的內外尺寸測量的需求，校準調整功能的設置，減小了測量誤差的產生，保證了深孔內臺階孔的內尺寸和深孔內底部凸起物的外尺寸測量精度。（*該技術在2022年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

本專利技術涉及物體內外尺寸的測量
，特別涉及深孔內臺階孔及底部凸起物的內外尺寸的測量

技術介紹
通常零部件的內外尺寸測量是由圖I所示的帶表卡尺來完成的。該帶表卡尺是由帶有矩形測量端3的L形通用卡尺固定尺1，與套接于固定尺I上、并可沿固定尺I左右移動的具有顯示精確位移量的移動表尺2所構成，移動表尺2的下部設置矩形測量端3。測量前，首先移動表尺2使兩個測量端3的內測面完全吻合，此時調整顯示裝置上的讀數使其歸零；當需測量零部件的內尺寸時，將兩個測量端3伸入待測零部件內，移動表尺2使兩個測量端3的外測面均與待測零部件內壁接觸，則此時所顯示的位移量加上兩個測量端3的寬度即為待測零部件的內尺寸；當需測量零部件的外尺寸時，先調整兩個測量端3內側面的·距離，使其大于待測零部件的外尺寸后，將待測零部件置于兩個測量端3內側面之間，移動表尺2使兩個測量端3的內側面均與待測零部件接觸，則此時所顯示的位移量即為待測零部件的外尺寸。因通常測量端3距離尺I的標尺距離較短，無法滿足深孔內臺階孔和底部凸起物的內外尺寸測量。
技術實現思路
本專利技術的目的是為了滿足深孔內臺階孔和底部凸起物的內外尺寸測量，特提出一種深孔內臺階孔和底部凸起物的內外尺寸測量裝置。本專利技術的技術方案是一種深孔內臺階孔和底部凸起物的內外尺寸測量裝置，如圖2和圖3所示，其是在圖I所示的帶表卡尺的基礎上，將測量端3與標尺及移動表尺2的連接部分分別調整為相同的帶調節錐孔4的兩個矩形連接部5以及前后套接于矩形連接部5的対稱的兩個帶圓柱形測量柱11的測量部6 ;矩形連接部5的前后兩個面上、左右中心線上各上下開有兩個錐孔4;測量部6為矩形六面體，側面由左至右開有至上表面的矩形凹槽，該矩形凹槽恰好可將矩形連接部5置于其中并在前后以及下部留有間隙，在測量部6的前后兩矩形面上、左右中心線上與矩形連接部5上的兩個錐孔4的間距相同地上下開有兩個內螺紋孔，每個內螺紋孔中設置與其相匹配的端部為錐形的調節螺栓7，將測量部6套入矩形連接部5上，使前后四個調節螺栓7的錐形頭部插入矩形連接部5上的對應錐孔4中；兩個測量部6的底部前后中線兩側、ー個在左端、ー個在右端設置ー個帶有中心孔的雙耳片8，雙耳片8通過調節緊固螺栓9和與其相配的緊固螺母10將圓柱形測量柱11端部一側連接的帶有中心孔的單耳片夾緊地連為一體。本專利技術具有以下優點本專利技術的測量裝置的應用，滿足了深孔內臺階孔和深孔內底部凸起物的內外尺寸測量需求，校準調整功能的設置，減小了測量誤差的產生，保證了深孔內臺階孔的內尺寸和深孔內底部凸起物外尺寸的測量精度。附圖說明圖I是通常的帶表卡尺主視圖；圖2是本專利技術的測量裝置主視圖；圖3是本專利技術的測量裝置左視圖；圖4是利用本專利技術測量裝置進行深孔內臺階孔內尺寸的測量圖；圖5是利用本專利技術測量裝置進行深孔內底部凸出物外尺寸的測量圖。具體實施方式以下結合附圖與具體實施方式對本專利技術作進ー步詳細描述在利用本專利技術測量裝置進行測量前，首先移動表尺2，使得兩個圓柱形測量柱11之間能夠放入寬座角尺為止；再將寬座角尺的短邊緊貼固定尺1，寬座角尺的長邊朝向固定不動的圓柱形測量柱11，并使寬座角尺與固定尺I共面；其次，通過調整固定不動的測量部6上前后四個調節螺栓7使得圓柱形測量柱11的軸線與寬座角尺長邊的中心線共面，再通過調節緊固螺栓9調整圓柱形測量柱11的軸線與寬座角尺長邊平行；然后，抽出寬座角尺，移動表尺2帶動可移動的圓柱形測量柱11靠近調整好的固定的圓柱形測量柱11，通過可移動的測量部6上前后四個調節螺栓7使得可移動圓柱形測量柱11的軸線與調整好的固定的圓柱形測量柱11的軸線共面，再通過調節可移動的測量部6上的緊固螺栓9調整圓柱形測量柱11的軸線與固定的圓柱形測量柱11的軸線平行，且使兩個圓柱形測量柱11內測面完全吻合，此時調整顯示裝置上的讀數使其歸零，至此完成本專利技術測量裝置測量前的校準準備工作。