一種等離子顯示器PDP的障壁掃描裝置制造方法及圖紙

本實用新型專利技術公開了一種等離子顯示器PDP障壁掃描裝置，包括：掃描區域；并列設置在掃描區域頂部上方向下發射光的兩排光源，一排第一垂直光單元，另一排第二垂直光單元，及位于第二垂直光單元兩側的傾斜光單元，第一垂直光單元與第二垂直光單元相鄰；設置在第一垂直光單元上的第一CCD單元；設置在第二垂直光單元上的第二CCD單元；掃描區域上設置障壁。傾斜光單元由左傾斜光單元和右傾斜光單元組成。上述二者之間的夾角為60度或90度或120度。本實用新型專利技術提供的等離子顯示器PDP障壁掃描裝置能掃描到障壁在多角度光源下的投影，從而能全面的獲取障壁的外觀形貌缺陷。（*該技術在2021年保護過期，可自由使用*）

【技術實現步驟摘要】

本技術屬于等離子顯示器
，尤其涉及一種等離子顯示器rop的障壁掃描裝置。
技術介紹
PDP (Plasma Display Panel,等離子顯不器)是繼 CRT (Cathode Ray Tube,陰極射線管)、LCD (Liquid Crystal Display,液晶顯示器)后的最新一代顯示器。障壁是F1DP的重要部件，障壁的外觀形貌規整才能保障PDP放電良好。障壁的外觀形貌存在缺陷，則導致PDP放電障礙，從而TOP的成品率降低。因此，需要對障壁進行掃描取像，篩選出有缺陷的障壁，進行處理。目前常用的方法是采用單排垂直掃描裝置對障壁進行掃描取像。請參閱附圖1，垂直掃描裝置由垂直光源01、掃描區域02、(XD03組成。垂直光源01設置在掃描區域02正上方，(XD03設置在垂直光源02上，掃描區域02上放置被測障壁04。垂直光源01發出垂直光照射在障壁04上，(XD03掃描障壁04在垂直光源01下的投影。根據(XD03掃描到的投影判斷障壁04的外觀形貌是否存在缺陷。由于，現有技術中CCD03單排掃描取像和垂直光源01方向的局限性，造成障壁04的部分外觀形貌缺陷不能被檢測出來。
技術實現思路
有鑒于此，本技術的目的在于提供一種等離子顯示器rop的障壁掃描裝置，以解決現有技術中，障壁的部分外觀形貌缺陷不能被檢測出來的問題。為了達到上述目的，本技術提供如下技術方案一種等離子顯示器rop的障壁掃描裝置，其特征在于，包括掃描區域12 ；并列設置在掃描區域12頂部上方向下發射光的兩排光源,其中，一排具有第一垂直光單元，另一排具有第二垂直光單元14，及位于第二垂直光單元14兩側的傾斜光單元，第一垂直光單元與第二垂直光單元14相鄰；設置在第一垂直光單元上的第一 CXD單元；設置在第二垂直光單元14上的第二 (XD單元16 ；掃描區域12上設置被測元件障壁11。其中，傾斜光單元由左傾斜光單元151和右傾斜光單元152組成。優選的，左傾斜光單元151與右傾斜光單元152之間的夾角為60度。優選的，左傾斜光單元151與右傾斜光單元152之間的夾角為90度。優選的，左傾斜光單元151與右傾斜光單元152之間的夾角為120度。由于本技術實施例提供的一種等離子顯示器rop的障壁掃描裝置，具有兩排光源，一排具有第一垂直光單兀，另一排具有第二垂直光單兀14,以及位于垂直光單兀兩側的傾斜光單元，多角度對障壁進行照射，掃描區域頂部上方的CCD能掃描到障壁在多角度光源下的投影，從而能全面的獲取障壁的外觀形貌缺陷。附圖說明為了更清楚地說明本技術實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本技術的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。圖I是現有技術中提供的等離子顯示器rop的障壁掃描裝置示意圖；圖2是本技術中提供的一種等離子顯示器rop的障壁掃描裝置示意圖。其中，上圖I和圖2包括垂直光源01、掃描區域02、(XD03、障壁04、障壁11、掃描區域12、第二垂直光單兀 14、左傾斜光單元151、右傾斜光單元152、第二 CXD單元16。具體實施方式本技術提供了一種等離子顯示器rop的障壁掃描裝置，實現能夠將障壁的外觀形貌缺陷全部檢測出來的目的。為使本技術實施例的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本技術實施例中的附圖，對本技術實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本技術一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本技術中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本技術保護的范圍。本實施例提供的等離子顯示器rop的障壁掃描裝置中，包括掃描區域12，整個等離子顯示器rop的障壁掃描裝置掃描的場所；并列設置在掃描區域頂部上方向下發射光的兩排光源，其中，一排具有第一垂直光單元(圖中未示出)，另一排具有第二垂直光單元14，及位于第二垂直光單元兩側的傾斜光單元，第一垂直光單元與第二垂直光單元14相鄰；設置在第一垂直光單元上的第一 CXD單元；設置在第二垂直光單元14上的第二 (XD單元16 ；掃描區域12上設置被測元件障壁11。本技術實施例提供的一種等離子顯示器I3DP的障壁掃描裝置中，一排垂直光單元發射出垂直光束照射在掃描區域12上，掃描區域12上放置被測元件障壁11。與第一垂直光單元相鄰的位置設置有另一排第二垂直光單元14，第二垂直光單元14發射出垂直光束照射在掃描區域12上的被測元件障壁11上。第二垂直光單元14兩側設置有傾斜光單元，傾斜光單元發射出傾斜光束照射在掃描區域12上的被測元件障壁11上。本技術實施例提供的一種等離子顯示器rop的障壁掃描裝置中，傾斜光單元由左傾斜光單元151和右傾斜光單元152組成。左傾斜光單元151設置在第二垂直光單元14左側，右傾斜光單元152傾斜光單元設置在第二垂直光單元14右側。左傾斜光單元151、右傾斜光單元152、第二垂直光單元14在同一平面上。本技術實施例提供的一種等離子顯示器rop的障壁掃描裝置中，設置在第一垂直光單元上的第一 CCD單元掃描障壁11在第一垂直光單元照射下所得的投影。設置在第二垂直光單元14上的第二 CXD單元16掃描障壁障壁11在第二垂直光單元14、左傾斜光單元151和右傾斜光單元152下的投影。投影由第二傾斜光單元14照射障壁11所得投影，左傾斜光單元151照射障壁11所得投影和右傾斜光單元152照射障壁11所得投影疊加組成。本技術實施例中，左傾斜光單元151與右傾斜光單元152之間的夾角為60度 120度。優選的左傾斜光單元151與右傾斜光單元152之間的夾角為60度或90度或120 度。從而本技術一種等離子顯示器rop的障壁掃描裝置可以在多角度光源下對障壁進行照射，掃描區域底部下方的CCD能掃描到障壁在多角度光源下的投影，從而能全面的獲取障壁的外觀形貌缺陷。對所公開的實施例的上述說明，使本領域專業技術人員能夠實現或使用本技術。對這些實施例的多種修改對本領域的專業技術人員來說將是顯而易見的，本文中所定 義的一般原理可以在不脫離本技術的精神或范圍的情況下，在其它實施例中實現。因此，本技術將不會被限制于本文所示的這些實施例，而是要符合與本文所公開的原理和新穎特點相一致的最寬的范圍。本文檔來自技高網...

