【技術(shù)實(shí)現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及印刷電路板制造領(lǐng)域,特別是。
技術(shù)介紹
目前,在印刷電路板的生產(chǎn)過(guò)程中,檢查由設(shè)備檢查以及人工檢查組成。其中設(shè)備 檢查主要檢查線路的通斷等電氣指標(biāo),其他外形檢查等工作都由人工檢查來(lái)完成,人工檢 查的標(biāo)準(zhǔn)由人眼來(lái)判斷,需要時(shí)間長(zhǎng),并且對(duì)外型誤差尺寸標(biāo)準(zhǔn)的判斷達(dá)不到機(jī)器的精度, 在判斷良品不良品的過(guò)程中會(huì)產(chǎn)生很多誤檢,工作效率低并且增加了廢品率以及成本。
技術(shù)實(shí)現(xiàn)思路
為了解決印刷電路板外型誤差檢測(cè)困難的問(wèn)題,本專利技術(shù)提供了一種印刷電路板外 型誤差檢測(cè)方法,增加了檢測(cè)的準(zhǔn)確率,并提高了效率,降低了成本。本專利技術(shù)解決其技術(shù)問(wèn)題所采取的技術(shù)方案是,以CAM、AOI軟件以及高速線陣列相機(jī)作為工 具進(jìn)行外觀比對(duì),步驟如下1.使用高速線陣列相機(jī)對(duì)成品電路板進(jìn)行掃描,等到電路板 外型的掃描數(shù)據(jù);2.將CAM軟件設(shè)計(jì)的電路板Gerber文件通過(guò)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(AOI)軟件 轉(zhuǎn)換為高分辨率的矢量位圖格式,作為外型比對(duì)的參考;3.比較掃描出電路板外型以及轉(zhuǎn) 過(guò)的位圖中的標(biāo)準(zhǔn)外型,得出數(shù)據(jù)。本專利技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)是,經(jīng)過(guò)比對(duì)得出測(cè)量數(shù)據(jù),解決了以往電路板檢查工藝中肉眼檢 查標(biāo)準(zhǔn)模糊的問(wèn)題,提高了檢測(cè)準(zhǔn)確度以及效率,并降低了生產(chǎn)成本,提高了良品率。具體實(shí)施例方式1.使用高速線陣列相機(jī)對(duì)成品電路板進(jìn)行掃描,等到電路板外型的掃描數(shù)據(jù);2.將CAM軟件設(shè)計(jì)的電路板Gerber文件通過(guò)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)(AOI)軟件轉(zhuǎn)換為高 分辨率的矢量位圖格式,作為外型比對(duì)的參考;3.比較掃描出電路板外型以及轉(zhuǎn)過(guò)的位圖中的標(biāo)準(zhǔn)外型,得出數(shù)據(jù)。
【技術(shù)保護(hù)點(diǎn)】
一種印刷電路板外型誤差檢測(cè)方法,以CAM、AOI軟件以及高速線陣列相機(jī)作為工具進(jìn)行外觀比對(duì),其特征在于,使用高速線整列相機(jī)對(duì)成品電路板進(jìn)行掃描;將CAM軟件設(shè)計(jì)的電路板Gerber格式文件轉(zhuǎn)換為高分辨率位圖格式,作為外型比對(duì)的參考;比較掃描出電路板外型以及轉(zhuǎn)過(guò)的位圖中的標(biāo)準(zhǔn)外型。
【技術(shù)特征摘要】
1. 一種印刷電路板外型誤差檢測(cè)方法,以CAM、A0I軟件以及高速線陣列相機(jī)作為工具 進(jìn)行外觀比對(duì),其特征在于,使用高速線整列相機(jī)對(duì)成品電路板進(jìn)行...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員:吳家旺,
申請(qǐng)(專利權(quán))人:吳家旺,
類型:發(fā)明
國(guó)別省市:89[中國(guó)|沈陽(yáng)]
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