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    可穿戴設備測試裝置及可穿戴設備測試方法制造方法及圖紙

    技術編號:40528045 閱讀:17 留言:0更新日期:2024-03-01 13:48
    本發明專利技術提出一種可穿戴設備測試裝置及可穿戴設備測試方法,通過同時設置ECG測試執行模塊與PPG測試執行模塊,使得能夠同時對目標設備的ECG模塊、PPG模塊進行測試;兩種測試方式共用處理模塊以及其它的相關器件,縮小占用空間的同時,降低了裝置成本;由于針對ECG模塊、PPG模塊可以同時進行,因此,能夠提高目標設備的測試效率。

    【技術實現步驟摘要】

    本專利技術涉及設備測試領域,尤其涉及一種可穿戴設備測試裝置及可穿戴設備測試方法


    技術介紹

    1、智能手表等可穿戴設備出廠前需要進行多種測試;現有的測試方式通常針對不同的功能通過不同的測試設備進行獨立測試;占用空間較多、成本高、測試效率較低。


    技術實現思路

    1、本專利技術的主要目的在于提出一種可穿戴設備測試裝置及可穿戴設備測試方法,旨在解決現有技術中可穿戴設備測試成本高、效率低下的問題。

    2、為實現上述目的,本專利技術提供一種可穿戴設備測試裝置,所述測試裝置在進行測試時與目標設備連接;所述測試裝置包括處理模塊、ecg測試執行模塊、ppg測試執行模塊;所述處理模塊分別與所述ecg測試執行模塊的控制端、所述ppg測試執行模塊的控制端以及所述目標設備的通信端連接;所述ecg測試執行模塊的輸出端與所述目標設備的ecg電極連接,所述ppg測試執行模塊與所述目標設備的ppg模塊對應設置;其中:

    3、所述處理模塊,用于觸發第一控制信號,并將所述第一控制信號發送至所述ecg測試執行模塊,其中,所述第一控制信號指示ecg測試步驟;

    4、所述ecg測試執行模塊,用于根據所述第一控制信號發送模擬信號至所述目標設備的ecg電極,以使所述目標設備基于所述模擬信號輸出第一檢測信號至所述處理模塊;

    5、所述處理模塊,還用于觸發第二控制信號,并將所述第二控制信號發送至所述ppg測試執行模塊,其中,所述第二控制信號指示ppg測試步驟;

    6、所述ppg測試執行模塊,用于根據所述第二控制信號切換所述ppg模塊的感光狀態;

    7、所述處理模塊,還用于觸發第三控制信號,并將所述第三控制信號發送至所述目標設備,以接收所述目標設備在ppg模塊處于不同的感光狀態下返回與所述第三控制信號對應的第二檢測信號;

    8、所述處理模塊,還用于根據所述第一檢測信號對所述目標設備的ecg模塊進行測試,根據所述第二檢測信號對所述ppg模塊進行測試。

    9、此外,為實現上述目的,本專利技術還提供一種可穿戴設備測試方法,所述可穿戴設備測試方法應用于如上所述的可穿戴設備測試裝置,所述可穿戴設備測試方法包括:

    10、通過處理模塊觸發第一控制信號,并將所述第一控制信號發送至所述ecg測試執行模塊,其中,所述第一控制信號指示ecg測試步驟;

    11、通過所述ecg測試執行模塊根據所述第一控制信號發送模擬信號至所述目標設備的ecg電極,以使所述目標設備基于所述模擬信號輸出第一檢測信號至所述處理模塊;

    12、通過所述處理模塊觸發第二控制信號,并將所述第二控制信號發送至所述ppg測試執行模塊,其中,所述第二控制信號指示ppg測試步驟;

    13、通過所述ppg測試執行模塊根據所述第二控制信號切換所述ppg模塊的感光狀態;

    14、通過所述處理模塊觸發第三控制信號,并將所述第三控制信號發送至所述目標設備,以接收所述目標設備在ppg模塊處于不同的感光狀態下返回與所述第三控制信號對應的第二檢測信號;

    15、通過處理模塊根據所述第一檢測信號對所述ecg模塊進行測試,根據所述第二檢測信號對所述ppg模塊進行測試。

    16、本專利技術提出的一種可穿戴設備測試裝置及可穿戴設備測試方法,通過同時設置ecg測試執行模塊與ppg測試執行模塊,使得能夠同時對目標設備的ecg模塊、ppg模塊進行測試;兩種測試方式共用處理模塊以及其它的相關器件,縮小占用空間的同時,降低了裝置成本;由于針對ecg模塊、ppg模塊可以同時進行,因此,能夠提高目標設備的測試效率。

    本文檔來自技高網...

    【技術保護點】

    1.一種可穿戴設備測試裝置,其特征在于,所述測試裝置在進行測試時與目標設備連接;所述測試裝置包括處理模塊、ECG測試執行模塊、PPG測試執行模塊;所述處理模塊分別與所述ECG測試執行模塊的控制端、所述PPG測試執行模塊的控制端以及所述目標設備的通信端連接;所述ECG測試執行模塊的輸出端與所述目標設備的ECG電極連接,所述PPG測試執行模塊與所述目標設備的PPG模塊對應設置;其中:

    2.如權利要求1所述的可穿戴設備測試裝置,其特征在于,所述處理模塊包括通信單元、信號處理單元以及指令輸出單元;所述信號處理單元分別與所述通信單元、指令輸出單元連接,所述通信單元與所述目標設備通信連接,所述指令輸出單元分別與所述ECG測試執行模塊以及所述PPG測試執行模塊連接;其中:

    3.如權利要求2所述的可穿戴設備測試裝置,其特征在于,所述通信單元包括信號輸入子單元,所述信號輸入子單元包括高阻抗電壓跟隨放大電路、斬波自調零電路、濾波電路以及負反饋斬波放大電路;其中:

