【技術(shù)實現(xiàn)步驟摘要】
本專利技術(shù)涉及數(shù)據(jù)處理的，特別涉及智能卡芯片的質(zhì)量檢測方法以及系統(tǒng)。
技術(shù)介紹
1、智能卡芯片在生產(chǎn)制造過程中，由于工藝的復(fù)雜性、原材料的差異以及設(shè)備的精度等多種因素影響，容易出現(xiàn)各種質(zhì)量問題，例如芯片內(nèi)部電路短路、開路、信號傳輸異常等。上述質(zhì)量問題會導(dǎo)致智能卡無法正常工作，如數(shù)據(jù)讀取錯誤、通信中斷等情況，給用戶和相關(guān)業(yè)務(wù)帶來嚴(yán)重的損失和不便。
2、傳統(tǒng)的智能卡芯片質(zhì)量檢測方法往往存在局限性。一些方法依賴于簡單的功能測試，即僅檢測芯片在執(zhí)行特定功能時是否正常，這種方式無法全面深入地檢測到芯片內(nèi)部潛在的信號質(zhì)量問題。另外，部分檢測手段側(cè)重于對芯片外觀或單一電氣參數(shù)的檢查，如僅檢查芯片引腳的連通性或電源電壓是否在某個固定范圍內(nèi)，而忽略了芯片在實際工作過程中復(fù)雜電信號的綜合表現(xiàn)。
3、當(dāng)前，對于智能卡芯片電信號數(shù)據(jù)的檢測與分析，缺乏從多維度信號特征角度出發(fā)的質(zhì)量檢測方法。特別是在面對復(fù)雜的芯片內(nèi)部電路和高頻數(shù)據(jù)傳輸場景下，無法有效提取并分析電信號中包含的豐富信息，無法準(zhǔn)確判斷芯片質(zhì)量問題的根源，從而無法滿足高精度智能卡芯片質(zhì)量檢測需求。
技術(shù)實現(xiàn)思路
1、本專利技術(shù)的主要目的為提供一種智能卡芯片的質(zhì)量檢測方法以及系統(tǒng)，旨在克服當(dāng)前無法準(zhǔn)確判斷芯片質(zhì)量問題的根源的缺陷。
2、為實現(xiàn)上述目的，本專利技術(shù)提供了一種智能卡芯片的質(zhì)量檢測方法，包括以下步驟：
3、采集智能卡芯片的電信號數(shù)據(jù)，得到采集數(shù)據(jù)；
4、對所述采集數(shù)據(jù)進(jìn)行特征提取處
5、將所述特征數(shù)據(jù)分類為正常特征數(shù)據(jù)和異常特征數(shù)據(jù)；
6、對各個所述異常特征數(shù)據(jù)之間的關(guān)聯(lián)關(guān)系進(jìn)行分析，得到關(guān)聯(lián)分析結(jié)果；
7、根據(jù)所述關(guān)聯(lián)分析結(jié)果進(jìn)行故障定位處理，確定智能卡芯片的質(zhì)量問題所在位置，得到質(zhì)量檢測結(jié)果。
8、進(jìn)一步地，所述采集數(shù)據(jù)包括電源信號、數(shù)據(jù)傳輸信號、電磁輻射信號。
9、進(jìn)一步地，所述對各個所述異常特征數(shù)據(jù)之間的關(guān)聯(lián)關(guān)系進(jìn)行分析，得到關(guān)聯(lián)分析結(jié)果，包括：
10、基于各個所述異常特征數(shù)據(jù)構(gòu)建關(guān)聯(lián)矩陣；其中，關(guān)聯(lián)矩陣的行和列分別對應(yīng)不同的異常特征數(shù)據(jù)，根據(jù)異常特征數(shù)據(jù)之間的相關(guān)性確定各個矩陣元素的值；
11、對所述關(guān)聯(lián)矩陣進(jìn)行主成分分析，提取關(guān)聯(lián)矩陣的主成分向量；
12、根據(jù)主成分向量的特征值大小和方向確定關(guān)聯(lián)方向和關(guān)聯(lián)強(qiáng)度，將其作為初始關(guān)聯(lián)分析結(jié)果；
13、利用貝葉斯網(wǎng)絡(luò)模型將各個所述異常特征數(shù)據(jù)作為各個節(jié)點進(jìn)行建模，確定各個節(jié)點之間的條件概率關(guān)系，通過貝葉斯推理分析不同異常特征數(shù)據(jù)同時出現(xiàn)的概率情況，基于所述概率情況對初始關(guān)聯(lián)分析結(jié)果進(jìn)行修正，得到最終的關(guān)聯(lián)分析結(jié)果。
14、進(jìn)一步地，根據(jù)所述關(guān)聯(lián)分析結(jié)果進(jìn)行故障定位處理，確定智能卡芯片的質(zhì)量問題所在位置，得到質(zhì)量檢測結(jié)果，包括：
15、將所述關(guān)聯(lián)分析結(jié)果中的異常特征數(shù)據(jù)作為樹的節(jié)點，構(gòu)建故障樹；分析各節(jié)點間的因果關(guān)系，確定故障原因組合；所述故障原因組合包括產(chǎn)生故障的信號組合；
16、獲取所述智能卡芯片的設(shè)計版圖，基于所述故障原因組合，在所述智能卡芯片中確定產(chǎn)生故障信號的目標(biāo)電路模塊；