【技術保護點】
一種等離子顯示器PDP障壁掃描裝置，其特征在于，包括：掃描區域（12）；并列設置在所述掃描區域頂部上方向下發射光的兩排光源，其中，一排具有第一垂直光單元，另一排具有第二垂直光單元（14），及位于所述第二垂直光單元（14）兩側的傾斜光單元，所述第一垂直光單元與第二垂直光單元（14）相鄰；設置在所述第一垂直光單元上的第一CCD單元（13）；設置在所述第二垂直光單元（14）上的第二CCD單元（16）；所述掃描區域（12）上設置被測元件障壁（11）。

【技術特征摘要】
1.一種等離子顯示器rop障壁掃描裝置，其特征在于，包括 掃描區域(12); 并列設置在所述掃描區域頂部上方向下發射光的兩排光源，其中，一排具有第一垂直光單元，另一排具有第二垂直光單元(14)，及位于所述第二垂直光單元(14)兩側的傾斜光單元，所述第一垂直光單元與第二垂直光單元(14)相鄰； 設置在所述第一垂直光單兀上的第一 (XD單兀(13)； 設置在所述第二垂直光單元(14)上的第二 CXD單元(16)； 所述掃描區域(12)上設置被測元件障壁(1...

【專利技術屬性】
技術研發人員：何春華，
申請(專利權)人：安徽鑫昊等離子顯示器件有限公司，
類型：實用新型
國別省市：