    4.如權利要求3所述的可穿戴設備測試裝置,其特征在于,所述高阻抗電壓跟隨放大電路包括第一采樣子電路、第二采樣子電路;

    5.如權利要求3所述的可穿戴設備測試裝置,其特征在于,所述斬波自調零電路包括差分放大子電路、斬波放大子電路、第一高通濾波子電路以及斬波解調子電路;其中:

    6.如權利要求5所述的可穿戴設備測試裝置,其特征在于,所述差分放大子電路包括第三電阻、第四電阻、第一開關管、第二開關管以及第三開關管;其中:

    7.如權利要求5所述的可穿戴設備測試裝置,其特征在于,所述斬波放大子電路包括第一斬波開關、第一電容、第二電容、第五電阻~第八電阻以及第二運放;其中:

    8.如權利要求5所述的可穿戴設備測試裝置,其特征在于,所述第一高通濾波子電路包括第三電容、第四電容、第九電阻~第十二電阻以及第三運放;其中:

    9.如權利要求3所述的可穿戴設備測試裝置,其特征在于,所述負反饋斬波放大電路包括第二高通濾波子電路、積分子電路以及第一低通濾波子電路;其中:

    10.如權利要求9所述的可穿戴設備測試裝置,其特征在于,所述第二高通濾波子電路包括第四運放、第五電容、第六電容、第十三電阻~第十六電阻;其中:

    11.如權利要求9所述的可穿戴設備測試裝置,其特征在于,所述積分子電路包括第十七電阻、第五運放以及第七電容;其中:

    12.如權利要求9所述的可穿戴設備測試裝置,其特征在于,所述第一低通濾波子電路包括第三斬波開關、第四斬波開關、第六運放、第十八電阻~第二十一電阻以及第八電容;其中:

    13.如權利要求3所述的可穿戴設備測試裝置,其特征在于,所述濾波電路包括第二低通濾波子電路、帶通濾波子電路、可編程放大子電路以及模數轉換器;其中:

    14.如權利要求13所述的可穿戴設備測試裝置,其特征在于,所述第二低通濾波子電路包括第七運放、第二十二電阻~第二十五電阻、第九電容以及第十電容;其中:

    15.如權利要求13所述的可穿戴設備測試裝置,其特征在于,所述帶通濾波子電路包括第八運放、第十一電容~第十三電容、第二十六電阻~第三十電阻;其中:

    16.如權利要求1所述的可穿戴設備測試裝置,其特征在于,所述ECG測試執行模塊包括信號發生單元以及多個控制開關;所述信號發生單元的控制端作為所述ECG測試執行模塊的控制端,所述信號發生單元的輸出端分別通過各所述控制開關與所述目標設備的ECG電極連接;其中:

    17.如權利要求1所述的可穿戴設備測試裝置,其特征在于,所述PPG測試執行模塊包括遮光單元、反光單元以及動作單元;所述動作單元的控制端作為所述PPG測試執行模塊的控制端,所述動作單元與所述遮光單元、所述反光單元連接;其中:

    18.一種可穿戴設備測試方法,其特征在于,所述可穿戴設備測試方法應用于如權利要求1~17中任一項所述的可穿戴設備測試裝置,所述可穿戴設備測試方法包括:

    ...

    【技術特征摘要】

    1.一種可穿戴設備測試裝置,其特征在于,所述測試裝置在進行測試時與目標設備連接;所述測試裝置包括處理模塊、ecg測試執行模塊、ppg測試執行模塊;所述處理模塊分別與所述ecg測試執行模塊的控制端、所述ppg測試執行模塊的控制端以及所述目標設備的通信端連接;所述ecg測試執行模塊的輸出端與所述目標設備的ecg電極連接,所述ppg測試執行模塊與所述目標設備的ppg模塊對應設置;其中:

    2.如權利要求1所述的可穿戴設備測試裝置,其特征在于,所述處理模塊包括通信單元、信號處理單元以及指令輸出單元;所述信號處理單元分別與所述通信單元、指令輸出單元連接,所述通信單元與所述目標設備通信連接,所述指令輸出單元分別與所述ecg測試執行模塊以及所述ppg測試執行模塊連接;其中:

    3.如權利要求2所述的可穿戴設備測試裝置,其特征在于,所述通信單元包括信號輸入子單元,所述信號輸入子單元包括高阻抗電壓跟隨放大電路、斬波自調零電路、濾波電路以及負反饋斬波放大電路;其中:

    4.如權利要求3所述的可穿戴設備測試裝置,其特征在于,所述高阻抗電壓跟隨放大電路包括第一采樣子電路、第二采樣子電路;

    5.如權利要求3所述的可穿戴設備測試裝置,其特征在于,所述斬波自調零電路包括差分放大子電路、斬波放大子電路、第一高通濾波子電路以及斬波解調子電路;其中:

    6.如權利要求5所述的可穿戴設備測試裝置,其特征在于,所述差分放大子電路包括第三電阻、第四電阻、第一開關管、第二開關管以及第三開關管;其中:

    7.如權利要求5所述的可穿戴設備測試裝置,其特征在于,所述斬波放大子電路包括第一斬波開關、第一電容、第二電容、第五電阻~第八電阻以及第二運放;其中:

    8.如權利要求5所述的可穿戴設備測試裝置,其特征在于,所述第一高通濾波子電路包括第三電容、第四電容、第九電阻~第十二電阻以及第三運放;其中:

    9.如權利要求3所述的可穿戴設備測試裝置,其特征在...

    【專利技術屬性】
    技術研發人員:陳龍
    申請(專利權)人:立訊智造浙江有限公司
    類型:發明
    國別省市:

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