17、通過信號注入法，驗證目標(biāo)電路模塊的是否為異常模塊；
18、若為異常模塊，則通過微電阻測試或者電容測試檢測目標(biāo)電路模塊的電氣參數(shù)，并將其與標(biāo)準(zhǔn)元件參數(shù)對比，確定質(zhì)量問題所在位置，得到質(zhì)量檢測結(jié)果。
19、進(jìn)一步地，所述采集智能卡芯片的電信號數(shù)據(jù)，包括：
20、在智能卡芯片開始工作的初始化階段，以初始采樣頻率對所有監(jiān)測點進(jìn)行粗采樣，得到粗采樣數(shù)據(jù)；所述監(jiān)測點包括芯片的電源引腳、時鐘信號引腳、數(shù)據(jù)傳輸引腳以及功能模塊間的連接點；
21、通過機(jī)器學(xué)習(xí)算法對所述粗采樣數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，識別出信號變化區(qū)域和信號穩(wěn)定區(qū)域；
22、針對所述信號變化區(qū)域，控制采樣設(shè)備以指數(shù)級增長的采樣頻率進(jìn)行采樣，直至達(dá)到預(yù)設(shè)的最高采樣頻率，以捕捉信號的快速跳變、短暫脈沖；
23、針對所述信號穩(wěn)定區(qū)域，控制采樣設(shè)備降低采樣頻率至滿足奈奎斯特定理的最低限度，以進(jìn)行采樣。
24、進(jìn)一步地，所述得到質(zhì)量檢測結(jié)果之后，包括：
25、對所述采集數(shù)據(jù)進(jìn)行編碼，得到編碼數(shù)據(jù)；其中，所述編碼數(shù)據(jù)中全部為數(shù)字字符；
26、將所述編碼數(shù)據(jù)中的字符全部添加在預(yù)設(shè)的圖結(jié)構(gòu)中，得到字符圖；其中，每個字符添加在一個節(jié)點上，相鄰節(jié)點上的字符的差值作為各個邊的值；
27、將所述編碼數(shù)據(jù)中的字符全部添加在預(yù)設(shè)的矩陣中，生成字符矩陣，將所述字符矩陣與預(yù)設(shè)數(shù)字矩陣進(jìn)行異或計算，得到異或值矩陣；
28、基于所述異或值矩陣以及所述字符圖生成一個權(quán)限碼，用于對所述采集數(shù)據(jù)以及質(zhì)量檢測結(jié)果進(jìn)行權(quán)限管理。
29、進(jìn)一步地，基于所述異或值矩陣以及所述字符圖生成一個權(quán)限碼，包括：
30、將所述異或值矩陣以及所述字符圖按照預(yù)設(shè)規(guī)則進(jìn)行疊加；所述異或值矩陣包括兩類數(shù)字，分別為第一數(shù)字以及第二數(shù)字；
31、對所述字符圖中各個節(jié)點上的字符進(jìn)行清除，并計算所述字符圖的各個邊與所述異或值矩陣中的第一數(shù)字的最近距離；
32、將最近距離小于預(yù)設(shè)值的各個邊作為目標(biāo)邊，獲取各個目標(biāo)邊上的值進(jìn)行組合，得到組合字符，作為所述權(quán)限碼。
33、本專利技術(shù)還提供了一種智能卡芯片的質(zhì)量檢測系統(tǒng)，包括：
34、采集單元，用于采集智能卡芯片的電信號數(shù)據(jù)，得到采集數(shù)據(jù)；
35、提取單元，用于對所述采集數(shù)據(jù)進(jìn)行特征提取處理，得到包括信號強(qiáng)度特征、信號頻率特征和信號波形特征的特征數(shù)據(jù)；
36、分類單元，用于將所述特征數(shù)據(jù)分類為正常特征數(shù)據(jù)和異常特征數(shù)據(jù)；
37、分析單元，用于對各個所述異常特征數(shù)據(jù)之間的關(guān)聯(lián)關(guān)系進(jìn)行分析，得到關(guān)聯(lián)分析結(jié)果；
38、定位單元，用于根據(jù)所述關(guān)聯(lián)分析結(jié)果進(jìn)行故障定位處理，確定智能卡芯片的質(zhì)量問題所在位置，得到質(zhì)量檢測結(jié)果。
39、本專利技術(shù)還提供一種計算機(jī)設(shè)備，包括存儲器和處理器，所述存儲器中存儲有計算機(jī)程序，所述處理器執(zhí)行所述計算機(jī)程序時實現(xiàn)上述任一項所述方法的步驟。
40、本專利技術(shù)還提供一種計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計算機(jī)程序，所述計算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)上述任一項所述的方法的步驟。