當需測量深孔內臺階孔的內尺寸時，如圖4所示，將兩個圓柱形測量柱11伸入待測深孔內，移動表尺2使兩個測量柱11的外測面均與待測深孔內壁接觸，則此時所顯示的位移量加上兩個測量柱11的直徑即為待測深孔的內尺寸；當需測量深孔內底部凸出物外尺寸時，如圖5所示，先調整兩個測量柱11內側面的距離，使其大于待測深孔內底部凸出物的外尺寸后，將待測深孔內底部凸出物置于兩個測量柱11內側面之間，移動表尺2使兩個測量柱11的內測面均與待測深孔內底部凸出物接觸，則此時所顯示的位移量即為待測深孔內底部凸出物的外尺寸。權利要求1.一種深孔內臺階孔和底部凸起物的內外尺寸測量裝置，其由固定尺(1)，與套接于固定尺(I)上、并可沿固定尺(I)左右移動的具有顯示精確位移量的移動表尺(2)所構成，其特征在于固定尺(I)和移動表尺(2)的下部分別設置了帶有調節錐孔(4)的兩個矩形連接部(5)以及前后套接于矩形連接部(5)的対稱的兩個帶圓柱形測量柱(11)的測量部(6)。2.根據權利要求I所述的深孔內臺階孔和底部凸起物的內外尺寸測量裝置，其特征在于矩形連接部(5)的前后兩個面上、左右中心線上各上下開有兩個錐孔(4)。3.根據權利要求I所述的深孔內臺階孔和底部凸起物的內外尺寸測量裝置，其特征在干測量部(6)為矩形六面體，側面由左至右開有至上表面的矩形凹槽，該矩形凹槽恰好可將矩形連接部(5)置于其中并在前后以及下部留有間隙，在測量部(6)的前后兩矩形面上、左右中心線上與矩形連接部(5)上的兩個錐孔(4)的間距相同地上下開有兩個內螺紋孔，每個內螺紋孔中設置與其相匹配的端部為錐形的調節螺栓(7)，將測量部(6)套入矩形連接部(5)上，使前后四個調節螺栓(7)的錐形頭部插入矩形連接部(5)上的對應錐孔(4)中；兩個測量部出)的底部前后中線兩側、ー個在左端、ー個在右端設置ー個帶有中心孔的雙耳片(8)，雙耳片(8)通過調節緊固螺栓(9)和與其相配的緊固螺母(10)將圓柱形測量柱(11)端部一側連接的帶有中心孔的單耳片夾緊地連為一體。專利摘要一種深孔內臺階孔和底部凸起物的內外尺寸測量裝置，涉及物體內外尺寸的測量
，特別涉及深孔內臺階孔及深孔內底部凸起物的內外尺寸的測量
；通過將原有的帶表卡尺的測量端改進為帶有校準調整功能的圓柱形測量柱，滿足了深孔內臺階孔和底部凸起物的內外尺寸測量的需求，校準調整功能的設置，減小了測量誤差的產生，保證了深孔內臺階孔的內尺寸和深孔內底部凸起物的外尺寸測量精度。文檔編號G01B5/02GK202630863SQ20122028676公開日2012年12月26日 申請日期2012年6月18日 優先權日2012年6月18日專利技術者范學江, 晏效鋒, 鄧秀峰, 韓敏, 趙曉琴 申請人:中國航空工業第六一八研究所本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種深孔內臺階孔和底部凸起物的內外尺寸測量裝置，其由固定尺(1)，與套接于固定尺(1)上、并可沿固定尺(1)左右移動的具有顯示精確位移量的移動表尺(2)所構成，其特征在于：固定尺(1)和移動表尺(2)的下部分別設置了帶有調節錐孔(4)的兩個矩形連接部(5)以及前后套接于矩形連接部(5)的對稱的兩個帶圓柱形測量柱(11)的測量部(6)。

【技術特征摘要】

【專利技術屬性】
技術研發人員：范學江，晏效鋒，鄧秀峰，韓敏，趙曉琴，
申請(專利權)人：中國航空工業第六一八研究所，
類型：實用新型
國別省市：