41、本專利技術(shù)提供的智能卡芯片的質(zhì)量檢測方法以及系統(tǒng)，包括：采集智能卡芯片的電信號數(shù)據(jù)，得到采集數(shù)據(jù)；對所述采集數(shù)據(jù)進(jìn)行特征提取處理，得到包括信號強(qiáng)度特征、信號頻率特征和信號波形特征的特征數(shù)據(jù)；將所述特征數(shù)據(jù)分類為正常特征數(shù)據(jù)和異常特征數(shù)據(jù)；對各個所述異常特征數(shù)據(jù)之間的關(guān)聯(lián)關(guān)系進(jìn)行分析，得到關(guān)聯(lián)分析結(jié)果；根據(jù)所述關(guān)聯(lián)分析結(jié)果進(jìn)行故障定位處理，確定智能卡芯片的質(zhì)量問題所在位置，得到質(zhì)量檢測結(jié)果。在本專利技術(shù)中，通過本文檔來自技高網(wǎng)...
【技術(shù)保護(hù)點】
1.一種智能卡芯片的質(zhì)量檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的智能卡芯片的質(zhì)量檢測方法，其特征在于，所述采集數(shù)據(jù)包括電源信號、數(shù)據(jù)傳輸信號、電磁輻射信號。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的智能卡芯片的質(zhì)量檢測方法，其特征在于，所述對各個所述異常特征數(shù)據(jù)之間的關(guān)聯(lián)關(guān)系進(jìn)行分析，得到關(guān)聯(lián)分析結(jié)果，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的智能卡芯片的質(zhì)量檢測方法，其特征在于，根據(jù)所述關(guān)聯(lián)分析結(jié)果進(jìn)行故障定位處理，確定智能卡芯片的質(zhì)量問題所在位置，得到質(zhì)量檢測結(jié)果，包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的智能卡芯片的質(zhì)量檢測方法，其特征在于，所述采集智能卡芯片的電信號數(shù)據(jù)，包括：
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的智能卡芯片的質(zhì)量檢測方法，其特征在于，所述得到質(zhì)量檢測結(jié)果之后，包括：
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的智能卡芯片的質(zhì)量檢測方法，其特征在于，基于所述異或值矩陣以及所述字符圖生成一個權(quán)限碼，包括：
8.一種智能卡芯片的質(zhì)量檢測系統(tǒng)，其特征在于，包括：
9.一種計算機(jī)設(shè)備，包括存儲器和處理器，所述存儲器
10.一種計算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，其上存儲有計算機(jī)程序，其特征在于，所述計算機(jī)程序被處理器執(zhí)行時實現(xiàn)權(quán)利要求1至7中任一項所述的方法的步驟。
...【技術(shù)特征摘要】
1.一種智能卡芯片的質(zhì)量檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的智能卡芯片的質(zhì)量檢測方法，其特征在于，所述采集數(shù)據(jù)包括電源信號、數(shù)據(jù)傳輸信號、電磁輻射信號。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的智能卡芯片的質(zhì)量檢測方法，其特征在于，所述對各個所述異常特征數(shù)據(jù)之間的關(guān)聯(lián)關(guān)系進(jìn)行分析，得到關(guān)聯(lián)分析結(jié)果，包括：
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的智能卡芯片的質(zhì)量檢測方法，其特征在于，根據(jù)所述關(guān)聯(lián)分析結(jié)果進(jìn)行故障定位處理，確定智能卡芯片的質(zhì)量問題所在位置，得到質(zhì)量檢測結(jié)果，包括：
5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的智能卡芯片的質(zhì)量檢測方法，其特征在于，所述采集智能卡芯片的電信號數(shù)據(jù)，包括...
【專利技術(shù)屬性】
技術(shù)研發(fā)人員：陳曦，陳真，匡宗專，
申請(專利權(quán))人：深圳金邦智芯科技有限公司，
類型：發(fā)明
國別省市：
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